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Improved device reliability in organic light emitting devices by controlling the etching of indium zinc oxide anode
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作者 廖英杰 娄艳辉 +1 位作者 王照奎 廖良生 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2014年第11期634-638,共5页
A controllable etching process for indium zinc oxide (IZO) films was developed by using a weak etchant of oxalic acid with a slow etching ratio. With controllable etching time and temperature, a patterned IZO electr... A controllable etching process for indium zinc oxide (IZO) films was developed by using a weak etchant of oxalic acid with a slow etching ratio. With controllable etching time and temperature, a patterned IZO electrode with smoothed surface morphology and slope edge was achieved. For the practical application in organic light emitting devices (OLEDs), a sup- pression of the leak current in the current-voltage characteristics of OLEDs was observed. It resulted in a 1.6 times longer half lifetime in the IZO-based OLEDs compared to that using an indium tin oxide (ITO) anode etched by a conventional strong etchant of aqua regia. 展开更多
关键词 indium zinc oxide (IZO) organic light emitting device (OLED) leak current LIFETIME
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锌锅漏锌原因分析
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作者 王洪如 刘康 +1 位作者 王利峰 朱玲 《机械设计与制造工程》 2013年第4期83-85,共3页
采用宏观观察、化学成分分析、扫描电镜断口观察和能谱分析、显微组织检验等方法对某企业漏锌锌锅进行分析。结果表明:一方面由于底板热加工工艺不当、锌锅底板组织中的渗碳体呈片状沿晶界析出使材料脆化,同时晶界处局部碳富集,使材料... 采用宏观观察、化学成分分析、扫描电镜断口观察和能谱分析、显微组织检验等方法对某企业漏锌锌锅进行分析。结果表明:一方面由于底板热加工工艺不当、锌锅底板组织中的渗碳体呈片状沿晶界析出使材料脆化,同时晶界处局部碳富集,使材料出现沿晶锌腐蚀,造成晶界强度的弱化并产生微裂纹;另一方面由于镀锌生产工艺不当,锌锅的温度不均匀和局部温度过高加速了锌腐蚀并存在较大的热应力,以上两方面的共同作用导致锌锅产生应力腐蚀开裂并最终引起锌锅泄漏。 展开更多
关键词 锌锅 漏锌 应力腐蚀
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工频感应电炉感应器耐火材料的改进与应用
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作者 李绍亦 王劲松 单忠伟 《有色矿冶》 2003年第2期44-45,共2页
介绍了葫芦岛锌厂工频感应电炉感应器的基本工作原理及其故障原因 ,指出其关键在于耐火材料的选用 ,同时介绍了耐火材料的改进 ,取得了良好的应用效果。
关键词 工频感应电炉 感应器 耐火材料 熔沟 干燥 漏锌 龟裂 炼锌
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