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Flip Chip Die-to-Wafer Bonding Review:Gaps to High Volume Manufacturing
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作者 Mario Di Cino Feng Li 《Semiconductor Science and Information Devices》 2022年第1期8-13,共6页
Flip chip die-to-wafer bonding faces challenges for industry adoption due to a variety of technical gaps or process integration factors that are not fully developed to high volume manufacturing(HVM)maturity.In this pa... Flip chip die-to-wafer bonding faces challenges for industry adoption due to a variety of technical gaps or process integration factors that are not fully developed to high volume manufacturing(HVM)maturity.In this paper,flip-chip and wire bonding are compared,then flip-chip bonding techniques are compared to examine advantages for scaling and speed.Specific recent 3-year trends in flip-chip die-to-wafer bonding are reviewed to address the key gaps and challenges to HVM adoption.Finally,some thoughts on the care needed by the packaging technology for successful HVM introduction are reviewed. 展开更多
关键词 Flip chip die-to-Wafer(D2W) Chip-to-Wafer(C2W) Chip-scale packaging(CSP) High volume manufacturing(HVM) known good die(KGD) Through silicon via(TSV) Reliability
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KGD质量和可靠性保障技术 被引量:11
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作者 黄云 恩云飞 +1 位作者 师谦 罗宏伟 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第5期40-43,共4页
通过裸芯片可靠性保障技术研究,在国内形成了一部完整的已知良好芯片(KGD)质量与可靠性保证程序,建立了从裸芯片到KGD的质量与可靠性保证系统,确立了裸芯片测试、老化和评价技术,实现了工作温度为-55~+125℃的裸芯片静态、动态工作频... 通过裸芯片可靠性保障技术研究,在国内形成了一部完整的已知良好芯片(KGD)质量与可靠性保证程序,建立了从裸芯片到KGD的质量与可靠性保证系统,确立了裸芯片测试、老化和评价技术,实现了工作温度为-55~+125℃的裸芯片静态、动态工作频率小于100MHz的测试和工作频率小于3MHz的125℃动态老化筛选,可保障裸芯片在技术指标和可靠性指标上达到封装成品的等级要求。 展开更多
关键词 已知良好芯片 质量 可靠性 测试 老化
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KGD技术发展与挑战 被引量:5
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作者 恩云飞 黄云 《电子质量》 2003年第9期U002-U004,共3页
军用和民用电子系统中模块化和小型化发展的迫切需求使裸芯片在国内有着广泛的用途和市场,尤其是在军用HIC和MCM应用领域,裸芯片质量和可靠性保证一直是人们关注的热点。本文论述了国外KGD技术发展现状,以及国内发展KGD技术面临的机遇... 军用和民用电子系统中模块化和小型化发展的迫切需求使裸芯片在国内有着广泛的用途和市场,尤其是在军用HIC和MCM应用领域,裸芯片质量和可靠性保证一直是人们关注的热点。本文论述了国外KGD技术发展现状,以及国内发展KGD技术面临的机遇与挑战。论述了已知良好芯片(KGD)保证的主要技术要求,重点介绍了KGD夹具技术和工艺流程,为国内KGD技术的发展提供了技术指导。 展开更多
关键词 KGD技术 产品质量 可靠性 已知良好芯片 裸芯片
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崭露头角的系统封装
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作者 林金堵 《印制电路信息》 2008年第5期9-12,共4页
文章概述了系统封装(SIP)的概念、特点和问题点。着重指出,系统封装(SIP)是由MCM和MCP深入发展和改革而发展起来的。系统封装(SIP)技术是电子产品的组装技术和走向微小型化的未来。
关键词 系统封装 多芯片模块 多芯片封装 系统功能 确认好的裸芯片
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裸芯片老化技术评价 被引量:3
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作者 刘林春 孔学东 《电子质量》 2007年第2期28-30,共3页
老化可以筛选出裸芯片的潜在缺陷并因此改善产品的外在质量与可靠性。同时,老化也是非常耗时与耗费人力的。如果对产品的可靠性水平要求较低,要想低成本获得已知良好芯片(KGD),一般是不采用老化程序,但如果想获得高可靠KGD,一定程度的... 老化可以筛选出裸芯片的潜在缺陷并因此改善产品的外在质量与可靠性。同时,老化也是非常耗时与耗费人力的。如果对产品的可靠性水平要求较低,要想低成本获得已知良好芯片(KGD),一般是不采用老化程序,但如果想获得高可靠KGD,一定程度的老化是必不可少的。本文将介绍老化的三种通用方法并进行了比较分析。 展开更多
关键词 已知良好芯片(KGD) 老化 圆片级老化(WLBI)
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功率裸芯片的测试与老化筛选技术
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作者 刘林春 孔学东 黄云 《电子产品可靠性与环境试验》 2007年第6期31-34,共4页
由于存在高温度、大电流等问题,传统的测试与老化筛选功率管的方法不能完全适用于功率裸芯片。介绍了采用临时封装夹具来测试与老化筛选功率裸芯片的技术,并根据功率裸芯片的实际情况,阐述了测试与筛选功率裸芯片的方法。
关键词 已知良好芯片 功率裸芯片 老化
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高带宽存储器测试技术研究
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作者 钟伟军 吴迪 孔宪伟 《信息技术与标准化》 2022年第7期28-32,36,共6页
针对高带宽存储器(HBM)测试工程化实现的技术难题,重点研究了HBM的基本结构,分析了测试难点,从测试流程和测试项两个角度对比了DDR SDRAM与HBM两者的差异,并总结了底层逻辑硅片测试、TSV连接性测试、堆叠物理层测试和性能测试等HBM测试... 针对高带宽存储器(HBM)测试工程化实现的技术难题,重点研究了HBM的基本结构,分析了测试难点,从测试流程和测试项两个角度对比了DDR SDRAM与HBM两者的差异,并总结了底层逻辑硅片测试、TSV连接性测试、堆叠物理层测试和性能测试等HBM测试所包含的核心技术。提出了HBM测试中关键实施步骤及其技术要求,为制定HBM产品工程化量产测试方案提供了参考。 展开更多
关键词 高带宽存储器 存储墙 硅通孔技术 微凸点 已知合格堆叠硅片
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