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Study of quantum well mixing induced by impurity-free vacancy in the primary epitaxial wafers of a 915 nm semiconductor laser
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作者 Tianjiang He Suping Liu +5 位作者 Wei Li Li Zhong Xiaoyu Ma Cong Xiong Nan Lin Zhennuo Wang 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 2023年第10期70-76,共7页
Output power and reliability are the most important characteristic parameters of semiconductor lasers.However,catas-trophic optical damage(COD),which usually occurs on the cavity surface,will seriously damage the furt... Output power and reliability are the most important characteristic parameters of semiconductor lasers.However,catas-trophic optical damage(COD),which usually occurs on the cavity surface,will seriously damage the further improvement of the output power and affect the reliability.To improve the anti-optical disaster ability of the cavity surface,a non-absorption window(NAW)is adopted for the 915 nm InGaAsP/GaAsP single-quantum well semiconductor laser using quantum well mix-ing(QWI)induced by impurity-free vacancy.Both the principle and the process of point defect diffusion are described in detail in this paper.We also studied the effects of annealing temperature,annealing time,and the thickness of SiO_(2) film on the quan-tum well mixing in a semiconductor laser with a primary epitaxial structure,which is distinct from the previous structures.We found that when compared with the complete epitaxial structure,the blue shift of the semiconductor laser with the primary epi-taxial structure is larger under the same conditions.To obtain the appropriate blue shift window,the primary epitaxial struc-ture can use a lower annealing temperature and shorter annealing time.In addition,the process is less expensive.We also pro-vide references for upcoming device fabrication. 展开更多
关键词 catastrophic optical damage primary epitaxial structure impurity-free vacancy disordering quantum well intermixing non-absorption window
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氧等离子体表面处理对AlGaN/GaN HEMT欧姆接触的影响 被引量:2
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作者 李鹏飞 魏淑华 +4 位作者 康玄武 张静 吴昊 孙跃 郑英奎 《半导体技术》 CAS 北大核心 2021年第2期134-138,168,共6页
采用电感耦合等离子体(ICP)刻蚀系统,研究了氧等离子体表面处理对AlGaN/GaN HEMT欧姆接触电阻的影响。利用能量色散X射线光谱仪、光致发光谱和原子力显微镜以及电学测试设备对处理前后样品进行表征分析。结果表明,在最佳的氧等离子体处... 采用电感耦合等离子体(ICP)刻蚀系统,研究了氧等离子体表面处理对AlGaN/GaN HEMT欧姆接触电阻的影响。利用能量色散X射线光谱仪、光致发光谱和原子力显微镜以及电学测试设备对处理前后样品进行表征分析。结果表明,在最佳的氧等离子体处理条件(ICP功率250 W,射频功率60 W,压强0.8 Pa,氧气流量30 cm^(3)/min,时间5 min)下,欧姆接触电阻为0.41Ω·mm,比参照样品接触电阻降低了约69%。分析认为经过氧等离子体处理后,在近表面处产生了一定数量的N空位缺陷,这些N空位表现为浅能级施主掺杂,有利于欧姆接触的形成。通过采用氧等离子体表面处理工艺制备的AlGaN/GaN HEMT,在+2 V的栅极偏压下获得了0.77 A/mm的最大漏极饱和电流。 展开更多
关键词 AlGaN/GaN HEMT 欧姆接触 氧等离子体 N空位 电感耦合等离子体(ICP)刻蚀
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ICP刻蚀对p-GaN表面改性及接触的影响
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作者 邓俊静 齐胜利 +3 位作者 陈志忠 田朋飞 郝茂盛 张国义 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第S1期143-146,共4页
采用不同条件的等离子体(O2、Cl2)对p-GaN样品进行刻蚀,通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线光电子能谱(XPS)、阴极荧光谱(CL)、光致发光光谱(PL)、电流-电压(I-V)等方法详细研究了等离子体刻蚀对p-GaN表面改性及接触的影响。研究发现,经O2... 采用不同条件的等离子体(O2、Cl2)对p-GaN样品进行刻蚀,通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线光电子能谱(XPS)、阴极荧光谱(CL)、光致发光光谱(PL)、电流-电压(I-V)等方法详细研究了等离子体刻蚀对p-GaN表面改性及接触的影响。研究发现,经O2等离子体刻蚀后,样品的Ga/N降低,PL谱的蓝带发生蓝移,说明刻蚀减小了p-GaN中与Mg相关的自补偿作用,使得更多的Mg原子起到受主作用。另外,样品经O2等离子体处理后在表面形成了一层严重影响接触欧姆特性的氧化层,但此氧化层可经Cl2等离子体刻蚀后得到有效的去除。 展开更多
关键词 感应耦合等离子体 氮空位 蓝带
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不同Al组分的扩散阻挡层对无杂质空位诱导量子阱混杂的影响 被引量:2
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作者 张娜玲 井红旗 +3 位作者 袁庆贺 仲莉 刘素平 马骁宇 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第24期40-46,共7页
为了获得更好的量子阱混杂效果,深入探讨了不同Al组分的扩散阻挡层对无杂质空位诱导量子阱混杂的影响。首先在两种不同Al组分外延片表面上分别生长了一层200nm厚的SiO_(2)介质薄膜,然后在865~905℃温度范围内,进行了90s的高温快速热退... 为了获得更好的量子阱混杂效果,深入探讨了不同Al组分的扩散阻挡层对无杂质空位诱导量子阱混杂的影响。首先在两种不同Al组分外延片表面上分别生长了一层200nm厚的SiO_(2)介质薄膜,然后在865~905℃温度范围内,进行了90s的高温快速热退火处理。实验结果表明,低铝结构的波长蓝移量更大,且光致发光(Photoluminescence,PL)谱的强度下降更小,这说明在无杂质空位诱导量子阱混杂中,外延结构中的Al和Ga对点缺陷扩散的影响是不同的,Ga更有利于点缺陷的扩散。研究结果为无杂质空位诱导量子阱混杂的理论研究及器件的外延结构设计提供了参考。 展开更多
关键词 材料 高铝结构 低铝结构 无杂质空位诱导 量子阱混杂 波长蓝移
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