35kV干式空心电抗器下工频磁场抑制

针对35kV干式空心电抗器下磁场较强,对周围电磁环境的影响较为突出的问题,采取了一种施加高电导率屏蔽防护体的方法来有效地减小其周围工频磁场的大小。在建立的分析模型基础上,利用混合有限元的方法,计算和分析了干式空心电抗器在采取屏蔽防护体措施后不同情形下的工频磁场分布情况,并分析了施加某屏蔽体后对电抗器电抗参数和能量损耗的影响。结果表明,所采取的屏蔽防护方法能显著地降低干式空心电抗器下方区域的工频磁场强度,且对电抗参数的影响和屏蔽体的能量损耗都在容许及可接受的范围。

35 kV干式空心并联电抗器匝间绝缘材料特性分析

深入开展35 kV干式空心并联电抗器匝间绝缘材料特性分析研究,对35 kV干式空心电抗器制造材料选择、工艺改进和运维方式具有重要意义。为此,文中研究了不同热老化程度和吸湿对电抗器匝间绝缘材料聚酯薄膜介电特性的影响。通过研究发现:不同老化温度(110、130℃)下,干燥的聚酯薄膜相对介电常数、介质损耗正切值和电导率在老化后期(120 d)都呈现增大的趋势。在较高老化温度下,样品介质损耗正切值增加更加明显。不同老化温度下,吸湿对相对介电常数的影响结果不同。在不同老化程度下,吸湿后的样品其低频下介质损耗正切值仍然呈现增加的趋势,但在高频下其值有所减小。

35KV干式电抗器中绕组涡流损耗对温度场影响的研究

35KV干式并联空心电抗器在电力系统应用中越来越广泛,其运行事故的发生给电力系统安全带来很多问题。局部过热是引发电抗器故障的重要原因之一,电抗器的发热主要是由导线自身电阻损耗和导线的涡流损耗引起,因此对电抗器绕组中涡流损耗的分析计算是十分重要的。本文将考虑绕组因为涡流效应所产生的损耗,并利用ANSYS Workbench仿真软件对35KV并联干式空心电抗器进行三维流场—温度场耦合计算,仿真出电抗器的温度场分布。分析讨论绕组涡流损耗对温度场的影响。

35 kV并联电抗器中性线发热问题分析与处理

干式空心电抗器在电力系统中起着重要作用,但其运行温度过高会威胁电网安全。以一起35kV干式电抗器中性线发热缺陷为例,分析发热原因为闭合金属环路中的环流引起,采取措施进行现场处理。针对运行中的干式电抗器可能出现的问题提出处理建议,为电能质量的稳定提供保障。