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p种子层对单室制备微晶硅电池性能的影响
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作者 王光红 张晓丹 +7 位作者 许盛之 孙福河 岳强 魏长春 孙建 耿新华 熊绍珍 赵颖 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第10期7294-7299,共6页
采用单室等离子体化学气相沉积技术沉积pin微晶硅电池时,硼污染降低了本征材料的晶化率并影响了p/i界面特性.针对该问题文中采用p种子层技术,即在沉积p层后采取高的H2/SiH4比率及适当的功率又沉积一个薄的p层,初步研究了p种子层对微晶硅... 采用单室等离子体化学气相沉积技术沉积pin微晶硅电池时,硼污染降低了本征材料的晶化率并影响了p/i界面特性.针对该问题文中采用p种子层技术,即在沉积p层后采取高的H2/SiH4比率及适当的功率又沉积一个薄的p层,初步研究了p种子层对微晶硅i层纵向均匀性及电池性能的影响.实验结果表明:采用此方法能改善p/i界面特性,提高本征材料纵向结构的均匀性并降低硼对本征层的污染,有效地提高单结微晶硅电池的性能.最后,通过优化沉积条件,制备得到光电转换效率为8.81%(1cm2)的非晶/微晶硅叠层电池. 展开更多
关键词 单室 甚高频等离子体增强化学气相沉积 微晶硅太阳电池 p种子层
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