期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
基于0.13μm工艺的8Mb相变存储器 被引量:4
1
作者 蔡道林 陈后鹏 +9 位作者 王倩 丁晟 富聪 陈一峰 宏潇 李喜 陈小刚 刘波 宋志棠 封松林 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2011年第6期601-605,共5页
采用0.13μm工艺,4层金属布线,在标准CMOS技术的基础上增加3张掩膜制备了一款8Mb相变存储器。1.2V的低压NMOS管作为单元选通器,单元大小为50F2。外围电路采用3.3V工作电压的CMOS电路。Set和Reset操作电流分别为0.4mA和2mA。读出操作的... 采用0.13μm工艺,4层金属布线,在标准CMOS技术的基础上增加3张掩膜制备了一款8Mb相变存储器。1.2V的低压NMOS管作为单元选通器,单元大小为50F2。外围电路采用3.3V工作电压的CMOS电路。Set和Reset操作电流分别为0.4mA和2mA。读出操作的电流为10μA,芯片疲劳特性次数超过了108。 展开更多
关键词 相变存储器 互补型金属氧化物半导体电路 疲劳特性
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部