运用NAND闪存的负延时存储测试系统

非易失性存储器应用在存储测试中具有存储容量大,掉电后数据不丢失的优点。在存储测试系统中,为了能完整地记录测试信号,在电路中使用负延时来记录电路触发点以前的数据。负延时功能在触发信号为被测信号的幅值达到触发阈值触发电路时,显得更加重要。本文介绍了使用单片机结合CPLD控制两片NAND结构闪存实现高速存储,并实现负延时功能。本装置实现了小体积,微功耗,高过载。