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CCD芯片金属层脱落失效分析与改进措施
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作者 刘方 孙晨 张故万 《集成电路应用》 2021年第8期20-22,共3页
在CCD芯片制作中,出现金属层脱落的现象,通过分析金属层脱落的原因,开展工艺验证实验,采取相应改进措施,成功解决了金属层脱落的问题,使得金属层制备的工艺集成能力和芯片成品率得到了显著提升。
关键词 集成电路制造 失效分析 金属层脱落 CCD
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