硅点阵常数精确测定及系统误差处理

精确测定点阵常数是研究结晶材料的重要方法之一，对于研究相变过程、晶体的缺陷和应力状态等均有重要意义。本实验除对晶体硅的点阵常数进行了精确测定外，仪器的系统误差对测定精度的影响也进行了测量、分析，并对测量结果给予了修正。