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Con/k/n:F系统单元序列最优化的模拟退火算法 被引量:2
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作者 肖刚 邱晓林 《计算机工程与设计》 CSCD 2001年第3期72-75,共4页
n中取连续k (con/k/n: F)系统单元序列最优化的实质是一个组合优化问题,该文设计了求解任意Con/k/n:F系统全局最优配置的模拟退火算法,并以计算实例检验了该算法。
关键词 模拟退火算法 Con/k/n:F系统 单元序列 最优化
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Con/k/n:F系统可靠性计算方法研究的最新进展 被引量:1
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作者 孙志森 《电子质量》 2005年第3期31-33,共3页
本文综述了近二十年来多态线性相邻连接表决系统模型中Con/k/n:F系统可靠性计算方法研究的进展。着重介绍了几种具有典型应用价值的可靠性计算方法,算法的思想及其复杂度分析,并且利用最新的一个算法,予以对例题给出了具体解。
关键词 多态线性相邻连接表决系统 Con/k/n:F系统 可靠性 结构函数
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基于多态系统的总线胚胎电子阵列可靠性分析 被引量:4
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作者 王涛 蔡金燕 +1 位作者 孟亚峰 朱赛 《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第3期593-604,共12页
通过分析总线胚胎电子阵列(BBEEA)的结构特点和工作原理,将多态系统理论引入到阵列的可靠性分析中,采用通用生成函数(UGF)方法建立了阵列的可靠性分析模型。与基于n/k系统的阵列可靠性分析模型进行对比,验证了基于多态系统阵列可靠性分... 通过分析总线胚胎电子阵列(BBEEA)的结构特点和工作原理,将多态系统理论引入到阵列的可靠性分析中,采用通用生成函数(UGF)方法建立了阵列的可靠性分析模型。与基于n/k系统的阵列可靠性分析模型进行对比,验证了基于多态系统阵列可靠性分析模型的正确性和有效性。利用建立的阵列可靠性分析模型对总线胚胎电子阵列的可靠性进行分析,根据阵列的可靠性要求指导阵列的结构设计。同时,对比不同规模总线胚胎电子阵列与典型胚胎电子阵列(EEA)的可靠性,分析总线胚胎电子阵列的性能。分析结果表明:建立的阵列可靠性分析模型能够准确有效地分析阵列的可靠性,将阵列的可靠性分析与工作状态相结合,对阵列的结构设计和预防性维修决策具有重要的指导意义。 展开更多
关键词 总线胚胎电子阵列(BBEEA) 自修复 可靠性 多态系统 n/k系统
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