逐次逼近寄存器模数转换器(SAR ADC)在逐次逼近的过程中,电容的切换会使参考电压上出现参考纹波噪声,该噪声会影响比较器的判定,进而输出错误的比较结果。针对该问题,基于CMOS 0.5μm工艺,设计了一种具有纹波消除技术的10 bit SAR ADC...逐次逼近寄存器模数转换器(SAR ADC)在逐次逼近的过程中,电容的切换会使参考电压上出现参考纹波噪声,该噪声会影响比较器的判定,进而输出错误的比较结果。针对该问题,基于CMOS 0.5μm工艺,设计了一种具有纹波消除技术的10 bit SAR ADC。通过增加纹波至比较器输入端的额外路径,将参考纹波满摆幅输入至比较器中;同时设计了消除数模转换器(DAC)模块,对参考纹波进行采样和输入,通过反转纹波噪声的极性,消除参考纹波对ADC输出的影响。该设计将信噪比(SNR)提高到56.75 dB,将有效位数(ENOB)提升到9.14 bit,将积分非线性(INL)从-1~5 LSB降低到-0.2~0.3 LSB,将微分非线性(DNL)从-3~4 LSB降低到-0.5~0.5 LSB。展开更多
在SIP(System In a Package)系统中集成具有LVDS(Low-Voltage Differential Signal)接口的多通道高速模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)时,面临不同LVDS输出通道延时不同所导致的数据采集错误的问题,为此设计了一个多通道自...在SIP(System In a Package)系统中集成具有LVDS(Low-Voltage Differential Signal)接口的多通道高速模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)时,面临不同LVDS输出通道延时不同所导致的数据采集错误的问题,为此设计了一个多通道自适应LVDS接收器。通过采用数据时钟恢复技术产生一个多相位的采样时钟,并结合ADC的测试模式来确认每一个通道的采样相位,能够自动对每一个通道的延时分别进行调整,以达到对齐各通道采样相位点,保证数据正确采集的目的。最后,基于先进CMOS工艺进行了接收器的设计、仿真、后端设计实现和流片测试,仿真和流片后的板级测试结果均表明该接收器能够对通道延迟进行自动调节以对齐采样相位,且最大的采样相位调节范围为±3 bit,信噪比大于65 dB,满足了设计要求和应用需求。展开更多
文摘在SIP(System In a Package)系统中集成具有LVDS(Low-Voltage Differential Signal)接口的多通道高速模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)时,面临不同LVDS输出通道延时不同所导致的数据采集错误的问题,为此设计了一个多通道自适应LVDS接收器。通过采用数据时钟恢复技术产生一个多相位的采样时钟,并结合ADC的测试模式来确认每一个通道的采样相位,能够自动对每一个通道的延时分别进行调整,以达到对齐各通道采样相位点,保证数据正确采集的目的。最后,基于先进CMOS工艺进行了接收器的设计、仿真、后端设计实现和流片测试,仿真和流片后的板级测试结果均表明该接收器能够对通道延迟进行自动调节以对齐采样相位,且最大的采样相位调节范围为±3 bit,信噪比大于65 dB,满足了设计要求和应用需求。
