k_0-NAA样品测量架位自动调节和半参量化效率计算

设计了中子活化自动换样和架位精密调节系统。实现了任意衰变纲图的γ发射核在源-探测器为0～280mm范围内不同测量位置的效率测定,提出了解决k0法不同测量几何的效率归一以及级联符合校正的半参量化方法。对于源与探测器距离较远的位置(符合效应可忽略),采用有效作用深度进行效率计算;对于源与探测器距离较近的位置(符合效应不能忽略),采用实验测得不同位置的效率比进行计算。