有效探测面积大于1000 cm^2的正比计数器测量系统性能测试

为对自制的活性面积高达1 000cm^2的大面积源进行表面发射率定值,同时作为现有2πα、2πβ表面发射率标准装置能力的扩充,研制了一套内置式大面积2π多丝正比计数器测量系统,并利用活性区直径为8mm的^(241) Am点源及活性区面积为10cm×15cm的大面积^(241) Am和^(90)Sr-^(90) Y源对其进行计量学性能测试。结果表明:计数器内计数响应均匀性优于±0.4%,有效探测面积达1 400cm^2;所得241 Am源高压坪曲线的坪长为1 400V,坪斜为0.27%/100V,坪区内计数变化为0.87%;90Sr-90 Y源高压坪曲线的坪长为300V,坪斜为0.75%/100V,坪区内计数变化为0.80%;10次测量重复性好于0.4%,8h内短期稳定性好于0.3%,1a内长期稳定性好于0.8%。

多丝正比计数器的技术改造

采用单片机和集成电路重建多丝正比计数器测控系统,改进多丝正比室及气流系统的结构,有效改善和提升了多丝正比计数器的技术性能,试验结果表明,技术改造后的多丝正比计数器,探测效率达到95%以上,测量重复性小于1%,8 h稳定性优于0.5%,可应用于α、β放射性平面源和环境样品的测量。

一种用于2π多丝正比计数器的放大电路设计及性能测试

介绍用于测量平面放射源表面发射率的2π多丝正比计数器的放大电路。通过使用两种类型的放射源对该探测器和电路进行了测试。结果满足相关标准要求。

多丝正比室结构优化模拟设计

对超低本底多丝正比室的结构优化进行模拟设计,采用ANSYS有限元分析软件对正比室内部结构进行建模.SRIM软件计算a粒子射程.Garfield程序模拟次级电子在不同参数设置的正比室中的漂移轨迹。模拟结果表明,优化后的正比室可以对不同入射方向的α粒子进行筛选,有效抑制了来自探测器的本底干扰,得到最优的正比室结构设计参数。

多丝正比计数器的优化设计

由于低水平放射性测量中样品计数率非常低,使用多丝正比计数器进行α放射性测量时,本底主要由探测器内壁材料中的α放射性成分贡献.考虑到测量系统本身的放射性干扰一直是制约测量能力的重要因素,降低测量系统本底是α辐射测量的重点.采取在传统多丝正比室添加屏蔽丝的方法,并通过Garfield程序模拟正比室在不同参数设置下电子漂移过程得到正比室各项参数的最优解.模拟结果表明,优化后的正比室可以对不同入射方向的α粒子进行筛选,有效抑制探测器本底,从而得到最优的正比室结构设计参数.

快充式多丝正比计数器测量仪器和方法分析

既往有很多实验研究证实,成功研发的快充式多丝正比计数器测量仪器应用时不仅能明显较少工作气体的耗用量,减少测量成本及时间成本。应用这种技术设备,能精准测量出α、β粒子,有探测高效、计数率线性好及最后所得测量结果稳定性高等优点,值得推广。