并行测试技术及在导弹测试中的应用研究

并行测试技术是将并行处理技术引进自动测试领域形成的一种先进的测试技术和方法,拥有减少测试时间、降低测试成本的强大优势,正成为研究热点之一;首先介绍了并行测试的基本概念,分析对比了几种实现并行测试的软硬件方法及基本结构体系;然后结合导弹传统串行测试方法的不足及未来战场快速测试的要求,设计了一种导弹的网络化并行测试的基本结构;最后,针对并行测试技术在导弹测试中的应用,提出了需要注意的任务调度、死锁预防及并行测试接口设计等几点关键技术和导弹并行测试系统组建原则。

基于VISA的程控电源仿真测控系统设计

针对阴极试验系统中可靠性和寿命考核的需求,对程控电源进行自动控制,通过对各种测控方式进行比较,基于虚拟仪器系统结构体系(Virtual Instrument Software Architecture,VISA)库,利用程控仪器标准命令(Standard Commands for Programmable Instruments,SCPI)指令对可编程电源进行仿真测控设计。实现对多工位程控电源的并行测控,给出了完整的设计方案和实现方法。试验结果表明,该系统顺利完成了阴极筛选、数据采集和日志存储等阴极试验考核工作,试验结果准确可靠,改进了手动试验工作效率低、实验记录不准确的问题。

基于Win32 API的多线程串行通信

分析各种常用串行通信编程方案的特点 ,着重介绍基于Win32API的多线程串行异步通信技术 .通过采用并行I O和多线程同步构造了高性能的上位机监控系统 .

高速JTAG在线仿真器设计

给出联合测试行为组织(JTAG)边界扫描技术的概念,说明JTAG关键组件及相关的指令,介绍实际开发的通用JTAG在线仿真器。该仿真器在基于计算机并口的JTAG在线仿真器基础上进行改进,加入现场可编程门阵列,利用并口并行传输的优势,克服传统JTAG在线仿真器的速度局限性。通过自定义的通信协议,提高通信的可靠性和安全性,同时达到比传统JTAG在线仿真器更优的性能。

基于FPGA的RFID晶圆并行测试系统设计

针对高频射频识别(RFID)晶圆在中测(CP)阶段单通道串行测试效率低下的问题,设计了一种基于现场可编程门阵列(FPGA)的多通道并行测试系统以提高测试效率。鉴于RFID晶圆上没有集成天线,提出了一种新的基于探针技术的射频耦合式的晶圆检测方法,模拟芯片实际工作。系统选用FPGA为微控制器,配以多路射频耦合通信电路,实现测试向量生成及快速信号处理。再结合上位机与探针台高速并行的通用接口总线(GPIB)通信接口,以实现晶圆级RFID芯片测试。经实际测试,该系统能够实现16通道并行测试,与单通道串行测试系统相比,效率提升了97%,可靠性好,稳定性高,可应用高密度RFID晶圆的中测。

一种低频RFID晶圆并行测试系统设计

针对低频射频识别(RFID)晶圆测试中耗时久、效率低的问题,设计了一种32通道并行测试系统。系统基于32通道垂直探针卡,采用直接耦合方式,达到芯片实际工作条件。利用现场可编程门阵列(FPGA),实现测试向量的快速生成和信号解码的高速处理。通过专用硬件测试电路,对已调信号进行包络检波、滤波放大、电平判决,解调出被测芯片(DUT)编码信息。凭借通用接口总线(GPIB)完成探针台与上位机的数据交换,获得晶圆图。经测试,系统能够稳定、快速实现对低频RFID晶圆进行32通道并行测试,与传统单通道串行测试相比,测试时间至少优化了95.4%。测试结果表明系统缩短了测试时间、提高了测试效率,可适用于批量测试应用。

基于MPI的并行大数据集生成器

大数据处理分析算法在优化研究过程中,速度常常受限于数据集的规模。在数据集体量不足时,算法的通信时间往往要高于真正的计算时间,无法验证真实的效果。故设计实现了一个大数据集生成器,为运行在超级计算机上的并行大数据处理分析算法提供基准测试数据集。首先,使用MPI并行编程技术构造了一个并行随机数生成器,在此基础上设计实现了可控制规模及复杂性的人工数据集,主要包括:分类和聚类数据集、回归数据集、流形学习数据集和因子分解数据集等。其次,设计了大数据集生成器的I/O系统,提供MPI-I/O并行读、写数据集的接口,并设置了数据集在不同进程间的分发、映射规则,通过点对点通信实现不同节点之间的数据交互。实验结果表明,并行大数据集生成器有效提高了数据生成效率和生成规模,为并行大数据处理分析算法提供了高质量、大体量的测试数据集。