期刊文献+
共找到43篇文章
< 1 2 3 >
每页显示 20 50 100
Readout electronics for a high-resolution soft X-ray spectrometer based on silicon drift detector 被引量:3
1
作者 Er-Lei Chen Chang-Qing Feng +4 位作者 Shu-Bin Liu Chun-Feng Ye Dong-Dong Jin Jian Lian Hui-Jun Hu 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 2017年第1期94-99,共6页
The readout electronics for a prototype soft X-ray spectrometer based on silicon drift detector(SDD),for precisely measuring the energy and arrival time of X-ray photons is presented in this paper.The system mainly co... The readout electronics for a prototype soft X-ray spectrometer based on silicon drift detector(SDD),for precisely measuring the energy and arrival time of X-ray photons is presented in this paper.The system mainly consists of two parts,i.e.,an analog electronics section(including a pre-amplifier,a signal shaper and filter,a constant fraction timing circuit,and a peak hold circuit)and a digital electronics section(including an ADC and a TDC).Test results with X-ray sources show that an energy dynamic range of 1-10 keV with an integral nonlinearity of less than 0.1%can be achieved,and the energy resolution is better than 160 eV @ 5.9 keV FWHM.Using a waveform generator,test results also indicate that time resolution of the electronics system is about 3.7 ns,which is much less than the transit time spread of SDD(<100 ns)and satisfies the requirements of future applications. 展开更多
关键词 Energy and time measurement SOFT X-ray detection silicon drift detector READOUT ELECTRONICS
下载PDF
Surface passivation in n-type silicon and its application in silicon drift detector
2
作者 Yiqing Wu Ke Tao +2 位作者 Shuai Jiang Rui Jia Ye Huang 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2020年第3期406-411,共6页
Based on the surface passivation of n-type silicon in a silicon drift detector(SDD), we propose a new passivation structure of SiO2/Al2O3/SiO2 passivation stacks. Since the SiO2 formed by the nitric-acid-oxidation-of-... Based on the surface passivation of n-type silicon in a silicon drift detector(SDD), we propose a new passivation structure of SiO2/Al2O3/SiO2 passivation stacks. Since the SiO2 formed by the nitric-acid-oxidation-of-silicon(NAOS)method has good compactness and simple process, the first layer film is formed by the NAOS method. The Al2O3 film is also introduced into the passivation stacks owing to exceptional advantages such as good interface characteristic and simple process. In addition, for requirements of thickness and deposition temperature, the third layer of the SiO2 film is deposited by plasma enhanced chemical vapor deposition(PECVD). The deposition of the SiO2 film by PECVD is a low-temperature process and has a high deposition rate, which causes little damage to the device and makes the SiO2 film very suitable for serving as the third passivation layer. The passivation approach of stacks can saturate dangling bonds at the interface between stacks and the silicon substrate, and provide positive charge to optimize the field passivation of the n-type substrate.The passivation method ultimately achieves a good combination of chemical and field passivations. Experimental results show that with the passivation structure of SiO2/Al2O3/SiO2, the final minority carrier lifetime reaches 5223 μs at injection of 5×10^(15) cm^(-3). When it is applied to the passivation of SDD, the leakage current is reduced to the order of nA. 展开更多
关键词 SiO2/Al2O3/SiO2 STACKS CHEMICAL PASSIVATION field PASSIVATION silicon drift detector
下载PDF
Development of Electron Temperature Measuring System by Silicon Drift Detector
3
作者 SONG Xianying YANG Jinwei LIAO Min LI Xu ZHANG Yipo FUBingzhong LUO Cuiwen 《Southwestern Institute of Physics Annual Report》 2005年第1期20-22,共3页
The soft X-ray spectroscopy, laser Thomson scattering and electron cyclotron emission ( ECE ) are usually adopted for electron temperature measurement in fusion research of magnetic confinement. The particular soft ... The soft X-ray spectroscopy, laser Thomson scattering and electron cyclotron emission ( ECE ) are usually adopted for electron temperature measurement in fusion research of magnetic confinement. The particular soft X-ray spectroscopy has the very good spatial-temporal resolution and smaller measuring error than laser Thomson scattering, a close spatial-temporal resolution to ECE, absolute measurement ability, and smaller influence by suprathermal and runaway electrons than ECE. 展开更多
关键词 Soft X-ray spectroscopy silicon drift detector Electron temperature
下载PDF
Preliminary results for the design,fabrication,and performance of a backside-illuminated avalanche drift detector
4
作者 乔赟 梁琨 +1 位作者 陈文飞 韩德俊 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2013年第10期619-625,共7页
The detection of low-level light is a key technology in various experimental scientific studies. As a photon detector, the silicon photomultiplier (SiPM) has gradually become an alternative to the photomultiplier tu... The detection of low-level light is a key technology in various experimental scientific studies. As a photon detector, the silicon photomultiplier (SiPM) has gradually become an alternative to the photomultiplier tube (PMT) in many applications in high-energy physics, astroparticle physics, and medical imaging because of its high photon detection efficiency (PDE), good resolution for single-photon detection, insensitivity to magnetic field, low operating voltage, compactness, and low cost. However, primarily because of the geometric fill factor, the PDE of most SiPMs is not very high; in particular, for those SiPMs with a high density of micro cells, the effective area is small, and the bandwidth of the light response is narrow. As a building block of the SiPM, the concept of the backside-illuminated avalanche drift detector (ADD) was first proposed by the Max Planck Institute of Germany eight years ago; the ADD is promising to have high PDE over the full energy range of optical photons, even ultraviolet light and X-ray light, and because the avalanche multiplication region is very small, the ADD is beneficial for the fabrication of large-area SiPMs. However, because of difficulties in design and fabrication, no significant progress had been made, and the concept had not yet been verified. In this paper, preliminary results in the design, fabrication, and performance of a backside-illuminated ADD are reported; the difficulties in and limitations to the backside-illuminated ADD are analyzed. 展开更多
关键词 avalanche drift detector silicon photomultiplier photon detection efficiency photon detector
下载PDF
A method for correcting characteristic X-ray net peak count from drifted shadow peak 被引量:1
5
作者 Lin Tang Xing‑Ke Ma +2 位作者 Kai‑Bo Shi Yeng‑Chai Soh Hong‑Tao Shen 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE EI CAS CSCD 2023年第11期155-167,共13页
To correct spectral peak drift and obtain more reliable net counts,this study proposes a long short-term memory(LSTM)model fused with a convolutional neural network(CNN)to accurately estimate the relevant parameters o... To correct spectral peak drift and obtain more reliable net counts,this study proposes a long short-term memory(LSTM)model fused with a convolutional neural network(CNN)to accurately estimate the relevant parameters of a nuclear pulse signal by learning of samples.A predefined mathematical model was used to train the CNN-LSTM model and generate a dataset composed of distorted pulse sequences.The trained model was validated using simulated pulses.The relative errors in the amplitude estimation of pulse sequences with different degrees of distortion were obtained using triangular shaping,CNN-LSTM,and LSTM models.As a result,for severely distorted pulses,the relative error of the CNN-LSTM model in estimating the pulse parameters was reduced by 14.35%compared with that of the triangular shaping algorithm.For slightly distorted pulses,the relative error of the CNN-LSTM model was reduced by 0.33%compared with that of the triangular shaping algorithm.The model was then evaluated considering two performance indicators,the correction ratio and the efficiency ratio,which represent the proportion of the increase in peak area of the two characteristic peak regions of interest(ROIs)to the peak area of the corrected characteristic peak ROI and the proportion of the increase in peak area of the two characteristic peak ROIs to the peak areas of the two shadow peak ROI,respectively.Ten measurement results of the iron ore samples indicate that approximately 86.27%of the decreased peak area of the shadow peak ROI was corrected to the characteristic peak ROI,and the proportion of the corrected peak area to the peak area of the characteristic peak ROI was approximately 1.72%.The proposed CNN-LSTM model can be applied to X-ray energy spectrum correction,which is of great significance for X-ray spectroscopy and elemental content analyses. 展开更多
关键词 Peak correction Triangular shaping Deep learning Long short-term memory Convolutional neural network X-ray fluorescence spectroscopy silicon drift detector
下载PDF
硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断 被引量:6
6
作者 杨进蔚 张炜 +1 位作者 宋先瑛 李旭 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第4期331-334,共4页
采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1~20keV)辐射的能谱,获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,... 采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1~20keV)辐射的能谱,获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷却的特点,并采用高速ADC和海量缓存器,电子温度测量的时、空分辨能力接近汤姆逊散射和ECE等方法,而测量精确度、使用寿命、造价、抗干扰能力、适应性等方面优于后者,且信息获取量大,可获得多种等离子体参数而备受重视,是一种最先进的诊断手段。 展开更多
关键词 硅漂移探测器 软X射线能谱 电子温度 磁约束聚变装置
下载PDF
SDD-EDXRF中FP法无标样校正钒钛铁间吸收增强效应 被引量:3
7
作者 刘敏 庹先国 +2 位作者 李哲 石睿 张金钊 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第10期1192-1195,1200,共5页
依据基本参数法(FP法)无标样分析原理建立了数理模型,计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数,并将其应用于能量色散X荧光(EDXRF)分析。实验中,对V-Ti-Fe伪三元系样品利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-E... 依据基本参数法(FP法)无标样分析原理建立了数理模型,计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数,并将其应用于能量色散X荧光(EDXRF)分析。实验中,对V-Ti-Fe伪三元系样品利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF)进行能谱测量,采用自行开发的FP法无标样分析程序,分析得到了三元系混合样品中各元素的含量。结果表明该无标样数理模型能较好地克服V-Ti-Fe元素间的吸收增强效应,方法的精密度相对标准偏差低于0.9%,测量值与实际值的最低相对误差小于1%。 展开更多
关键词 FP法 无标样 能量色散X荧光分析 硅漂移探测器 伪三元系
下载PDF
FP法在SDD-EDXRF无标样分析技术中的应用研究 被引量:3
8
作者 刘敏 庹先国 +1 位作者 李哲 石睿 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第9期1096-1099,1104,共5页
为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe... 为实现能量色散X荧光(EDXRF)技术对元素含量的无标样分析,建立了基本参数法(FP法)数理分析模型,并计算得到了模型中质量吸收系数(μ)、激发因子(E)等关键参数。实验中,利用基于硅漂移探测器(SDD)的EDXRF测量系统(SDD-EDXRF),对Fe-Cu、Fe-Ti两种伪二元体系样品进行能谱测量,并采用自行开发的FP法计算程序,分析得到了混合样品中各元素含量,含量的计算值与实际值的最低相对误差小于2%,精密度相对标准偏差低于0.8%。结果表明,所建立的FP法分析模型,能较好克服元素间的吸收增强效应,可应用于SDD-EDXRF的无标样分析过程。 展开更多
关键词 能量色散X荧光分析 基本参数法 硅漂移探测器 伪二元系
下载PDF
硅漂移探测器中逃逸峰的分析与计算
9
作者 廖学亮 刘明博 +1 位作者 程大伟 沈学静 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2024年第5期1297-1300,共4页
能量色散X射线荧光光谱所使用的硅漂移探测器(SDD)在检测过程中会在个别含量较高待测元素所产生的较强特征峰的低能侧形成逃逸峰,其相应的特征峰也会损失一部分强度,逃逸峰的产生位置与探测器的成分有关;SDD探测器中入射特征峰与逃逸峰... 能量色散X射线荧光光谱所使用的硅漂移探测器(SDD)在检测过程中会在个别含量较高待测元素所产生的较强特征峰的低能侧形成逃逸峰,其相应的特征峰也会损失一部分强度,逃逸峰的产生位置与探测器的成分有关;SDD探测器中入射特征峰与逃逸峰之间的能量差值为1.739 keV,等于硅原子的K_(α)特征能量,逃逸峰的强度与入射X射线的强度成正比,即与相应元素的含量/特征峰强度成正比,通常的入射特征峰逃逸概率比较低,在逃逸峰强度较低时对测试结果影响较小,当基体元素含量较高时产生的逃逸峰较大就会导致测试结果偏差较大;通过理论计算可以看出,逃逸峰的产生概率与探测器角度及元素种类等条件有关,从硅原子的质量吸收系数的变化趋势可以发现,随着入射特征线能量的增大硅原子对其的质量吸收系数降低,相应入射线的逃逸峰产生概率也会降低。当逃逸峰与其他待测元素的特征能量峰位置有重合时,会干扰相应元素的准确测量,导致相应元素的特征峰强度偏大,尤其是当待测元素含量较低时,其产生的特征峰强度较小,逃逸峰导致的本底强度所产生的干扰相对更大,因此需要对逃逸峰进行准确计算和校正。搭建了相应的平台进行测试,并以Fe和Mn元素为例,通过对SDD探测器中两种元素产生的逃逸峰概率进行理论分析与计算,并与实际测试谱图得到的逃逸概率值进行对比,发现两种数据符合较好,并且经对比发现在Fe_(2)O_(3)样品中的Fe∶K_(β)线的逃逸峰与Cr∶K_(α)峰重合,Fe∶K_(α)线的逃逸峰与Ti∶K_(α)峰有部分重合,在扣去逃逸峰后可以降低检出限,以更好地对Cr和Ti进行准确定量,该方法可扩展到其他含量较高元素的逃逸峰计算与校正,尤其是在土壤、矿物、合金检测等个别元素含量较高的样品中多元素检测方面的应用,可提高X射线荧光方法的测试准确度。 展开更多
关键词 逃逸峰 能量色散X射线荧光光谱法 硅漂移探测器
下载PDF
HL-2A装置SDD软X射线能谱测量结果 被引量:1
10
作者 张轶泼 杨进蔚 +1 位作者 宋先瑛 刘仪 《核聚变与等离子体物理》 CAS CSCD 北大核心 2008年第1期11-16,共6页
用两道独立的硅漂移探测器(SDD)测量了HL-2A等离子体在电子回旋加热(ECRH)期间的软X射线能谱,给出了电子温度。SDD软X射线能谱测量系统所测量的结果与电子回旋辐射(ECE)所测量的电子温度分布能较好地相互吻合。SDD软X射线能谱测量结果表... 用两道独立的硅漂移探测器(SDD)测量了HL-2A等离子体在电子回旋加热(ECRH)期间的软X射线能谱,给出了电子温度。SDD软X射线能谱测量系统所测量的结果与电子回旋辐射(ECE)所测量的电子温度分布能较好地相互吻合。SDD软X射线能谱测量结果表明:在轴ECRH期间,等离子体芯部(z=0)得到加热的迹象比z=-16.4cm处更加显著,由此可推断出在轴ECRH期间ECW的能量主要沉积在等离子体芯部并且电子温度剖面趋于峰化。对2.41T≤环向磁场BT≤2.43T,1.5×1019 m-3≤电子密度ne≤2.5×1019m-3,300kW≤ECRH功率≤600 kW范围的ECRH数据的统计结果表明:ECRH使得等离子体中的电子得到显著的加热,芯部等离子体电子温度可提升30%~80%,z=-16.4cm处的电子温度可提升15%~55%。 展开更多
关键词 sdd 软X射线能谱 电子回旋共振加热
下载PDF
HL-2A装置SDD软X射线PHA阵列实验结果 被引量:2
11
作者 张轶泼 刘仪 +4 位作者 杨进蔚 宋先瑛 李旭 袁国梁 潘传红 《核聚变与等离子体物理》 CAS CSCD 北大核心 2010年第2期97-102,共6页
用软X射线脉冲高度分析(PHA)阵列系统获得了等离子体的电子温度剖面和电子速率分布的时间演化。测量结果表明,电子温度剖面在OH阶段较平缓,接近抛物线1.0×[1-(r/a)2]2分布;而在ECRH(功率0.8MW)阶段,等离子体中心(z=0)电子温度上升... 用软X射线脉冲高度分析(PHA)阵列系统获得了等离子体的电子温度剖面和电子速率分布的时间演化。测量结果表明,电子温度剖面在OH阶段较平缓,接近抛物线1.0×[1-(r/a)2]2分布;而在ECRH(功率0.8MW)阶段,等离子体中心(z=0)电子温度上升了0.6keV,边缘(z=30cm)处只上升了0.1keV,反映出ECRH功率沉积在等离子体中心区域;在ECRH期间有大量的高能电子产生,因而电子速率分布在ECRH期间显著改变;等离子体中心的高能电子的数量和能量都比等离子体边缘的增加更大,ECRH(~0.8MW)期间等离子体中心(z=0)产生的高能电子的能量可达17keV。分析表明:在ECRH(纵场Bt=1.3T)放电期间,ECRH加热效果显著,ECRH的功率主要沉积在等离子体中心附近;电子温度剖面在ECRH阶段较OH阶段峰化;ECRH期间有大量的高能电子产生,电子速率分布被改变成为非麦克斯韦分布。 展开更多
关键词 软X射线脉冲高度分析 硅漂移探测器 电子温度分布 电子速率分布 ECRH
下载PDF
基于FPGA的SDD探测器随机信号模拟发生器 被引量:1
12
作者 虞年 徐玉朋 +9 位作者 霍嘉 陈勇 崔苇苇 李炜 张子良 韩大炜 王于仨 陈灿 祝宇轩 赵晓帆 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2020年第8期80-85,共6页
设计了一款硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)信号模拟器用于测试SDD读出电子学的性能。该信号模拟器采用现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)作为核心器件,利用其丰富的可编程逻辑资源产生多组振荡环,将其... 设计了一款硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)信号模拟器用于测试SDD读出电子学的性能。该信号模拟器采用现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)作为核心器件,利用其丰富的可编程逻辑资源产生多组振荡环,将其输出相异或生成均匀分布的真随机数。首先通过伯努利试验将均匀分布的随机数转化为时间间隔服从指数分布的脉冲序列,然后对随机数进行了美国国家标准与技术研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)随机性测试,最后测试了信号模拟器输出脉冲的时间间隔和计数率特性,结果表明:SDD信号模拟器的输出脉冲时间间隔服从指数分布、输出计数率范围为1.6~813.8 ks^-1、输出脉冲的电压范围为2.5~50 mV、脉冲最小时间间隔为9.6 ns,并且可长时间稳定工作。 展开更多
关键词 硅漂移探测器 信号模拟器 真随机数产生器 指数分布 现场可编程门阵列
下载PDF
硅漂移探测器的制作工艺及特性研究 被引量:6
13
作者 吴广国 黄勇 +7 位作者 贾彬 曹学蕾 孟祥承 王焕玉 李秀芝 梁琨 杨茹 韩德俊 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期436-441,共6页
采用双面并行的平面工艺研制出了有源区面积5mm2的硅漂移探测器(SDD)。这种双面并行的平面工艺使得SDD绝大部分正面和背面的pn结结构能够并行完成,极大地减少了工艺步骤,降低了器件制作的难度。对研制的SDD的漏电流、电势分布、光电子... 采用双面并行的平面工艺研制出了有源区面积5mm2的硅漂移探测器(SDD)。这种双面并行的平面工艺使得SDD绝大部分正面和背面的pn结结构能够并行完成,极大地减少了工艺步骤,降低了器件制作的难度。对研制的SDD的漏电流、电势分布、光电子的漂移特性等进行了测量和分析,对238Puα射线源的能谱进行了测量,对正常工作状态下出现的悬空阳极电位进行了分析和讨论。报道了利用阳极漏电流、光电子漂移特性、悬空阳极电位对SDD芯片进行中测和封装前快速筛选的方法。 展开更多
关键词 硅漂移探测器 制作工艺 光响应度 漂移特性 悬空阳极电位
下载PDF
提高热场扫描电镜能谱空间分辨率的方法研究 被引量:3
14
作者 黎爽 邓平晔 《分析科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第6期824-828,共5页
本文采用薄片法原理,设计出已获专利授权的新型扫描电镜载样装置,并将其安装在扫描电镜中,对分散为薄层的混合纳米材料进行元素分布测试。应用热场电镜能谱(SDD)系统具有的稳定可变束流、高计数率等优点,在相同的实验条件下与冷场扫描... 本文采用薄片法原理,设计出已获专利授权的新型扫描电镜载样装置,并将其安装在扫描电镜中,对分散为薄层的混合纳米材料进行元素分布测试。应用热场电镜能谱(SDD)系统具有的稳定可变束流、高计数率等优点,在相同的实验条件下与冷场扫描电镜能谱(Si(Li))系统进行对比。实验结果说明:较传统方法,采用新方法提升了电镜能谱的空间分辨率,而且热场优于冷场的水平,元素分布的识别效果得到显著提高,热场电镜能谱的分析领域得到完善。该方法也为应用热场电镜能谱对纳米材料进行成分分析提供了新的思路。 展开更多
关键词 能谱空间分辨率 热场发射扫描电镜 薄片法 sdd硅漂移探测器
下载PDF
EAST上软X射线能谱诊断系统的研制 被引量:1
15
作者 张继宗 潘国强 +3 位作者 胡立群 王相綦 林士耀 徐立清 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2014年第7期37-42,共6页
采用多元硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)阵列和快速处理电子学系统在EAST托卡马克上构建了一套性能优异的软X射线能谱诊断系统,用于测量等离子体内在软X射线能段(1-30 keV)的辐射能谱。本系统观测范围覆盖了EAST等离子体的... 采用多元硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)阵列和快速处理电子学系统在EAST托卡马克上构建了一套性能优异的软X射线能谱诊断系统,用于测量等离子体内在软X射线能段(1-30 keV)的辐射能谱。本系统观测范围覆盖了EAST等离子体的下半空间,可在EAST上各种放电条件下获得电子温度分布。本系统具有较高的能量分辨率,可用于监测等离子体内的中高Z杂质。系统安装在EAST上并投入使用,验证了系统的可靠性和有效性并取得良好的实验结果。 展开更多
关键词 关键词东方超环(Experimental Advanced SUPERCONDUCTING TOKAMAK EAST) 软X射线能谱 硅漂移探测器(silicon drift detector sdd) 电子温度
下载PDF
X射线脉冲星导航动态模拟实验系统研制与性能测试 被引量:5
16
作者 徐能 盛立志 +4 位作者 张大鹏 陈琛 赵宝升 郑伟 刘纯亮 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2017年第5期328-334,共7页
本文设计了一种半实物实验系统,能模拟出航天器在地球轨道及深空飞行时接收脉冲星周期X射线信号的情形.该系统主要由动态信号数据库、X射线模拟源、真空系统和探测系统组成.模拟源可以模拟出任意波形的脉冲轮廓,探测系统的时间分辨率优... 本文设计了一种半实物实验系统,能模拟出航天器在地球轨道及深空飞行时接收脉冲星周期X射线信号的情形.该系统主要由动态信号数据库、X射线模拟源、真空系统和探测系统组成.模拟源可以模拟出任意波形的脉冲轮廓,探测系统的时间分辨率优于2μs,通过分析时间转化模型给出了动态信号生成方法.实验模拟了航天器在近地轨道飞行一周接收Crab脉冲信号,将采集的光子到达时间转换到太阳系质心时后累积脉冲轮廓与标准轮廓相关度为0.9882. 展开更多
关键词 X射线脉冲星导航 动态实验 X射线模拟源 硅漂移探测器
下载PDF
电子照射对硅漂移探测器性能的影响 被引量:2
17
作者 张斌全 韦飞 +1 位作者 冷双 王世金 《北京航空航天大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第2期235-238,共4页
由于高能电子辐射的长期照射,新一代太阳X射线探测器硅漂移传感器的探测性能可能发生变化.通过用电子放射源模拟空间电子对硅漂移探测器进行辐射照射试验,以测试电子照射对传感器能量分辨率、效率、信号幅度等性能的影响.试验结果表明,... 由于高能电子辐射的长期照射,新一代太阳X射线探测器硅漂移传感器的探测性能可能发生变化.通过用电子放射源模拟空间电子对硅漂移探测器进行辐射照射试验,以测试电子照射对传感器能量分辨率、效率、信号幅度等性能的影响.试验结果表明,长期的电子照射造成硅漂移探测器面损伤和体损伤,使其漏电流增大,信号幅度减小,能量分辨率也受到照射的影响,而探测效率未发生变化. 展开更多
关键词 太阳X射线 硅漂移探测器 电子 照射
下载PDF
EAST全超导托卡马克上硅漂移探测器软X射线能谱诊断 被引量:3
18
作者 许平 林士耀 +6 位作者 胡立群 张继宗 段艳敏 钟国强 卢洪伟 陈开云 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第6期757-763,共7页
采用性能优越的15道硅漂移探测器(SDD)阵列,在EAST全超导托卡马克上建立了1套较为完善的软X射线能谱诊断系统,用以测量等离子体在软X射线辐射能段(1~20keV)的能谱。该诊断系统的观测范围基本覆盖了整个等离子体空间,因此,可满足EAST不... 采用性能优越的15道硅漂移探测器(SDD)阵列,在EAST全超导托卡马克上建立了1套较为完善的软X射线能谱诊断系统,用以测量等离子体在软X射线辐射能段(1~20keV)的能谱。该诊断系统的观测范围基本覆盖了整个等离子体空间,因此,可满足EAST不同放电位形下电子温度测量的要求。利用该诊断系统,可获得时间分辨达50ms、空间分辨约为7cm的电子温度剖面。通过对比发现,由该诊断系统所得到的电子温度与其它电子温度诊断系统所测量的电子温度基本一致。此外,该诊断系统还可监测在软X射线能量范围内出现的一些金属杂质的特征线辐射。 展开更多
关键词 EAST托卡马克 电子温度 软X射线能谱 硅漂移探测器
下载PDF
一种基于热释电效应的X射线荧光分析谱仪 被引量:2
19
作者 董亦凡 樊瑞睿 +6 位作者 郭东亚 张春雷 高旻 汪锦州 刘雅清 周大卫 王焕玉 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第2期550-554,共5页
利用热释电晶体实现了一个X射线激发源,并以此激发源和高能量分辨率的硅漂移探测器构建了一个X射线荧光分析谱仪。首先通过分析计算热释电晶体厚度和靶厚度对产生X射线的影响选定了激发源的设计参数;然后测量了激发源发射的X射线本底,... 利用热释电晶体实现了一个X射线激发源,并以此激发源和高能量分辨率的硅漂移探测器构建了一个X射线荧光分析谱仪。首先通过分析计算热释电晶体厚度和靶厚度对产生X射线的影响选定了激发源的设计参数;然后测量了激发源发射的X射线本底,其能量范围在1~27keV,包含有Cu和Ta的特征X射线,最大强度在每秒3 000个计数以上,对本底的测量同时显示出谱仪的探测器部分对Cu的8.05keV特征峰的分辨率达到210eV,具有很高的能量分辨率;最后使用该谱仪测试了Fe,Ti和Cr等三种单质样品和高钛玄武岩样品,测试结果表明该谱仪可以有效的分析出样品的元素成分。由于这种X射线荧光分析谱仪的各组成部分体积都很小,进一步便携化后非常适合于非破坏、现场和快速的元素分析场合。 展开更多
关键词 热释电 硅漂移探测器 X射线荧光分析
下载PDF
新型半导体探测器发展和应用 被引量:13
20
作者 孟祥承 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第1期87-96,共10页
新型半导体探测器如硅微条、Pixel、CCD、硅漂移室等,近些年发展很快,在高能物理和天体物理实验中作为顶点及径迹探测器应用很广。主要是它们的位置分辨率非常高,像硅微条探测器,目前可做到好于1.4μm,这是任何气体探测器和闪烁探测器... 新型半导体探测器如硅微条、Pixel、CCD、硅漂移室等,近些年发展很快,在高能物理和天体物理实验中作为顶点及径迹探测器应用很广。主要是它们的位置分辨率非常高,像硅微条探测器,目前可做到好于1.4μm,这是任何气体探测器和闪烁探测器很难做到的。主要介绍这些新型半导体探测器的结构、原理、及其发展在高能物理、天体物理、核医学等领域应用。 展开更多
关键词 半导体探测器 硅微条探测器 像素探测器 硅片探测器 电荷耦合探测器 硅漂移室
下载PDF
上一页 1 2 3 下一页 到第
使用帮助 返回顶部