监控多变量自相关过程的可变抽样区间残差T^(2)控制图

残差T^(2)控制图消除统计量的自相关性,满足统计过程控制理论关于统计量彼此独立的基本假设,可以用于监控多变量自相关过程.为了提高多变量自相关过程监控效率,研究可变抽样区间的残差T^(2)控制图.首先,对多变量自相关过程的残差T^(2)控制图进行可变抽样区间(VSI)设计;然后,用蒙特卡洛模拟方法计算其平均报警时间;最后,以平均报警时间为评价准则,对所设计的VSI残差T^(2)控制图与固定抽样区间(FSI)的残差T^(2)图的监控性能进行对比分析,发现过程失控时,VSI残差T^(2)控制图的平均报警时间较小,能更快地检测出异常波动.