采用干涉型光热位移相位信号测量薄膜热扩散率

介绍了待测样品在激光辐照下光热位移信号的理论表达式,阐述了信号相位与热扩散率以及调制频率之间的关系;基于该关系并结合相关资料,提出了一种新的采用迈克尔干涉检测装置测量热扩散率的简便方法,分析了其相对于传统测量方法的优势.采用该装置对Ti及TiO2复合薄膜样品进行了测量,由光热位移相位信号与调制频率之间的关系,计算得到了待测样品的热扩散率.

基于激光光热位移技术纳米材料热扩散率的测量

为了测量纳米材料的热扩散率,采用激光光热位移技术测量了不同频率下热位移的相位,由相位的拟合曲线得到材料热扩散率的方法,得到了不同退火温度下纳米TiO2热扩散率。结果表明,纳米TiO2的热扩散率随退火温度升高而减小。

光热位移光谱技术在GaTe特征参量测量中的应用

本文介绍光热位移光谱以及半导体GaTe的光热位移信号与调制频率之间的函数关系，这一复杂而特殊的关系可通过自由载流子的寿命和扩散效应去解释．

光热位移相位信号分析

本文介绍了样品在激光辐照下的光热位移信号的理论表达式，并给出信号的相位与热扩散率以及调制频率之间的的关系．提出了用迈克尔逊干涉装置对样品的光热位移相位信号的测量方案，并进行了分析．

热学参数热扩散率的分析

本文针对热学参数热扩散与热导率容易引起混淆，从理论和实验两方面阐明热扩散率的物理意义，从而正确区分热扩散率与热导率．并给出了利用光热效应测量热扩散率的方案．