F-P腔锁频压窄窄线宽激光器输出波长精度测试

基于谐振式光纤陀螺系统要求窄线宽、高稳定性激光输出以满足谐振信号频差检测要求,设计了两种不同光路锁频系统并搭建了测试平台,利用波长计实时监控窄线宽激光器锁频前后两种状态下波长的变化情况。对方案二设置两种不同的仪器锁频参数,分别对激光器输出波长的锁频精度进行监控分析,得到不同设置参数可导致锁频精度降低1倍。两种方案测试结果均为锁频后的激光波长变化幅度仅为锁频前的0.2倍,且曲线频率变化光滑平缓,很大程度地压窄了窄线宽激光器输出波长变化幅度,波长变化稳定性得到了很大改善,提高了锁定信息反馈的实时性。进一步实施窄线宽激光谱线的压窄以及PI电路对窄线宽激光频率的有效快速跟踪锁定提供技术支撑。

薄膜铁磁材料特征参数扫场/扫频测试方法探讨

微波薄膜铁磁材料主要参数是共振磁场强度和共振线宽,基于VNA的扫场测试可直接得到共振磁场强度和共振线宽,而且测量精度高,可测量薄膜方向性,但耗时长。而扫频测试虽然只能得到谐振点频率和频率宽度,且精度低,但速度极快。通过理论论证和实验分析,探讨了一种扫场和扫频相结合的新技术来解决这个矛盾。首先估算铁磁材料的另两个特征参数旋磁比γ和饱和磁化强度Ms,然后由扫频频宽来估算共振线宽。实验表明,扫频估算线宽与扫场测量线宽的差异在6%以下。

频率对微波铁氧体材料铁磁共振线宽的影响

在不同测试频率下采用不同测试方法测试了微波铁氧体材料的铁磁共振(FMR)线宽。结果发现,同一测试方法不同频率下样品的铁磁共振线宽随着测试频率的增高而增大;石榴石微波铁氧体材料无论采用谐振腔还是共面波导、无论多晶还是薄膜,线宽数据的Ka波段都是X波段的2倍左右;尖晶石Ni系铁氧体谐振腔Ka波段和X波段的线宽数据比是3.2~1.3,可见线宽比会根据材料结构类型和成分的不同而异。

窄线宽半导体激光器线宽测试研究

随着光探测领域的持续发展,窄线宽半导体激光器在各领域已经得到了广泛应用并发挥出独特价值。本研究以激光器线宽特性为研究内容展开分析,介绍了一类以β算法为基础的线宽表征方法,并借助仿真模拟获取了不同频域范围下激光线型、频率噪声等与激光线宽之间的关系,进一步说明了该线宽测试方式。

小型全光纤耦合非平面环形腔固体激光器

研制了一种小型全光纤耦合非平面环形腔固体激光器,在1.5 W的808 nm半导体激光器泵浦下,单模保偏光纤耦合输出功率近600 mW,线宽小于200 Hz,偏振对比度优于20 dB。对该激光器的调谐、频率稳定性、功率稳定性等性能进行了研究,该激光器通过了力学试验(随机振动均方根加速度为19.8g,其中g为重力加速度)和温度试验(-20~+65℃),试验前后输出功率变化小于5%,可以用于对力学环境和温度环境要求较高的场合。