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Applications of Secondary Electron Composition Contrast Imaging Method in Microstructure Studies on Heterojunction Semiconductor Devices and Multilayer Materials
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作者 刘安生 邵贝羚 +2 位作者 安生 王敬 刘铮 《Rare Metals》 SCIE EI CAS CSCD 1999年第2期2-8,共7页
The principle, imaging condition and experimental method for obtaining high resolution composition contrast in secondary electron image were described. A new technique of specimen preparation for secondary electron co... The principle, imaging condition and experimental method for obtaining high resolution composition contrast in secondary electron image were described. A new technique of specimen preparation for secondary electron composition contrast observation was introduced and discussed. By using multilayer P+Si1-xGex/pSi heterojunction internal photoemission infrared detector as an example, the applications of secondary electron composition contrast imaging in microstructure studies on heterojunction semiconducting materials and devices were stated. The characteristics of the image were compared with the ordinary transmission electron diffraction contrast image. The prospects of applications of the imaging method in heterojunction semiconductor devices and multilayer materials are also discussed. 展开更多
关键词 secondary electron composition contrast image Heterojunction semiconducting devices Multilayer materials electron microscopy MICROSTRUCTURE
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Estimating aboveground biomass using Pléiades satellite image in a karst watershed of Guizhou Province,Southwestern China 被引量:2
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作者 GUO Yin-ming NI Jian +4 位作者 LIU Li-bin WU Yang-yang GUO Chun-zi XU Xin ZHONG Qiao-lian 《Journal of Mountain Science》 SCIE CSCD 2018年第5期1020-1034,共15页
Biomass in karst terrain has rarely been measured because the steep mountainous limestone terrain has limited the ability to sample woody plants.Satellite observation, especially at high spatial resolution, is an impo... Biomass in karst terrain has rarely been measured because the steep mountainous limestone terrain has limited the ability to sample woody plants.Satellite observation, especially at high spatial resolution, is an important surrogate for the quantification of the biomass of karst forests and shrublands. In this study, an artificial neural network(ANN) model was built using Pléiades satellite imagery and field biomass measurements to estimate the aboveground biomass(AGB) in the Houzhai River Watershed, which is a typical plateau karst basin in Central Guizhou Province, Southwestern China. A back-propagation ANN model was also developed.Seven vegetation indices, two spectral bands of Pléiades imagery, one geomorphological parameter,and land use/land cover were selected as model inputs. AGB was chosen as an output. The AGB estimated by the allometric functions in 78 quadrats was utilized as training data(54 quadrats, 70%),validation data(12 quadrats, 15%), and testing data(12 quadrats, 15%). Data-model comparison showed that the ANN model performed well with an absolute root mean square error of 11.85 t/ha, which was 9.88%of the average AGB. Based on the newly developed ANN model, an AGB map of the Houzhai River Watershed was produced. The average predicted AGB of the secondary evergreen and deciduous broadleaved mixed forest, which is the dominant forest type in the watershed, was 120.57 t/ha. The average AGBs of the large distributed shrubland,tussock, and farmland were 38.27, 9.76, and 11.69 t/ha, respectively. The spatial distribution pattern ofthe AGB estimated by the new ANN model in the karst basin was consistent with that of the field investigation. The model can be used to estimate the regional AGB of karst landscapes that are distributed widely over the Yun-Gui Plateau. 展开更多
关键词 ABOVEGROUND biomass secondary karstforest Artificial neural network VEGETATION indices Very high resolution satellite image
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Quantitative HRTEM and its application in the study of oxide materials
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作者 Chun-Lin Jia Shao-Bo Mi Lei Jin 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2018年第5期22-32,共11页
On the basis of a state-of-the-art aberration-corrected transmission electron microscope, the spherical aberration coefficient CSof the objective lens can be tuned to either a positive or a negative value. The use of ... On the basis of a state-of-the-art aberration-corrected transmission electron microscope, the spherical aberration coefficient CSof the objective lens can be tuned to either a positive or a negative value. The use of a negative value of CS combined with an overfocus setting of the objective lens leads to the development of the negative CSimaging(NCSI) technique. Images obtained using the NCSI technique show superior contrast and signal intensity at atomic column positions than the corresponding positive CSimages, especially for weakly scattering oxygen columns that are in close proximity to strongly scattering cation columns in oxides. Based on the images obtained under the NCSI condition, quantification of the image contrast allows measurements of the atom positions with a precision of a few picometers and the local chemistry on atomic scale. In the present review, we discuss firstly the benefits of the NCSI technique in studies of oxide materials,and then show a procedure for quantitative analysis of the image based on the absolute value of contrast. In the last part,examples are given for the application of the quantitative high-resolution transmission electron microscopy(HRTEM) to the study of electric dipoles of oxide ferroelectrics and atomic-scale chemistry of interfaces. 展开更多
关键词 quantitative high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) negative Cs imaging(NCSI) aberration-correction functional oxides
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非均匀GaAs/AlGaAs量子阱红外探测器材料表征和器件性能研究
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作者 苏家平 周孝好 +4 位作者 唐舟 范柳燕 夏顺吉 陈平平 陈泽中 《红外与毫米波学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第1期7-14,共8页
本文利用分子束外延(MBE)技术成功生长了GaAs/AlGaAs非均匀量子阱红外探测器材料,并对相关微结构作了细致表征。分析比较了非均匀量子阱结构和常规量子阱红外探测器性能差异,并对比研究了不同势阱宽度下非均匀量子阱红外探测器的性能变... 本文利用分子束外延(MBE)技术成功生长了GaAs/AlGaAs非均匀量子阱红外探测器材料,并对相关微结构作了细致表征。分析比较了非均匀量子阱结构和常规量子阱红外探测器性能差异,并对比研究了不同势阱宽度下非均匀量子阱红外探测器的性能变化。通过高分辨透射电子显微镜(HRTEM)结合能谱仪(EDS)对非均匀量子阱红外探测器材料微结构进行了分析,并利用二次离子质谱仪(SIMS)对非均匀势阱掺杂进行了表征。结果表明,该量子阱外延材料晶体质量很好,量子阱结构和掺杂浓度也与设计值符合较好。对于非均匀量子阱红外探测器,通过改变每个阱的掺杂浓度和势垒宽度,可以改变量子阱电场分布,而与传统的均匀量子阱红外探测器相比,其暗电流显著下降(约一个数量级)。在不同阱宽下,非均匀量子阱的跃迁模式发生改变,束缚态到准束缚态跃迁模式下(B-QB)的器件具有较高的黑体响应率以及较低的暗电流。 展开更多
关键词 非均匀 量子阱 高分辨电镜 二次离子质谱 暗电流
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时间戳相机中心算法和解离电子/离子动量分布仿真
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作者 花晓宏 郭玉良 +3 位作者 阎天民 李帅 王新成 江玉海 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2024年第4期232-243,共12页
模拟仿真了速度成像谱仪中解离电子/离子飞行运动轨迹,获得电子/离子动量三维分布的真实图像,针对时间戳相机Tpx3Cam在动量分布探测成像中存在的团簇效应问题,发展了适用于高计数率情况下的中心算法。仿真结果显示,提出的中心算法可以... 模拟仿真了速度成像谱仪中解离电子/离子飞行运动轨迹,获得电子/离子动量三维分布的真实图像,针对时间戳相机Tpx3Cam在动量分布探测成像中存在的团簇效应问题,发展了适用于高计数率情况下的中心算法。仿真结果显示,提出的中心算法可以减少约一个数量级的数据容量,并让单像素位置精度提高到0.1像素,实现了粒子动量分布的超分辨位置成像。模拟ns态电子电离和N_(2)分子(1,1)通道库伦爆炸实验,发现中心算法能够使电子平行于探测器平面的动量分辨提升30%;使库伦爆炸产生的N^(+)飞行时间谱分辨提升80%。同时,在具有背景气体干扰情况下,对CO分子库伦爆炸产物离子进行半径协方差分析,提出的中心算法成功观测到C^(+)和O^(+)的关联。 展开更多
关键词 时间戳相机 成像算法 电子和离子探测 超分辨成像 速度成像谱仪
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一种强化汽车铝合金析出相的原子分辨电子显微学和谱学研究
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作者 胡谢君 李婷玉 +1 位作者 赖玉香 陈江华 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2024年第4期454-463,共10页
原子分辨率的电子显微学和谱学技术是研究析出强化铝合金微结构的最有力的手段和方法,特别是原子分辨率的EDS能谱成像技术为更深入地研究和认识铝合金中的析出强化相颗粒结构及其与铝基体的界面匹配关系至关重要。然而,迄今为止,对于汽... 原子分辨率的电子显微学和谱学技术是研究析出强化铝合金微结构的最有力的手段和方法,特别是原子分辨率的EDS能谱成像技术为更深入地研究和认识铝合金中的析出强化相颗粒结构及其与铝基体的界面匹配关系至关重要。然而,迄今为止,对于汽车轻量化用Al⁃Mg⁃Si合金中Mg、Si合金元素的亚稳析出聚集颗粒,原子分辨率的EDS能谱成像很难实现。本工作为国内首次报道对汽车用Al⁃Mg⁃Si合金中轻质Mg、Si元素的析出颗粒成功实现原子分辨率的EDS能谱成像的案例。作者利用最先进的透射电子显微镜技术研究了一种典型汽车用Al⁃Mg⁃Si合金在250℃时效强化过程中工艺-微结构-性能的演变关系。研究结果表明,富Mg合金在高温峰值时效阶段析出相的主要类型为β′相(Mg_(9)Si_(5))。通过先进原子分辨率的能谱成像揭示了β′相与Al基体界面层的精细原子结构和元素分布。β′相颗粒最外层总是以Mg原子层对接Al基体,这有助于帮助理解析出相界面能问题。本文的研究结果清楚解答了该合金硬度和屈服强度均得到显著提升的微结构原因。 展开更多
关键词 Al⁃Mg⁃Si合金 原子分辨能谱成像 析出相 电子显微学
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彩色激光打印印品套色误差成因及其对间色打印分辨力的影响
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作者 邹建武 陈德裕 李培芬 《计量与测试技术》 2024年第1期100-104,共5页
本文以彩色激光打印印品套色误差和间色打印分辨力为对象,采用不同鼓粉盒在相同测试条件下,使用同一台彩色激光打印机的测试样张,分析套色误差成因及对应关系。结果表明:鼓粉盒个体差异造成的套色误差会直接影响间色打印分辨力。
关键词 成像系统 套色误差 打印分辨力 原色 间色
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FIB-TOF-SIMS联用技术在矿物学研究中的应用 被引量:4
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作者 王涛 葛祥坤 +1 位作者 范光 郭冬发 《铀矿地质》 CAS CSCD 2019年第4期247-252,共6页
基于聚焦离子束扫描电子显微镜的飞行时间二次离子质谱联用技术同时具备了聚焦离子束高空间分辨率以及飞行时间二次离子质谱轻元素、同位素分析以及较低的元素检出限的优势。可以实现:扫描电镜下原位分析H、Li、Be、B等轻元素;元素分布... 基于聚焦离子束扫描电子显微镜的飞行时间二次离子质谱联用技术同时具备了聚焦离子束高空间分辨率以及飞行时间二次离子质谱轻元素、同位素分析以及较低的元素检出限的优势。可以实现:扫描电镜下原位分析H、Li、Be、B等轻元素;元素分布的纳米级横向空间分辨率;元素三维空间分布。能够同时得到纳米级矿物的形貌、元素组成以及元素空间分布信息,该技术在地学领域有广阔的应用前景。 展开更多
关键词 飞行时间二次离子质谱 聚焦离子束扫描电镜 元素三维空间分布 轻元素分析 纳米级空间分辨率
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Nanofabrication of 50 nm zone plates through e-beam lithography with local proximity effect correction for x-ray imaging 被引量:3
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作者 Jingyuan Zhu Sichao Zhang +8 位作者 Shanshan Xie Chen Xu Lijuan Zhang Xulei Tao Yuqi Ren Yudan Wang Biao Deng Renzhong Tai Yifang Chen 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2020年第4期456-461,共6页
High resolution Fresnel zone plates for nanoscale three-dimensional imaging of materials by both soft and hard x-rays are increasingly needed by the broad applications in nanoscience and nanotechnology.When the outmos... High resolution Fresnel zone plates for nanoscale three-dimensional imaging of materials by both soft and hard x-rays are increasingly needed by the broad applications in nanoscience and nanotechnology.When the outmost zone-width is shrinking down to 50 nm or even below,patterning the zone plates with high aspect ratio by electron beam lithography still remains a challenge because of the proximity effect.The uneven charge distribution in the exposed resist is still frequently observed even after standard proximity effect correction(PEC),because of the large variety in the line width.This work develops a new strategy,nicknamed as local proximity effect correction(LPEC),efficiently modifying the deposited energy over the whole zone plate on the top of proximity effect correction.By this way,50 nm zone plates with the aspect ratio from 4:1 up to 15:1 and the duty cycle close to 0.5 have been fabricated.Their imaging capability in soft(1.3 keV)and hard(9 keV)x-ray,respectively,has been demonstrated in Shanghai Synchrotron Radiation Facility(SSRF)with the resolution of 50 nm.The local proximity effect correction developed in this work should also be generally significant for the generation of zone plates with high resolutions beyond 50 nm. 展开更多
关键词 FRESNEL zone PLATES electron beam LITHOGRAPHY LOCAL PROXIMITY effect correction x-ray imaging 50 NM resolution
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Study of superstructure Ⅱ in multiferroic BiMnO_3
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作者 葛炳辉 李方华 +3 位作者 李雪明 王玉梅 迟振华 靳常青 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2008年第9期3163-3169,共7页
The crystal structure of the minor phase, named superstructure II, existing in multiferroic compound BiMnO3 has been studied by electron diffraction and high-resolution transmission electron microscopy. Domains of maj... The crystal structure of the minor phase, named superstructure II, existing in multiferroic compound BiMnO3 has been studied by electron diffraction and high-resolution transmission electron microscopy. Domains of major and minor phases coexisting in BiMnO3 were observed in high-resolution electron microscope images. The unit cell of minor phase was determined to be triclinic with the size 4×4×4 times as large as the distorted perovskite subcell. The [111] and [101] projected structure maps of the minor phase have been derived from the corresponding images by means of the image processing. A possible rough three-dimensional (3D) structure model was proposed based on the 3D structural information extracted from the two projected structure maps. Since there is no inversion centre in the proposed model, the minor phase may contribute to the ferroelectric property of BiMnO3. 展开更多
关键词 MULTIFERROICS BiMnO3 high-resolution transmission electron microscopy image pro cessing
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透射电子显微镜空间分辨率综述 被引量:3
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作者 尹美杰 健男 +1 位作者 张熙 刁东风 《深圳大学学报(理工版)》 CAS CSCD 北大核心 2023年第1期1-13,共13页
透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)具有超高的空间分辨率,是化学、材料科学、物理学、生物科学等领域最重要的研究手段之一.影响TEM空间分辨率的因素众多,不仅包括电镜自身结构和成像原理等,还有样品性质等原因.为... 透射电子显微镜(transmission electron microscope,TEM)具有超高的空间分辨率,是化学、材料科学、物理学、生物科学等领域最重要的研究手段之一.影响TEM空间分辨率的因素众多,不仅包括电镜自身结构和成像原理等,还有样品性质等原因.为系统且全面地了解TEM分辨率的涵义、原理与应用,本文通过回顾TEM空间分辨率的发展历史,从理论上厘清了TEM空间分辨率的概念、物理涵义、影响因素和适用范围;从电镜装置角度,分别概述了电子枪、磁透镜、图像探测器和电镜内外部环境对空间分辨率的影响规律,以及单色器、像差校正器和新型图像探测器的发展现状;从实际应用角度,重点介绍了样品过厚、电子束损伤、积碳和原子振动等降低空间分辨率的作用机理及解决途径.本文可为非电子显微学研究者们正确使用TEM提供参考. 展开更多
关键词 纳米科学与技术 透射电子显微学 空间分辨率 单色器 像差校正 图像探测器 厚样品 电子束敏感 积碳 原子振动
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微通道板斜切角对像增强器性能的影响研究
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作者 曾进能 李臻 +16 位作者 褚祝军 张简屏 李娇娇 乔芳建 李金沙 赵恒 龚燕妮 李廷涛 许有毅 陈坤杨 陈卫军 王乙瑾 汪云 李耀斌 刘倍宏 王光凡 李晓峰 《红外技术》 CSCD 北大核心 2023年第3期322-327,共6页
采用试验对比分析的方法,从MCP斜切角对像增强器的MCP噪声因子、分辨力、MCP增益三方面的影响展开研究。试验结果表明,MCP斜切角在5°~12°范围内时,MCP噪声因子与MCP斜切角呈抛物线关系,当MCP斜切角为9°时,MCP噪声因子最... 采用试验对比分析的方法,从MCP斜切角对像增强器的MCP噪声因子、分辨力、MCP增益三方面的影响展开研究。试验结果表明,MCP斜切角在5°~12°范围内时,MCP噪声因子与MCP斜切角呈抛物线关系,当MCP斜切角为9°时,MCP噪声因子最小;分辨力与斜切角呈负相关关系,当MCP斜切角为5°时,分辨力最大;MCP增益随斜切角的增加呈抛物线变化,当MCP斜切角为9°时,MCP增益最大。这主要是因为改变MCP斜切角后,光电子进入MCP通道前端二次电子发射层的角度深度不同,激发出的二次电子数及电子在MCP输出端形成的散射斑半径存在差异。若要选择最佳MCP斜切角,必须综合考虑不同场景下对像增强器主要性能指标的要求。 展开更多
关键词 像增强器 微通道板 MCP斜切角 分辨力 MCP噪声因子 MCP增益
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场发射扫描电子显微镜观测弱导电金属有机框架材料的参数探究 被引量:2
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作者 邢宏娜 常帅 +1 位作者 冯伟 李兴华 《分析测试技术与仪器》 CAS 2023年第2期160-169,共10页
金属有机框架材料(MOFs)的形貌结构对其性能应用具有很大影响,但MOFs普遍存在导电性差且对电子束敏感等问题,在进行扫描电子显微镜(SEM)测试时容易损伤样品,发生荷电现象.因此摸索合适的测试参数,对获得高质量的MOFs扫描电子显微镜图像... 金属有机框架材料(MOFs)的形貌结构对其性能应用具有很大影响,但MOFs普遍存在导电性差且对电子束敏感等问题,在进行扫描电子显微镜(SEM)测试时容易损伤样品,发生荷电现象.因此摸索合适的测试参数,对获得高质量的MOFs扫描电子显微镜图像具有重要意义.以MIL-101(Cr)、Fe-MOF、Mn-MOF、ZIF-67(Co)这4种典型的MOFs为例,主要探究了加速电压、电子束流、工作距离、探头及喷金对其成像效果的影响.结果表明,升高加速电压可有效提高图像分辨率,但同时电子束穿入深度增大,可能导致电荷击穿效应对其表面结构造成破坏.适当增大束流可提高图像信噪比,但过大的束流会导致纳米颗粒边缘变钝,因此选用0.1~0.4nA中等束流为佳.在选择探头时需注意,艾弗哈特-索恩利探头(ETD)和透镜内二次电子(T2)探头所成图像立体感较好,透镜内背散射电子(T1)探头的立体感弱,但衬度较好,柱内二次电子(T3)探头分辨率最佳,但更容易荷电,显得颗粒扁平.而喷金处理可有效提高样品的导电性.以上结果对使用SEM探究MOFs形貌结构具有一定的借鉴作用. 展开更多
关键词 场发射扫描电子显微镜 金属有机框架材料 荷电效应 图像分辨率
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低剂量电子显微表征下的出射波重构技术
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作者 施鸿晟 于奕 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2023年第6期748-758,共11页
原子级分辨率的成像表征对探究材料结构与性质间的联系具有重大意义。应用像差校正的高分辨电子显微成像技术(high⁃resolution transmission electron microscopy,HRTEM)可以实现亚埃尺度分辨率的图像表征,但电子束辐照敏感材料受限于... 原子级分辨率的成像表征对探究材料结构与性质间的联系具有重大意义。应用像差校正的高分辨电子显微成像技术(high⁃resolution transmission electron microscopy,HRTEM)可以实现亚埃尺度分辨率的图像表征,但电子束辐照敏感材料受限于辐照引起的结构损伤,无法用常规辐照剂量进行HRTEM成像表征。将出射波重构(exit wave reconstruction,EWR)技术应用于辐照敏感材料,一方面可以解决HRTEM图像中衬度反转的问题并提高图像分辨率至信息极限;另一方面,通过算法实现对信息的充分利用,适合于从低剂量数据中提取有效信息。采用低剂量EWR技术可以实现电子束敏感材料的原子级分辨率图像,为研究电子束辐照敏感材料提供更多可能性,也使针对出射波重构技术的研究具有更大的应用前景与科学意义。 展开更多
关键词 出射波重构 高分辨电子显微成像技术 低剂量显微成像
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电子定量包装秤自动化二次校准系统设计
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作者 程林 《现代电子技术》 2023年第24期34-38,共5页
为了自动化校准包装秤读数,提升电子定量包装秤应用价值,设计一种电子定量包装秤自动化二次校准系统。由计算机发出控制指令,控制电子定量包装秤校准器,检测其输出重量值,并通过标准器将输出的重量值发送给包装秤,待其读数稳定,继续由... 为了自动化校准包装秤读数,提升电子定量包装秤应用价值,设计一种电子定量包装秤自动化二次校准系统。由计算机发出控制指令,控制电子定量包装秤校准器,检测其输出重量值,并通过标准器将输出的重量值发送给包装秤,待其读数稳定,继续由计算机发送指令,控制摄像机采集包装秤显示图像;然后采用网络通信模块将图像发送至校准中心数据预处理模块,实施中值滤波去噪,并由计量校准模块调用去噪后图像数据,通过基于机器视觉的读数校准技术自动化校准电子定量包装秤读数结果,完成二次校准。实验结果表明,所设计系统可实现电子定量包装秤自动化二次校准,能够有效确保电子定量包装秤称量的准确性,在电子定量包装秤自动化二次校准工作中具有显著优势。 展开更多
关键词 电子定量包装秤 自动化二次校准系统 数据采集 图像去噪 中值滤波 机器视觉技术
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微通道板输入信号利用率提高研究 被引量:14
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作者 李晓峰 李廷涛 +2 位作者 曾进能 常乐 陈超 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2020年第3期176-180,共5页
分析了微通道板输入信号损失的原因,提出了在微通道板输入端镀制绝缘层,从而提高微通道板输入信号利用率的方法,并进行了试验.试验结果表明:在微通道板输入端镀制一层15nm的绝缘层,可以提高微通道板输入信号的利用率,从而提高微通道板... 分析了微通道板输入信号损失的原因,提出了在微通道板输入端镀制绝缘层,从而提高微通道板输入信号利用率的方法,并进行了试验.试验结果表明:在微通道板输入端镀制一层15nm的绝缘层,可以提高微通道板输入信号的利用率,从而提高微通道板的增益.绝缘层的二次电子发射系数越高,微通道板输入信号的利用率越高,增益提高的比例越大.对SiO2膜层而言,可以提高12%左右;对Al2O3膜层而言,可以提高35%左右.在微通道板增益提高的同时,像增强器的分辨力和调制传递函数会降低,并且绝缘层的二次电子发射系数越高,分辨力和调制传递函数降低的比例越大.但微通道板分辨力和调制传递函数降低的比例远低于增益提高的比例.本文提出的提高微通道板输入信号利用率的方法具有一定的实用性,可以推广使用. 展开更多
关键词 微通道板 像增强器 二次电子发射 分辨力 调制传递函数
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微通道板分辨力提高研究 被引量:13
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作者 李晓峰 常乐 +3 位作者 曾进能 李廷涛 赵恒 汤文梅 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第12期114-120,共7页
在微通道板输出端镀制一层逸出功更高的金属膜以覆盖原有的镍铬电极,从而减小微通道板输出电子的动能以及在荧光屏上的弥散,提高微通道板的分辨力.实验结果表明,在微通道板的输出端镀制一层20 nm厚的银层(逸出功为4.3 eV)后,微光像增强... 在微通道板输出端镀制一层逸出功更高的金属膜以覆盖原有的镍铬电极,从而减小微通道板输出电子的动能以及在荧光屏上的弥散,提高微通道板的分辨力.实验结果表明,在微通道板的输出端镀制一层20 nm厚的银层(逸出功为4.3 eV)后,微光像增强器的分辨力从60 lp/mm提高到64 lp/mm,提高了6.6%;而镀制一层20 nm厚的铂层(逸出功为6.4 eV)后,超二代像增强器的分辨力从60 lp/mm提高到68 lp/mm,提高13%.在分辨力提高的同时,微通道板的增益会下降,镀银和镀铂后的微通道板,增益分别下降到原有值的74%和33%.金属膜的逸出功越高,分辨力提高的百分比越高,增益下降的百分比也越高.所以采用该方法来提高微通道板分辨力时,需要采用高增益的微通道板,从而使微通道板的增益下降以后仍能满足使用要求. 展开更多
关键词 微通道板 像增强器 分辨力 逸出功 二次电子发射系数 原子层沉积
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扫描电镜与图像分析在储层研究中的联合应用 被引量:17
18
作者 曹寅 朱樱 黎琼 《石油实验地质》 CAS CSCD 2001年第2期221-225,共5页
该文主要论述采用新一代的扫描电镜和带有图像分析功能的能谱仪联合对砂岩和砂岩铸体进行分析。由于扫描电镜具有景深大、立体感强和分辨率高的特点 ,使砂岩分析可分别采用二次电子图像和背散射图像两种方法 ,不仅能获得砂岩的粒间孔隙... 该文主要论述采用新一代的扫描电镜和带有图像分析功能的能谱仪联合对砂岩和砂岩铸体进行分析。由于扫描电镜具有景深大、立体感强和分辨率高的特点 ,使砂岩分析可分别采用二次电子图像和背散射图像两种方法 ,不仅能获得砂岩的粒间孔隙、粒间胶结物、喉道连通性及配位数等信息 ,而且还可通过图像分析软件快速定量计算孔隙率。由此获得多种信息 ,再结合其他资料可对具体地区进行储层评价。 展开更多
关键词 二次电子 背散热电子 砂岩 铸体 喉道 配位数 图像分析 扫描电镜 储层 油气藏
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扫描电子显微镜成像信号分析 被引量:7
19
作者 陈长琦 干蜀毅 +1 位作者 朱武 王先路 《真空》 CAS 北大核心 2001年第6期42-44,共3页
介绍了扫描电子显微镜 (SEM)的基本工作原理 ,着重分析了在 SEM初始电子束作用下 ,各种成像信号产生的方式及其特点 ,确定二次电子信号因成像分辨率高、携带成像信息丰富而成为 SEM的最终信号源。针对此信号在实际应用中暴露出的缺陷 ,... 介绍了扫描电子显微镜 (SEM)的基本工作原理 ,着重分析了在 SEM初始电子束作用下 ,各种成像信号产生的方式及其特点 ,确定二次电子信号因成像分辨率高、携带成像信息丰富而成为 SEM的最终信号源。针对此信号在实际应用中暴露出的缺陷 ,介绍了解决办法 ,从而使 SEM的成像性能得以大幅提高 。 展开更多
关键词 扫描电子显微镜 成像信号 二次电子信号 工作原理 成像分辨率 信号处理 信号分析
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不同变质程度煤的高分辨率透射电镜分析 被引量:16
20
作者 李霞 曾凡桂 +3 位作者 司加康 王威 董夔 程丽媛 《燃料化学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第3期279-286,共8页
利用高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)分析了三种不同变质程度煤样的结构特征。基于傅里叶-反傅里叶变换方法,并结合Matlab、Arcgis和Auto CAD软件,通过图像分析技术,获得了HRTEM照片的晶格条纹参数。结果表明,三种煤样的晶格条纹呈现不... 利用高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)分析了三种不同变质程度煤样的结构特征。基于傅里叶-反傅里叶变换方法,并结合Matlab、Arcgis和Auto CAD软件,通过图像分析技术,获得了HRTEM照片的晶格条纹参数。结果表明,三种煤样的晶格条纹呈现不同特征,按条纹长度分别归属于1×1-8×8共计八个类型。以3×3为临界点,在1×1和2×2中,ML-8中芳香层片的比例高于DP-4和XM-3;在3×3-8×8中,ML-8中芳香层片的比例低于DP-4和XM-3。对比HRTEM和XRD参数d002发现,随着镜质组反射率的增加d002都呈现递减趋势。 展开更多
关键词 不同变质程度煤 高分辨率透射电子显微镜 图像分析
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