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HIGH RESOLUTION, HIGH SENSITIVITY MOIRE METHOD
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作者 王朝阳 戴福隆 蒋小林 《Acta Mechanica Sinica》 SCIE EI CAS CSCD 1999年第2期176-181,共6页
Based on geometric moire method, moire interferometry and microscopic moire interferometry, a high spatial resolution and high sensitivity geometric microscopic moire method is presented. Geometric micron-moire patter... Based on geometric moire method, moire interferometry and microscopic moire interferometry, a high spatial resolution and high sensitivity geometric microscopic moire method is presented. Geometric micron-moire patterns are produced by the superposition of two high frequency gratings through a microscope system. Compared with other grating-based photo-mechanics methods, microscopic moire method could provide whole-field moire patterns of both high spatial resolution and high sensitivity. The frequency of specimen and reference gratings used in this method can be from 1 line/mm to 10000 lines/mm. Additionally, a 4F optical filter system is used to enhance the contrast of microscopic moire patterns effectively. 展开更多
关键词 high spatial resolution high sensitivity geometric moire microscopE
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微电子机械系统(MEMS)面内位移的扫描离子束云纹法实验研究
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作者 谢惠民 戴福隆 +1 位作者 尚海霞 李标 《实验力学》 CSCD 北大核心 2003年第1期12-16,共5页
本文提出应用扫描离子束云纹法测量微电子机械系统面内变形的新方法.对该方法的测量原理以及实验技术进行了详尽地阐述.通过平行云纹典型实验对本方法的测量精度进行了检验.成功地将扫描离子束云纹法应用于微悬臂梁表面氧化层随时间生... 本文提出应用扫描离子束云纹法测量微电子机械系统面内变形的新方法.对该方法的测量原理以及实验技术进行了详尽地阐述.通过平行云纹典型实验对本方法的测量精度进行了检验.成功地将扫描离子束云纹法应用于微悬臂梁表面氧化层随时间生长所引起的变形测量.实验结果表明了该方法的可行性. 展开更多
关键词 扫描离子束云纹法 高频光栅 应变 微电子机械系统 面内变形
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