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Study on solder joint reliability of ceramic ball grid array component based on design of experiment method 被引量:6
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作者 吴兆华 黄春跃 周德俭 《China Welding》 EI CAS 2006年第3期68-73,共6页
Four process parameters, pad diameter, stencil thickness, ball diameter and stand-off were chosen as four control factors. By using an L25 (5^6 ) orthogonal array the ceramic ball grid array ( CBGA ) solder joints... Four process parameters, pad diameter, stencil thickness, ball diameter and stand-off were chosen as four control factors. By using an L25 (5^6 ) orthogonal array the ceramic ball grid array ( CBGA ) solder joints which have 25 different combinations of process parameters were designed. The numerical models of all the 25 CBGA solder joints were developed using the Sugrace Evolver. Utilizing the sugrace coordinate exported from the 25 CBGA solder joints numerical models, the finite element analysis models were set up and the nonlinear finite element analysis of the CBGA solder joints under thermal cycles were pegrormed by ANSYS. The thermal fatigue life of CBGA solder joint was calculated using Coffin-Manson equation. Based on the calculated thermal fatigue life results, the range analysis and the variance analysis were pegrormed. The results show that the fatigue life of CBGA solder joint is affected by the pad diameter, the stencil thickness, the ball diameter and the stand-off in a descending order, the best combination of process parameters results in the longest fatigue life is 0.07 mm stand-off, 0.125 mm stencil thickness of, 0.85 mm ball diameter and 0. 89 mm pad diameter. With 95% confidence the pad diameter has a significant effect on the reliability of CBGA solder joints whereas the stand-off, the stencil thickness and the ball diameter have little effect on the reliability of CBGA solder joints. 展开更多
关键词 design of experiment ceramic ball grid array solder joint process parameters finite element analysis
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Thermo-mechanical fatigue reliability optimization of PBGA solder joints based on ANN-PSO 被引量:2
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作者 周继承 肖小清 +2 位作者 恩云飞 陈妮 王湘中 《Journal of Central South University of Technology》 EI 2008年第5期689-693,共5页
Based on a method combined artificial neural network (ANN) with particle swarm optimization (PSO) algorithm, the thermo-mechanical fatigue reliability of plastic ball grid array (PBGA) solder joints was studied. The s... Based on a method combined artificial neural network (ANN) with particle swarm optimization (PSO) algorithm, the thermo-mechanical fatigue reliability of plastic ball grid array (PBGA) solder joints was studied. The simulation experiments of accelerated thermal cycling test were performed by ANSYS software. Based on orthogonal array experiments, a back-propagation artificial neural network (BPNN) was used to establish the nonlinear multivariate relationship between thermo-mechanical fatigue reliability and control factors. Then, PSO was applied to obtaining the optimal levels of control factors by using the output of BPNN as the affinity measure. The results show that the control factors, such as print circuit board (PCB) size, PCB thickness, substrate size, substrate thickness, PCB coefficient of thermal expansion (CTE), substrate CTE, silicon die CTE, and solder joint CTE, have a great influence on thermo-mechanical fatigue reliability of PBGA solder joints. The ratio of signal to noise of ANN-PSO method is 51.77 dB and its error is 33.3% less than that of Taguchi method. Moreover, the running time of ANN-PSO method is only 2% of that of the BPNN. These conclusions are verified by the confirmative experiments. 展开更多
关键词 热电化学 疲劳可靠性 塑料材料 实验研究
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Plastic characterization and performance of SnAgCuBiNi/Cu lead-free BGA solder joints
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作者 杨淼森 孙凤莲 孔祥霞料 《China Welding》 EI CAS 2015年第3期18-23,共6页
Nanoindentation test is performed on study the plastic and creep properties of the Sn-Ag-Cu (SAC) lead-free ball grid array ( BGA ) solder joints. The dynamic hardness of two kinds of solder joints decreases with ... Nanoindentation test is performed on study the plastic and creep properties of the Sn-Ag-Cu (SAC) lead-free ball grid array ( BGA ) solder joints. The dynamic hardness of two kinds of solder joints decreases with indentation depth increase. SACO705 BiNi/ Cu exhibits a higher ultimate dynamic hardness and a smaller indentation depth than SAC305/ Cu. Then the strain hardening phenomenon of SAC305/ Cu is more obvious compared to that of SACO705 BiNi/ Cu. The indentation creep of SACO705BiNi/ Cu solder joint is lower than that of SAC305/ Cu solder joint before and after thermal shock. The creep rate sensitive index of SACBiNi/Cu solder joint is lower than that of solder joint. SACO705BiNi/Cu solder joint is superior to SAC305/Cu solder joint in the anti-creep property. The plasticity of SACOTOSBiNi/Cu and SAC305/Cu solder joints are similar. Compared with SAC305 solder, the SACO705 BiNi solder pe^forms higher hardness and solder creep resistance and still maintains a good plasticity. 展开更多
关键词 ball grid array solder joint creep resistance plasticITY NANOINDENTATION
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田口试验法在PBGA焊点可靠性中的应用 被引量:5
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作者 谭广斌 杨平 陈子夏 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第12期97-100,共4页
在田口试验法的基础上,采用非线性有限元建模的方法对温度循环载荷作用下的PBGA(plastic ball grid array)焊点进行可靠性研究。PCB(printed circuit board)的大小和厚度、基板的大小和厚度、焊点的直径和高度、芯片以及塑封(EMC)的厚度... 在田口试验法的基础上,采用非线性有限元建模的方法对温度循环载荷作用下的PBGA(plastic ball grid array)焊点进行可靠性研究。PCB(printed circuit board)的大小和厚度、基板的大小和厚度、焊点的直径和高度、芯片以及塑封(EMC)的厚度等8个控制因子被选择用来填充L18田口正交表。通过田口试验法优化之后得到最佳的控制因子组合为A1,B3,C1,D2,E2,F3,G3,H3,其中最重要的4个因子为焊点直径A,PCB大小B,芯片厚度F,焊点高度G。结果表明,优化后的试验值和预测值分别比原始状态的试验值和预测值提高了2.87964和0.88286。 展开更多
关键词 田口试验法 塑料球栅阵列封装 热循环 焊点
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激光重熔PBGA钎料球与Au/Ni/Cu焊盘的界面反应 被引量:5
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作者 田艳红 王春青 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第1期95-98,共4页
研究了塑料球栅阵列(PBGA)钎料球激光重熔过程中钎料与Au/Ni/Cu焊盘之间的界面反应 结果表明: 界面处金 属间化合物的生成与激光输入能量密切相关. 当激光输入能量较小时,焊盘上的Au没有完全溶解到钎料中.界面处存... 研究了塑料球栅阵列(PBGA)钎料球激光重熔过程中钎料与Au/Ni/Cu焊盘之间的界面反应 结果表明: 界面处金 属间化合物的生成与激光输入能量密切相关. 当激光输入能量较小时,焊盘上的Au没有完全溶解到钎料中.界面处存在一层连续 的 AuSn2和一些垂直或斜向生长到钎料中的针状 AuSn4化合物. 增大激光输入能量.Au完全溶解到钎料中,界面处连续的 AuSn2化合物层全部转化为针状 AuSn4相、有部分 AuSn4针从界面处折断并落入钎料中.当激光功率为 18 W,激光加热时 间为 400 ms时,AuSn4相在界面处消失、以细小颗粒弥散分布在钎料内部. 展开更多
关键词 塑料球栅阵列 钎料球 激光重熔 界面反应
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热循环条件下空洞对PBGA焊点热疲劳寿命的影响 被引量:5
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作者 邱宝军 周斌 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第7期567-570,共4页
球栅阵列(ball grid array,BGA)封装器件的广泛应用使空洞对焊点可靠性的影响成为业界关注的焦点之一。采用非线性有限元分析方法和统一型粘塑性本构方程,以PBGA组装焊点为对象,建立了互连焊点热应变损伤的三维有限元模型,并基于修正的C... 球栅阵列(ball grid array,BGA)封装器件的广泛应用使空洞对焊点可靠性的影响成为业界关注的焦点之一。采用非线性有限元分析方法和统一型粘塑性本构方程,以PBGA组装焊点为对象,建立了互连焊点热应变损伤的三维有限元模型,并基于修正的Coffin-Manson方程,分析了在热循环加载条件下不同位置和大小的空洞对焊点疲劳寿命的影响。研究结果显示,位于原应力集中区的空洞将降低焊点疲劳寿命,基于应变失效机理,焊点裂纹易在该类空洞周围萌生和扩展;位于焊球中心和远离原应力集中区的空洞,在一定程度上可提高焊点的疲劳寿命。 展开更多
关键词 塑封球栅阵列封装 空洞 焊点 疲劳寿命 有限元
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热循环条件下温度效应对PBGA焊点可靠性的影响 被引量:5
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作者 任宁 田野 龙旦风 《焊接技术》 2016年第4期8-11,5,共4页
基于有限单元法研究PBGA封装无铅SAC405焊点在-55~125℃热循环中的可靠性,探讨了温度效应对其应力应变分布的影响,分析了焊点裂纹的成长情况。结果表明:温度效应对PBGA封装的应力、应变分布具有一定影响;焊点的等效应力最大值位于焊... 基于有限单元法研究PBGA封装无铅SAC405焊点在-55~125℃热循环中的可靠性,探讨了温度效应对其应力应变分布的影响,分析了焊点裂纹的成长情况。结果表明:温度效应对PBGA封装的应力、应变分布具有一定影响;焊点的等效应力最大值位于焊点的上表面,关键焊点是对应于芯片距离对称中心最远处的焊点;裂纹形成在基板侧,沿着焊盘由焊点的外侧向内侧扩展。试验结果与模拟结果一致,验证了模拟结果的正确性。 展开更多
关键词 焊点 塑料球栅阵列封装 温度效应 可靠性
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随机振动条件下形态结构参数对PBGA无铅焊点应力应变影响分析 被引量:2
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作者 梁颖 黄春跃 李天明 《机械强度》 CAS CSCD 北大核心 2010年第4期660-665,共6页
选取焊点高度、焊盘直径、引脚间距、焊点矩阵四个形态结构参数作为关键因素,采用水平正交表L18(37)设计18种不同形态结构参数组合的塑料封装球栅阵列(plasticballgridarray,PBGA)器件无铅焊点,建立18种PBGA无铅焊点的三维有限元分析模... 选取焊点高度、焊盘直径、引脚间距、焊点矩阵四个形态结构参数作为关键因素,采用水平正交表L18(37)设计18种不同形态结构参数组合的塑料封装球栅阵列(plasticballgridarray,PBGA)器件无铅焊点,建立18种PBGA无铅焊点的三维有限元分析模型,并进行随机振动条件下的应力应变有限元分析,得到18种不同形态结构参数的PBGA无铅焊点的应力应变数据,针对应力应变数据进行极差分析与方差分析。结果表明,随机振动条件下四个因素对PBGA无铅焊点应力应变的影响由大到小依次是焊点矩阵、引脚间距、焊点高度和焊盘直径,应力应变最小的焊点最佳形态结构参数水平组合为焊点高度0.32mm、焊盘直径0.30mm、引脚间距0.65mm和焊点矩阵6×6;在置信度为95%的情况下,引脚间距和焊点矩阵对PBGA无铅焊点随机振动应变具有显著影响,焊盘高度和焊盘直径对应变影响不显著。 展开更多
关键词 塑料封装球栅阵列 无铅焊点 形态结构参数 随机振动 极差分析 方差分析
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PBGA封装芯片热环境适应性仿真分析 被引量:5
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作者 李永强 吕卫民 《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第9期1892-1899,共8页
针对多数塑料焊球阵列(PBGA)封装芯片仅依据美军MIL标准进行高低温交变测试致使预测服役寿命偏差较大的情况,将微控制芯片任务状态时间谱转化为环境温度载荷谱,在综合考虑热传导、热对流的情形下,利用icepak完成芯片热电耦合仿真分析,... 针对多数塑料焊球阵列(PBGA)封装芯片仅依据美军MIL标准进行高低温交变测试致使预测服役寿命偏差较大的情况,将微控制芯片任务状态时间谱转化为环境温度载荷谱,在综合考虑热传导、热对流的情形下,利用icepak完成芯片热电耦合仿真分析,并借助于Transient Thermal及Transient Structural完成芯片结温的获取及焊点应力、应变的计算求解。同时,依据Arrhenius模型及修正Coffin-Manson热疲劳模型分别预测芯片本身及焊点的寿命,从而实现对其热环境适应能力的定量分析。仿真结果表明:芯片的预测寿命约为6.26年,寿命预测偏差约为13.4%,符合GJB 4239—2001中单个关键环境因素预测寿命偏差标准,能够较为精确地反映其热环境适应性。 展开更多
关键词 塑料焊球阵列(pbga)封装 芯片焊点 任务时间谱 热疲劳 环境适应性
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Sn-Ag-Cu无铅球栅阵列焊点塑性表征 被引量:5
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作者 杨淼森 孙凤莲 +1 位作者 孔祥霞 周云芳 《中国有色金属学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第11期3119-3125,共7页
通过纳米压痕的方法,采用塑性应变与总应变的比值表征塑性,对SAC305/Cu、SAC0307/Cu和SAC0705Bi Ni/Cu这3种无铅焊点的动态硬度、抗蠕变性能及塑性进行了对比。3种焊点的动态硬度随深度变化趋势相同,随着压入深度的增加而降低。SAC0705B... 通过纳米压痕的方法,采用塑性应变与总应变的比值表征塑性,对SAC305/Cu、SAC0307/Cu和SAC0705Bi Ni/Cu这3种无铅焊点的动态硬度、抗蠕变性能及塑性进行了对比。3种焊点的动态硬度随深度变化趋势相同,随着压入深度的增加而降低。SAC0705Bi Ni/Cu的最终动态硬度最高,压痕深度最小,SAC305/Cu表现出应变硬化现象。3种焊点的抗蠕变能力由大到小依次为SAC0705Bi Ni/Cu、SAC305/Cu、SAC0307/Cu。SAC0705Bi Ni/Cu焊点的塑性与SAC305/Cu焊点的相当。与SAC305和SAC0307两种钎料相比,无铅钎料SAC0705Bi Ni通过Bi和Ni元素的加入,提高钎料的硬度和抗蠕变性能,并且保持较好的塑性。 展开更多
关键词 球栅阵列焊点 抗蠕变 塑性 纳米压痕
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塑封焊球阵列焊点三维形态预测及其“整体”近似优化设计 被引量:1
11
作者 王红芳 赵玫 孟光 《上海交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期829-833,共5页
针对传统优化技术进行焊点三维形态优化时费时耗力且浪费计算机资源等缺点 ,提出采用“整体”近似优化技术 ,结合线性最小二乘方法、BP( Back Propagation)神经网络 ,在整个设计变量空间上建立问题函数近似面 ,利用该函数近似面来求取... 针对传统优化技术进行焊点三维形态优化时费时耗力且浪费计算机资源等缺点 ,提出采用“整体”近似优化技术 ,结合线性最小二乘方法、BP( Back Propagation)神经网络 ,在整个设计变量空间上建立问题函数近似面 ,利用该函数近似面来求取目标函数最大值 ,并得到相应的设计变量值 ,达到焊点三维形态优化设计的目的 .最后对线性最小二乘模型、BP神经网络拟合非线性函数的能力和近似优化能力进行了比较讨论 ,结果表明 ,利用“整体”近似优化技术来优化设计焊点形态是简便可行的 ,且 BP网络模型拟合“整体”近似函数面比线性回归模型具有更高的精度 。 展开更多
关键词 优化设计 塑封焊球阵列焊点 三维形态预测 “整体”近似优化 振动疲劳寿命 BP网络模型 电子工业
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PBGA焊点形态对疲劳寿命的影响
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作者 张威 刘坤鹏 +3 位作者 张沄渲 于沐瀛 王尚 田艳红 《电子与封装》 2024年第8期40-46,共7页
通过Surface Evolver软件预测了塑料球栅阵列(PBGA)焊点形态,将焊点形态结果导入Ansys软件中进行-55~125℃热循环仿真实验,通过Coffin-Masson模型预测焊点寿命。选取焊点钎料量、焊点高度、下焊盘直径作为影响焊点寿命的主要因素进行了... 通过Surface Evolver软件预测了塑料球栅阵列(PBGA)焊点形态,将焊点形态结果导入Ansys软件中进行-55~125℃热循环仿真实验,通过Coffin-Masson模型预测焊点寿命。选取焊点钎料量、焊点高度、下焊盘直径作为影响焊点寿命的主要因素进行了3因素3水平正交实验,通过均值响应分析得到了影响凸点寿命的最敏感因素及最优形态尺寸组合。结果表明对焊点寿命影响最大的因素为下焊盘半径,其次是钎料量,最后是焊点高度,且上下等大的焊盘具有较好的可靠性。 展开更多
关键词 Surface Evolver 塑料球栅阵列 焊点形态预测 热循环 疲劳寿命 封装技术
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