锗酸铋晶体缺陷和小面生长

对坩埚下降法生长锗酸铋（ＢＧＯ）闪烁晶体的缺陷进行研究。除使用通常研究透明晶体的光学方法外，由于ＢＧＯ晶体在受到光辐照损伤时时短波长光具有高的吸收系数，因此还采用近紫外光吸收形貌法研究晶体缺陷，以及缺陷与晶体小面之间的关系，并根据ＢＧＯ晶体的结晶习性和小面形成机理提出了减少和消除晶体小面生长及缺陷的方法。