Ce、Sr共掺杂BiFeO_3的铁电性及Raman谱研究

采用溶胶凝胶法成功制备了Ce_(0.05)Bi_(0.95-x)Sr_xFeO_3(x=0,0.05,0.10,0.15)多铁性样品,并且对样品的XRD图谱、电滞回线、漏电流曲线及Raman光谱进行测量与研究。XRD结果表明,随着Sr离子掺杂浓度的增加,样品由钙钛矿结构转变为四方晶格结构。电滞回线显示随着Sr离子掺杂浓度的增加,样品的室温铁电性得到了改善。漏电流曲线表明Sr离子掺杂浓度的增加并不能很好地抑制漏电流的产生。通过Raman谱分析得出,Sr离子的掺杂导致Bi-O共价键结构发生变化,并且Sr离子浓度的增加使氧八面体扭曲程度加剧,进而引起了漏电机制的改变,使得样品的铁电性能发生了变化。