简易低温样品室的研制及应用

本文叙述了简易低温样品室的设计原理、结构性能和它在电阻(R)—温度(T)测试仪中的应用。在Ni Ti形状记忆合金相变规律的研究中,测试和分析了该合金的二种典型的电阻(R)—温度(T)曲线。