某型运算放大器失效机理研究

针对某系统调试过程中出现的某型运算放大器塑封固定后测试不合格问题,通过制定失效分析方案探究其失效机理。对失效样品进行电参数测试,发现输出电压异常,同时偏置电流、输入失调电压等参数超差,初步判定失效机理为静电损伤,随后进行I-V特性曲线测试和对比分析,确认第2路输入端口对正电源端口开路。通过X射线检测和颗粒碰撞噪声检测排查器件封装内部可能存在的缺陷及可动多余物,并将器件开封,观察内部结构和版图,发现Pin5处存在明显的击穿痕迹。以最大耐受值电压为起始电压,步进为100 V,对合格样品进行人体模型静电放电试验,验证了运算放大器因静电放电导致晶体管击穿烧毁的失效机理。

基于Saber的运算放大器模型及参数测试方法分析

运算放大器是测量和测试电路中最为常见的元器件之一,在电路级仿真中常对元器件库中或者自己建立的运算放大器模型进行性能参数测试和验证。本文介绍了放大器的基本作用及主要性能指标,阐述了Saber仿真软件元器件库中的4类运算放大器的关键参数含义及使用方法,并使用Saber软件搭建最简测试电路,通过仿真测试运算放大器的输入失调电压、失调电流、共模抑制比和增益带宽积等关键性能参数。仿真结果表明测试电路及测试方法能简单高效并准确地测量出运算放大器模型的性能参数。

基于MSP430F169的集成运放参数测试仪设计

介绍了以MSP430F169单片机为核心的集成运放参数测试仪的设计。阐述了运用辅助放大器法测量集成运算放大器参数的原理,并对单片机控制选择测量参数、切换量程和单片机处理数据的过程做了详细的论述。实验结果表明该测试仪能准确测量运算放大器的输入失调电压、输入失调电流、交流差模开环电压增益和交流共模抑制比等参数。

基于VXI总线通用型集成运放测试系统设计

根据集成运算放大器参数自动测试的需要,在深入研究集成运放测试电路和虚拟仪器技术、VXI总线自动测试系统的基础上,设计了VXI总线集成运放测试系统;应用加锁和解锁技术,使局域网终端能够共享测试系统,应用IVI仪器驱动器技术,使测试系统具有可互换性;实验证明,测试系统能够对通用型单运放、双运放和四运放集成电路开环差模电压放大倍数、最大输出电压和频率特性等参数进行自动测试,并自动生成测试报告;结果正确,精度高,速度快,便于共享和维护,有效提高了集成运放的测试效率和可靠性。

几种放大器的程控增益电路设计

对直流放大器、音频功率放大器和宽带放大器设计时的主要难点进行了分析,给出了对相应的运放参数及类型的要求.结合3种放大器各自的特点,设计了相应的由DAC0832衰减器、X9C503数字电位器和AD603集成压控增益运放为核心构成的一种程控增益控制方案,使得采用数字化手段控制模拟量放大成为可能.

集成运算放大器参数测试仪校准技术研究

集成运算放大器参数测试仪在国家电子行业中广泛使用,其参数测试质量无法保证。研究了集成运放参数测试仪器采用的"闭环测试原理"和目前存在的三种集成运放参数测试仪的校准方案,建立了集成运放参数测试仪校准装置,实现了集成运放参数测试仪的自动化校准。

DDS集成运放测试仪研究与设计

为了提高运放参数测试精度,保证选择运放元件准确性,设计一款以DDS为基础的集成运放测试仪。测试仪以ATmage16为控制核心,采用DDS扫频技术,通过设计的运放参数测量电路、峰值检波电路和人机接口电路等完成对运算放大器直流输入失调电压、输入失调电流、交流差模开环电压增益、交流共模抑制比等参数的测量和计算,应用闭环测试原理和二阶巴特沃斯低通滤波器技术,最后通过LCD显示结果。测试仪突破模拟合成法的原理,可以实现不同频率、相位的任意波形,并且各种参数均可通过编程实现,具有测量精度高、性价比高、操作简单、人机界面友好等特点。

基于GB3442-82的集成运放参数测试仪设计

该系统基于GB3442-82标准测量运算放大器参数的原理,以单片机和FPGA组成的最小系统为控制核心,实现了测量集成运放参数的功能。通过程控放大和精密调整放大,系统不仅完成了VIO、IIO、AVD、KCMR的测量(误差分别为1%和±2 dB),还实现了BWG的测量和自动量程转换功能,并由键盘和显示器等人机交互界面,准确显示测量信息,扩展了触摸屏控制和打印功能。

运算放大器运放环模块测试研究

运算放大器是模拟电路中最重要的单元电路。随着集成电路小型化的发展,运算放大器的测试变得越来越复杂。自动测试系统的运放环模块能够提供高精度的测试资源,并可引出到被测器件接口独立使用,使测试电路的设计更加简单。根据运算放大器参数的物理意义及其测试原理方法,控制运放环模块内部的开关和继电器搭建相应测试电路,可以对运算放大器各参数进行精确、自动测试。实际测试结果表明,该方法能够保证运算放大器的输入失调电压、输出摆幅、开环电压增益、电源电压抑制比及共模抑制比参数测试的准确性。

集成运算放大电路的误差分析及外围元件参数的选择

分析集成运算放大电路运算误差的表现形式 ,给出了如何恰当选择集成运算放大器外围元件参数 ,减小运算误差的合理途径和具体原则。

集成运放直流参数测试系统的优化设计与实践

根据在原单位设计、试制的模拟集成电路测试仪的硬、软件资源,全面概述运算放大器直流参数自动测试原理和实现系统优化设计,并详细分析了在实现运放直流参数测试时所采用的优化方法。此专题可作为电子信息工程专业学生毕业设计课题。

基于DL1000系统的运算放大器参数测试方法研究

运算放大器经过几十年的发展,已经成为一种类别和品种系列繁多的模拟器件,而测试是检验元器件性能的核心手段,本文基于DL1000系统过对运算放大器主要参数测试指标、测试模型进行分析研究,利用测试系统通用的硬件资源,实现运算放大器全面、可靠、符合要求的测试手段和方法,解决运算放大器的通用测试问题。

基于Proteus集成运算放大器参数测试方法探讨

本文通过Proteus仿真软件,介绍了利用辅助放大器测试集成运算放大器主要参数的方法。该方法有效地弥补了"线上教学"实训场地不足,确保课堂教学"理实一体不打折,技能训练不断线"的教学目标。

运算放大器特性参数偏差对控制系统稳定性的影响分析

对一种运算放大器AD8692 (以下简称运放)的特性参数偏差对整机控制稳定性的影响机理进行了研究,运放在整机中用于处理器前级对位移闭环控制信号的处理,实验证明,运放特性参数偏差会引起位移信号自激振荡,进而导致整机性能下降,系统失稳;对标GJB 9147进行运放各项参数的系统测试和分析,找出了影响闭环控制稳定性的参数,并对多批运放的性能参数进行了对比测试,验证了参数分析的正确性和普适性;经实验测试提出了运放性能参数的测试筛选控制措施,对装机器件的性能控制提供了有效手段。

基于C8051F020的集成运放参数测试仪设计

基于C8051F020单片机设计的运算放大器闭环参数测试系统,采用辅助运放测试方法,可对运放的输入失调电压、输入失调电流、交流差模开环电压增益和交流共模抑制比以及单位增益带宽进行测量。系统利用DDS芯片AD9851实现了5HZ信号的输出和40kHz～4MHz扫频输出,具有自动量程转换、自动测量功能和良好的人机交互性。

运算放大器和电压比较器测试技术的实践应用

针对半导体集成电路运算放大器失效模式指出了其测试方法,通过分解半导体集成电路运算(电压)放大器、电压比较器测试电原理图,说明了该类器件的一些主要性能参数测试原理,介绍了在生产实践中测试技术应用方法和注意事项,提出了生产单位怎样建立完整的运算放大器IC测试系统的构想。

一种集成运放多参数自动测试的实验装置

为了开发一款功能全面而系统又不是太复杂的集成运放多参数自动测试实验装置,以满足面向高校的实验测试需求,以单片机ARM TM4C128G为控制核心、模数转换器DAC0832产生信号源、开关芯片CD4066BE为切换开关,利用液晶显示装置显示测试结果,同时还能实现语音播报输出的实验装置系统。该装置能完成运算放大器的失调电压,失调电流,共模抑制比,开环放大倍数等参数的测量,该装置经测试表明能准确的对集成运放的多参数进行自动测试,具有人性化菜单设计,使用方便。

应用GP-IB构成的运放参数测试系统

本文介绍了一种采用GP-IB构成的集成运算放大器参数自动测试系统,该系统可实现对运放九个直流参数的自动测试。文中对这些参数的测试原理、测试系统的构成及测试程序的开发进行了详细的说明。

动态参量最大值检测保持仪表的设计

主要介绍一种动态参量最大值的检测和保持仪表的设计。仪表不但可以测量和保持动态参量的最大值,而且还可以观察动态参量的动态变化。该仪表完全通过数字模拟电路来实现,不需软件编程,使用简单,可靠。此仪表己用于汽车制动脚踏板力的检测上。

非理想运放增益误差的MathCAD定量分析

在推导非理想运算放大器增益误差表达式的基础上,利用MathCAD分析讨论运算放大器的非理想参数开环增益、输入和输出电阻对实际增益误差的影响,对比现代实际运放与理想运放的差别。结果表明:运放的差模输入电阻和输出电阻对增益误差的影响较小,而开环增益是主要影响因素。开环增益越大,误差越小;目标增益较小,增益误差也较小。对现代运放而言,反馈电阻可以有很大的取值范围,基本不受运放非理想参数的限制。