上海光源微束劳厄技术的发展及其在材料科学研究中的应用

同步辐射微束劳厄技术以其超高的晶体取向和晶格应力/应变分辨率而在材料科学研究中显示出重要的应用潜力.本文报道了我国上海光源在微束劳厄技术方面的最新进展.目前已获得40×50μm2的X射线束斑尺寸,在我国(不含台湾省)首次实现了白光微束劳厄二维扫描实验,利用我国首套完全独立研发、具有自主知识产权的数据分析软件系统,成功定量研究了镍基高温合金GH3535母材与焊缝区域晶体取向、应变和显微缺陷等微观组织结构特征,并提出了后续线站优化设计方案.在未来工作中,将进一步提高空间分辨率,加入X射线荧光分析与原位测试装置.上海光源微束劳厄射线站将为材料科学研究提供更高的分辨率和更多的测试表征功能与能力.