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Study on Solder Joint Reliability of Plastic Ball Grid Array Component Based on SMT Products Virtual Assembly Technology
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作者 HUANG Chunyue,WU Zhaohua,ZHOU Dejian (Department of Electronic Machinery and Transportation Engineering,Guilin University of Electronic Technology,Guilin 541004,China) 《武汉理工大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2006年第S1期214-219,共6页
Based on surface mount products virtual assembly technology,the solder joint reliability of plastic ball grid array (PBGA) was studied. Four process parameters,including the upper pad diameter,the stencil thickness,th... Based on surface mount products virtual assembly technology,the solder joint reliability of plastic ball grid array (PBGA) was studied. Four process parameters,including the upper pad diameter,the stencil thickness,the chip weight on a single solder joint and the lower pad diameter were chose as four control factors. By using an L25(56) orthogonal array the PBGA solder joints which have 25 different process parameters’ levels combinations were designed. The numerical models of all the 25 PBGA solder joints were developed and the finite element analysis models were setup. The stress and strain distribution within the PBGA solder joints under thermal cycles were studied by finite element analysis,and the thermal fatigue life of PBGA solder joint was calculated using Coffin-Manson equation. Based on the calculated thermal fatigue life results,the range analysis was performed. The results of study show that that the impact sequence of the four factors from high to low on the fatigue life of PBGA solder joints are the stencil thickness,the upper pad diameter,the lower pad diameter and the chip weight on a single solder joint; the best level combination ofprocess parameters that results in the longest fatigue life is the lower pad diameter of 0.6 mm,the stencil thickness of 0.175 mm,the chip weight on asingle solder joint of 28×10 -5 N and the upper pad diameter of 0.5 mm. 展开更多
关键词 VIRTUAL assembly plastic ball grid array process parameters RANGE analysis
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PBGA器件固化残余应力的有限元分析 被引量:4
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作者 蒋廷彪 田刚领 +1 位作者 杨道国 巫松 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2005年第2期3-6,共4页
采用有限元分析软件模拟研究了PBGA器件在先固化再进行温度加载和直接从温度循环开始加载两种情况下,固化过程对 PBGA 器件的影响,发现固化过程不仅改变了器件中芯片的应力分布,而且劣化了 DA(环氧树脂)材料与芯片接触面的应力值,也同... 采用有限元分析软件模拟研究了PBGA器件在先固化再进行温度加载和直接从温度循环开始加载两种情况下,固化过程对 PBGA 器件的影响,发现固化过程不仅改变了器件中芯片的应力分布,而且劣化了 DA(环氧树脂)材料与芯片接触面的应力值,也同时使得 BT 材料基底中的应力分布产生较大的改变。并且对 DA 材料选用几种不同的固化时间,发现固化时间的不同对器件封装残余应力的大小和最大应力位置有重要的影响,这为预测芯片的垂直开裂的位置提供了很好的依据。 展开更多
关键词 电子技术 断裂力学 残余应力 有限元 pbga 模塑封材料
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PBGA组件振动疲劳寿命的实验研究 被引量:6
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作者 陈子夏 杨平 谭广斌 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第11期1028-1031,共4页
为了得到在基频激励下PBGA封装的可靠度特性,设计制作了一块包含不同结构和材料参数的PBGA组件样品,利用可靠性实验的方法测试了PBGA组件在正弦单频激励条件下的疲劳特性,同时运用Manson-Coffin方程经验公式及雨流计数法得到了相对应的... 为了得到在基频激励下PBGA封装的可靠度特性,设计制作了一块包含不同结构和材料参数的PBGA组件样品,利用可靠性实验的方法测试了PBGA组件在正弦单频激励条件下的疲劳特性,同时运用Manson-Coffin方程经验公式及雨流计数法得到了相对应的焊点疲劳寿命。最后利用疲劳统计中威布尔分布得到了当PBGA芯片位于PCB不同位置、不同激励时可靠度-循环失效圈数曲线(R-N曲线)。结果表明,大直径焊点芯片、分布在约束较多PCB上的芯片、无铅焊点芯片的焊点可靠度较高。 展开更多
关键词 pbga组件 疲劳特性实验 R-N曲线 芯片位置优化
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激光重熔PBGA钎料球与Au/Ni/Cu焊盘的界面反应 被引量:5
4
作者 田艳红 王春青 《金属学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第1期95-98,共4页
研究了塑料球栅阵列(PBGA)钎料球激光重熔过程中钎料与Au/Ni/Cu焊盘之间的界面反应 结果表明: 界面处金 属间化合物的生成与激光输入能量密切相关. 当激光输入能量较小时,焊盘上的Au没有完全溶解到钎料中.界面处存... 研究了塑料球栅阵列(PBGA)钎料球激光重熔过程中钎料与Au/Ni/Cu焊盘之间的界面反应 结果表明: 界面处金 属间化合物的生成与激光输入能量密切相关. 当激光输入能量较小时,焊盘上的Au没有完全溶解到钎料中.界面处存在一层连续 的 AuSn2和一些垂直或斜向生长到钎料中的针状 AuSn4化合物. 增大激光输入能量.Au完全溶解到钎料中,界面处连续的 AuSn2化合物层全部转化为针状 AuSn4相、有部分 AuSn4针从界面处折断并落入钎料中.当激光功率为 18 W,激光加热时 间为 400 ms时,AuSn4相在界面处消失、以细小颗粒弥散分布在钎料内部. 展开更多
关键词 塑料球栅阵列 钎料球 激光重熔 界面反应
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热循环条件下空洞对PBGA焊点热疲劳寿命的影响 被引量:5
5
作者 邱宝军 周斌 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第7期567-570,共4页
球栅阵列(ball grid array,BGA)封装器件的广泛应用使空洞对焊点可靠性的影响成为业界关注的焦点之一。采用非线性有限元分析方法和统一型粘塑性本构方程,以PBGA组装焊点为对象,建立了互连焊点热应变损伤的三维有限元模型,并基于修正的C... 球栅阵列(ball grid array,BGA)封装器件的广泛应用使空洞对焊点可靠性的影响成为业界关注的焦点之一。采用非线性有限元分析方法和统一型粘塑性本构方程,以PBGA组装焊点为对象,建立了互连焊点热应变损伤的三维有限元模型,并基于修正的Coffin-Manson方程,分析了在热循环加载条件下不同位置和大小的空洞对焊点疲劳寿命的影响。研究结果显示,位于原应力集中区的空洞将降低焊点疲劳寿命,基于应变失效机理,焊点裂纹易在该类空洞周围萌生和扩展;位于焊球中心和远离原应力集中区的空洞,在一定程度上可提高焊点的疲劳寿命。 展开更多
关键词 塑封球栅阵列封装 空洞 焊点 疲劳寿命 有限元
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PBGA组件的动态特性仿真与实验研究 被引量:3
6
作者 杨平 陈子夏 谭广斌 《振动与冲击》 EI CSCD 北大核心 2009年第3期168-170,共3页
为了得到振动条件下塑料球栅阵列封装(PBGA)芯片在PCB板上焊接位置以及PCB加固方式对动态特性的影响,设计制作了一块包含不同结构和材料参数的PBGA组件样品,首先采用ANSYS软件建立PCB组件的有限元模型,在建模过程中采用了简化PBGA结构... 为了得到振动条件下塑料球栅阵列封装(PBGA)芯片在PCB板上焊接位置以及PCB加固方式对动态特性的影响,设计制作了一块包含不同结构和材料参数的PBGA组件样品,首先采用ANSYS软件建立PCB组件的有限元模型,在建模过程中采用了简化PBGA结构和减少焊点数量的方法减小计算量,通过模拟计算得到了该组件样品在不同加固条件下的一阶频率与模态变形。然后结合模态实验的方法进行了不同边界条件下的动态测试分析。运用模态分析方法获得了各加固条件下的模态参数。最后以边四点加固方式为例,比较了仿真与试验的相互匹配性与差异性。分析结果表明:芯片分布在四点固定板上、增加约束数目、靠近约束点布片可以有效改善动态特性。 展开更多
关键词 pbga芯片 动态仿真 模态实验 抗振动优化
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宏细观统一模型下PBGA焊点的模拟分析
7
作者 田刚领 蒋廷彪 +1 位作者 杨道国 袁端磊 《电子工艺技术》 2005年第3期134-136,139,共4页
利用有限元软件在再流焊温度下,分别对PBGA器件统一的宏细观模型进行了模拟分析,就内部焊球来说,发现应力变化最大的是边界焊球,失效最容易从这里产生;并且发现再流焊温度加载过程中的温度变化速率与焊点内的应力变化有直接的关系,当把... 利用有限元软件在再流焊温度下,分别对PBGA器件统一的宏细观模型进行了模拟分析,就内部焊球来说,发现应力变化最大的是边界焊球,失效最容易从这里产生;并且发现再流焊温度加载过程中的温度变化速率与焊点内的应力变化有直接的关系,当把冷却区的温度变化速率从3减小到1. 5时,可以从焊点的不同载荷步应力云图看出,应力突变明显降低,这对提高器件可靠性有重要意义。 展开更多
关键词 残余应力 有限元 pbga 再流焊
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PBGA封装芯片热环境适应性仿真分析 被引量:5
8
作者 李永强 吕卫民 《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第9期1892-1899,共8页
针对多数塑料焊球阵列(PBGA)封装芯片仅依据美军MIL标准进行高低温交变测试致使预测服役寿命偏差较大的情况,将微控制芯片任务状态时间谱转化为环境温度载荷谱,在综合考虑热传导、热对流的情形下,利用icepak完成芯片热电耦合仿真分析,... 针对多数塑料焊球阵列(PBGA)封装芯片仅依据美军MIL标准进行高低温交变测试致使预测服役寿命偏差较大的情况,将微控制芯片任务状态时间谱转化为环境温度载荷谱,在综合考虑热传导、热对流的情形下,利用icepak完成芯片热电耦合仿真分析,并借助于Transient Thermal及Transient Structural完成芯片结温的获取及焊点应力、应变的计算求解。同时,依据Arrhenius模型及修正Coffin-Manson热疲劳模型分别预测芯片本身及焊点的寿命,从而实现对其热环境适应能力的定量分析。仿真结果表明:芯片的预测寿命约为6.26年,寿命预测偏差约为13.4%,符合GJB 4239—2001中单个关键环境因素预测寿命偏差标准,能够较为精确地反映其热环境适应性。 展开更多
关键词 塑料焊球阵列(pbga)封装 芯片焊点 任务时间谱 热疲劳 环境适应性
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Plastic characterization and performance of SnAgCuBiNi/Cu lead-free BGA solder joints
9
作者 杨淼森 孙凤莲 孔祥霞料 《China Welding》 EI CAS 2015年第3期18-23,共6页
Nanoindentation test is performed on study the plastic and creep properties of the Sn-Ag-Cu (SAC) lead-free ball grid array ( BGA ) solder joints. The dynamic hardness of two kinds of solder joints decreases with ... Nanoindentation test is performed on study the plastic and creep properties of the Sn-Ag-Cu (SAC) lead-free ball grid array ( BGA ) solder joints. The dynamic hardness of two kinds of solder joints decreases with indentation depth increase. SACO705 BiNi/ Cu exhibits a higher ultimate dynamic hardness and a smaller indentation depth than SAC305/ Cu. Then the strain hardening phenomenon of SAC305/ Cu is more obvious compared to that of SACO705 BiNi/ Cu. The indentation creep of SACO705BiNi/ Cu solder joint is lower than that of SAC305/ Cu solder joint before and after thermal shock. The creep rate sensitive index of SACBiNi/Cu solder joint is lower than that of solder joint. SACO705BiNi/Cu solder joint is superior to SAC305/Cu solder joint in the anti-creep property. The plasticity of SACOTOSBiNi/Cu and SAC305/Cu solder joints are similar. Compared with SAC305 solder, the SACO705 BiNi solder pe^forms higher hardness and solder creep resistance and still maintains a good plasticity. 展开更多
关键词 ball grid array solder joint creep resistance plasticITY NANOINDENTATION
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随机振动载荷下塑封球栅阵列含铅焊点疲劳寿命模型 被引量:9
10
作者 秦飞 别晓锐 +1 位作者 陈思 安彤 《振动与冲击》 EI CSCD 北大核心 2021年第2期164-170,共7页
对塑封球栅阵列(PBGA)封装器件Sn37Pb焊点进行了正弦振动、随机振动实验,得到各个载荷下焊点的疲劳寿命结果。建立了三维有限元模型,进行与实验条件一致的有限元分析,计算焊点的应力;将实验结果与有限元计算相结合,并基于Steinberg寿命... 对塑封球栅阵列(PBGA)封装器件Sn37Pb焊点进行了正弦振动、随机振动实验,得到各个载荷下焊点的疲劳寿命结果。建立了三维有限元模型,进行与实验条件一致的有限元分析,计算焊点的应力;将实验结果与有限元计算相结合,并基于Steinberg寿命预测模型,发展了随机振动载荷下焊点疲劳寿命预测方法。结果表明,疲劳寿命模型预测结果与实验结果吻合较好,该方法可应用于PBGA封装焊点在随机振动载荷下的疲劳寿命评估,为PBGA封装器件的设计与使用提供指导。 展开更多
关键词 随机振动 寿命预测 Steinberg模型 有限元分析(FEA) 塑封球栅阵列(pbga)封装
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塑封焊球阵列焊点三维形态预测及其“整体”近似优化设计 被引量:1
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作者 王红芳 赵玫 孟光 《上海交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期829-833,共5页
针对传统优化技术进行焊点三维形态优化时费时耗力且浪费计算机资源等缺点 ,提出采用“整体”近似优化技术 ,结合线性最小二乘方法、BP( Back Propagation)神经网络 ,在整个设计变量空间上建立问题函数近似面 ,利用该函数近似面来求取... 针对传统优化技术进行焊点三维形态优化时费时耗力且浪费计算机资源等缺点 ,提出采用“整体”近似优化技术 ,结合线性最小二乘方法、BP( Back Propagation)神经网络 ,在整个设计变量空间上建立问题函数近似面 ,利用该函数近似面来求取目标函数最大值 ,并得到相应的设计变量值 ,达到焊点三维形态优化设计的目的 .最后对线性最小二乘模型、BP神经网络拟合非线性函数的能力和近似优化能力进行了比较讨论 ,结果表明 ,利用“整体”近似优化技术来优化设计焊点形态是简便可行的 ,且 BP网络模型拟合“整体”近似函数面比线性回归模型具有更高的精度 。 展开更多
关键词 优化设计 塑封焊球阵列焊点 三维形态预测 “整体”近似优化 振动疲劳寿命 BP网络模型 电子工业
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