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基于磁控溅射法制备的大面积高质量硒化铂薄膜及其在红外探测中的应用
1
作者
夏丰田
王东博
+12 位作者
曹伽牧
曾值
张冰珂
潘静文
刘东昊
刘思航
赵晨晨
矫淑杰
陈天媛
刘罡
方铉
赵连城
王金忠
《Science China Materials》
SCIE
EI
CAS
CSCD
2024年第7期2293-2301,共9页
PtSe_(2)因其可调的带隙、高载流子迁移率和较高的光吸收率在红外探测领域受到广泛的研究和关注.然而,传统的制备方法存在生长条件复杂、生长时间长、铂源和硒源的选择性较低、晶体质量不高、成本昂贵以及大规模制造困难等缺点,限制了...
PtSe_(2)因其可调的带隙、高载流子迁移率和较高的光吸收率在红外探测领域受到广泛的研究和关注.然而,传统的制备方法存在生长条件复杂、生长时间长、铂源和硒源的选择性较低、晶体质量不高、成本昂贵以及大规模制造困难等缺点,限制了其实际应用.在此,我们采用了一种便捷、低成本的磁控共溅射法来制备大面积、高质量的PtSe_(2)薄膜.在不同温度下生长的薄膜的表面形貌和微观结构表征结果表明,我们制备的PtSe_(2)薄膜具有良好的结晶性、可控性、均匀性、较窄带隙和优异的红外波段吸收特性,同时我们还研究了最合适的衬底和生长温度.基于PtSe_(2)的光电探测器展示出良好的红外探测能力和较快的响应速度.尤其值得注意的是,相比于传统制备方法,本研究提出的制备方法的制备时间非常短,为PtSe_(2)大规模应用于下一代红外探测,并与现有的硅技术兼容提供了有益的指导.
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关键词
infrared
detection
material
two-dimensional
mate-rial
transition
metal
dichalcogenides
topological
semi-metal
原文传递
题名
基于磁控溅射法制备的大面积高质量硒化铂薄膜及其在红外探测中的应用
1
作者
夏丰田
王东博
曹伽牧
曾值
张冰珂
潘静文
刘东昊
刘思航
赵晨晨
矫淑杰
陈天媛
刘罡
方铉
赵连城
王金忠
机构
School of Materials Science and Engineering
School of Astronautics
Center for High Pressure Science and Technology Advanced Research
Changchun University Science and Technology
出处
《Science China Materials》
SCIE
EI
CAS
CSCD
2024年第7期2293-2301,共9页
基金
supported by the National Key Research and Development Program of China(2019YFA0705201)
the National Natural Science Foundation of China(U2032129).
文摘
PtSe_(2)因其可调的带隙、高载流子迁移率和较高的光吸收率在红外探测领域受到广泛的研究和关注.然而,传统的制备方法存在生长条件复杂、生长时间长、铂源和硒源的选择性较低、晶体质量不高、成本昂贵以及大规模制造困难等缺点,限制了其实际应用.在此,我们采用了一种便捷、低成本的磁控共溅射法来制备大面积、高质量的PtSe_(2)薄膜.在不同温度下生长的薄膜的表面形貌和微观结构表征结果表明,我们制备的PtSe_(2)薄膜具有良好的结晶性、可控性、均匀性、较窄带隙和优异的红外波段吸收特性,同时我们还研究了最合适的衬底和生长温度.基于PtSe_(2)的光电探测器展示出良好的红外探测能力和较快的响应速度.尤其值得注意的是,相比于传统制备方法,本研究提出的制备方法的制备时间非常短,为PtSe_(2)大规模应用于下一代红外探测,并与现有的硅技术兼容提供了有益的指导.
关键词
infrared
detection
material
two-dimensional
mate-rial
transition
metal
dichalcogenides
topological
semi-metal
Keywords
infrared detection material
two-dimensional
material
transition metal dichalcogenides
topological semi-metal
分类号
TN215 [电子电信—物理电子学]
TB383.2 [一般工业技术—材料科学与工程]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于磁控溅射法制备的大面积高质量硒化铂薄膜及其在红外探测中的应用
夏丰田
王东博
曹伽牧
曾值
张冰珂
潘静文
刘东昊
刘思航
赵晨晨
矫淑杰
陈天媛
刘罡
方铉
赵连城
王金忠
《Science China Materials》
SCIE
EI
CAS
CSCD
2024
0
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