一种芯片智能检测系统的开发与设计

芯片智能检测系统是用于PA芯片寿命和性能的检测,保存、追溯管理与信息服务,开发此类快捷、高效的智慧检测系统以填补市场空白,具有首创性。相较于目前市场上人工检测5()%准确率以及每月千余片的检测量,本系统能达到98%的准确率,每月检测芯片数量不仅大大提升,同时PA芯片分类效率也不断提高。此外,利用信息技术实现了对检测芯片数据的可追溯管理,以提供权威、真实、透明的数据服务。未来其将迅速打开国内多元检测市场,致力于提供芯片检测智慧解决方案。