一种纳米石墨镀铜均匀性定量表征方法

建立了纳米级石墨化学镀铜的均匀性表征方法,为提高石墨镀铜颗粒的导电性和润滑性提供数据参考。采用化学镀铜的方法对石墨颗粒进行镀铜处理,并用XRD和TEM对纳米级石墨镀铜的结构和形貌进行了表征;通过对石墨化学纳米镀层TEM图像的分析,给出了一种适合于纳米级石墨镀铜TEM的二值化方法,结合数学形态学,定位出铜颗粒。提出了一种结合颗粒面积比和颗粒数量分布的均匀性表征方法。对不同纳米级石墨镀铜TEM图像进行了铜颗粒定位和均匀性分析。结果表明,铜颗粒定位准确,均匀性表征方法有效。同时,验证了对于纳米级石墨镀铜材料,石墨的颗粒越小,石墨镀铜中铜颗粒的分布越均匀。