本文提出了集成电路最优化中综合考虑成品率极大、最佳容差设计、调整设计和生产效益极大化设计的统计最优化模型(Design Centering,Tolerance and Tuning.简称DCTT模型)。讨论了该模型与广义统计最优化模型的等价性以及其他主要性质。...本文提出了集成电路最优化中综合考虑成品率极大、最佳容差设计、调整设计和生产效益极大化设计的统计最优化模型(Design Centering,Tolerance and Tuning.简称DCTT模型)。讨论了该模型与广义统计最优化模型的等价性以及其他主要性质。在确定性最优化框架下,该模型为统计最优化和集成电路可制造性设计的进一步发展开辟了新途径。展开更多
文摘本文提出了集成电路最优化中综合考虑成品率极大、最佳容差设计、调整设计和生产效益极大化设计的统计最优化模型(Design Centering,Tolerance and Tuning.简称DCTT模型)。讨论了该模型与广义统计最优化模型的等价性以及其他主要性质。在确定性最优化框架下,该模型为统计最优化和集成电路可制造性设计的进一步发展开辟了新途径。