合成孔径雷达相干与非相干干扰性能分析

推导了合成孔径雷达(synthetic aperture radar,SAR)非相干干扰、一维卷积干扰和二维相干干扰成像前后的功率表达式,建立了成像处理增益(imaging processing gain,IPG)关于SAR系统参数和干扰区面积的关系模型和干信比(interference-signal power rate,ISR)方程。分析结果表明,在一定范围内,相干干扰的IPG随干扰区面积增大而减小,当一维卷积干扰的干扰区宽度大于SAR成像前距离分辨率时,其IPG与非相干干扰相同,当二维相干干扰的干扰区宽度和长度分别大于SAR成像前距离分辨率和方位分辨率时,其IPG与非相干干扰之比等于方位过采样率,3种干扰的ISR与IPG具有相同特性。仿真验证分析了所得出的结论。