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蓝宝石衬底材料CMP去除速率的影响因素
被引量:
5
1
作者
宗思邈
刘玉岭
+2 位作者
牛新环
李咸珍
张伟
《微纳电子技术》
CAS
北大核心
2009年第1期50-54,共5页
阐述了蓝宝石衬底应用的发展前景及加工中存在的问题,分析了蓝宝石衬底化学机械抛光过程中pH值、压力、温度、流量、抛光布等参数对去除速率的影响。提出了采用小流量快启动的方法迅速提高CMP温度,在化学作用和机械作用相匹配时(即高pH...
阐述了蓝宝石衬底应用的发展前景及加工中存在的问题,分析了蓝宝石衬底化学机械抛光过程中pH值、压力、温度、流量、抛光布等参数对去除速率的影响。提出了采用小流量快启动的方法迅速提高CMP温度,在化学作用和机械作用相匹配时(即高pH值、大流量或低pH值,小流量)可得到较高去除速率,且前者速率高于后者。实验采用nm级SiO2溶胶为磨料的碱性抛光液,使用强碱KOH作为pH调节剂,并加入了适当的表面活性剂及螯合剂等。工艺参数为压力0.18MPa、温度45℃、转速60r/min,采用Rodel-suba 600抛光布,在保证表面质量的同时得到的最大去除速率为11.35μm/h。
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关键词
化学机械抛光
蓝宝石衬底
去除速率
nm级sio2溶胶
抛光布
下载PDF
职称材料
题名
蓝宝石衬底材料CMP去除速率的影响因素
被引量:
5
1
作者
宗思邈
刘玉岭
牛新环
李咸珍
张伟
机构
河北工业大学微电子研究所
出处
《微纳电子技术》
CAS
北大核心
2009年第1期50-54,共5页
基金
国家自然科学基金(10676008)
河北省教育厅计划项目(2007)
高等学校博士学科点专项科研基金(20050080007)
文摘
阐述了蓝宝石衬底应用的发展前景及加工中存在的问题,分析了蓝宝石衬底化学机械抛光过程中pH值、压力、温度、流量、抛光布等参数对去除速率的影响。提出了采用小流量快启动的方法迅速提高CMP温度,在化学作用和机械作用相匹配时(即高pH值、大流量或低pH值,小流量)可得到较高去除速率,且前者速率高于后者。实验采用nm级SiO2溶胶为磨料的碱性抛光液,使用强碱KOH作为pH调节剂,并加入了适当的表面活性剂及螯合剂等。工艺参数为压力0.18MPa、温度45℃、转速60r/min,采用Rodel-suba 600抛光布,在保证表面质量的同时得到的最大去除速率为11.35μm/h。
关键词
化学机械抛光
蓝宝石衬底
去除速率
nm级sio2溶胶
抛光布
Keywords
chemical mechanical polishing (CMP)
sapphire substrate
removal rate
nanometer
sio
2
sol
polishing pad
分类号
TN304.21 [电子电信—物理电子学]
TN305.2 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
蓝宝石衬底材料CMP去除速率的影响因素
宗思邈
刘玉岭
牛新环
李咸珍
张伟
《微纳电子技术》
CAS
北大核心
2009
5
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职称材料
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