不同于扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope,STM),原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)主要通过探测针尖和样品间的相互作用力获得样品表面信息,不需要导电的样品,可以研究比STM更为广泛的样品体系,自发明以来迅速成...不同于扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscope,STM),原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)主要通过探测针尖和样品间的相互作用力获得样品表面信息,不需要导电的样品,可以研究比STM更为广泛的样品体系,自发明以来迅速成为基础科学和应用研究领域中一种强有力的工具.近几年发展起来的基于qPlus技术的非接触式原子力显微镜(qPlus-noncontact AFM,qPlus-NC-AFM),通过关键部件原子力传感器的改进,进一步拓展了原子力显微镜的探测能力,从而在许多研究方向上取得了重要突破.本文介绍了qPlus-AFM的基本工作原理及其在基础科学研究领域中的最新研究进展,并对其进一步的发展进行了展望.展开更多
