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Morphology Investigation of Electrolessly Deposited Ag Film on Ag-Activated p-Type Silicon(111) Wafer
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作者 佟浩 王春明 《Chinese Journal of Chemistry》 SCIE CAS CSCD 2006年第4期457-462,共6页
A method of electroless silver deposition on silver activated p-type silicon(111) wafer was proposed. The silver seed layer was deposited firstly on the wafer in the solution of 0.005 mol/L AgNO3 +0.06 mol/L HE The... A method of electroless silver deposition on silver activated p-type silicon(111) wafer was proposed. The silver seed layer was deposited firstly on the wafer in the solution of 0.005 mol/L AgNO3 +0.06 mol/L HE Then the silver film was electrolessly deposited on the seed layer in the electroless bath of AgNO3+NH3+acetic acid+NH2NH2 (pH 10.2). The morphology of the seed layer and the silver films prepared under the condition of the different bath composition was compared by atomic force microscopy. The reflectance of the silver films with different thickness was characterized by Fourier transform infrared spectrometry. The experimental results indicate that the seed layer possesses excellent catalytic activity toward electroless silver deposition and rotating of the silicon wafer during the electroless silver deposition could lead to formation of the smoother silver film. 展开更多
关键词 silicon(111) wafer electroless deposition silver
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硅电极/溶液界面开路电位-时间谱和原子力显微镜在化学镀Ag中的应用研究 被引量:18
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作者 佟浩 王春明 《化学学报》 SCIE CAS CSCD 北大核心 2002年第11期1923-1928,共6页
用开路电位 -时间谱技术 ,表征了在硅 (10 0 )表面化学镀银的硅电极 /溶液界面吸附态 .所得结果与原子力显微镜在纳米尺寸上的面结构信息分析结果作了对比 .同时也将该结果与循环伏安法 (CV)结果作了比较 .证明当硅电极表面具有单层吸附... 用开路电位 -时间谱技术 ,表征了在硅 (10 0 )表面化学镀银的硅电极 /溶液界面吸附态 .所得结果与原子力显微镜在纳米尺寸上的面结构信息分析结果作了对比 .同时也将该结果与循环伏安法 (CV)结果作了比较 .证明当硅电极表面具有单层吸附Ag+ 离子、表面单层吸附Ag+ 离子发生沉积反应、Ag+ 离子发生本体沉积时的开路电位 -时间曲线有完全不同的特征 . 展开更多
关键词 硅电极/溶液 界面 开路电位-时间谱技术 原子力显微镜 硅(100) 表面化学镀 镀银 集成电路 金属薄膜
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银纳米颗粒/多孔硅复合材料的制备与气敏性能研究 被引量:4
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作者 严达利 李申予 +1 位作者 刘士余 竺云 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2015年第13期346-352,共7页
采用双槽电化学腐蚀法以电阻率为10—15Ω·cm的p型<100>晶向的单晶硅片制备了孔径约为1.5μm,孔深约为15—20μm的p型多孔硅,并以此多孔硅作为基底采用无电沉积法通过调控沉积时间在其表面沉积了不同厚度的银纳米颗粒薄膜.... 采用双槽电化学腐蚀法以电阻率为10—15Ω·cm的p型<100>晶向的单晶硅片制备了孔径约为1.5μm,孔深约为15—20μm的p型多孔硅,并以此多孔硅作为基底采用无电沉积法通过调控沉积时间在其表面沉积了不同厚度的银纳米颗粒薄膜.采用扫描电子显微镜和X射线衍射仪表征了银纳米颗粒/多孔硅复合材料的形貌和微观结构,结果表明银纳米颗粒较均匀的分布于多孔硅的表面上且沉积时间对产物的形貌有重要影响.采用静态配气法在室温下研究了银纳米颗粒/多孔硅复合材料对NH3的气敏性能.气敏测试结果表明沉积时间对产物的气敏性能影响较大.当沉积时间较短时,适量银纳米颗粒掺杂的多孔硅复合材料由于其较高的比表面积以及特殊的形貌和结构,对NH3气体表现出较高的灵敏度、优良的响应/恢复性能.室温下,其对50 ppm的NH3气体的气敏灵敏度可以达到5.8左右. 展开更多
关键词 多孔硅 银纳米颗粒 无电沉积 气敏性能
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聚乙二醇类表面活性剂对硅表面无电沉积Ag膜光滑作用研究 被引量:3
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作者 佟浩 乔志清 +2 位作者 景粉宁 李梦柯 王春明 《电化学》 CAS CSCD 2003年第1期81-86,共6页
 应用原子力显微镜技术及开路电位~时间谱技术,研究了非离子表面活性剂聚乙二醇2000,6000,20000对硅(100)表面无电沉积银膜的光滑作用.实验表明硅(100)表面无电沉积银的光滑程度以及镀层的质量均随聚乙二醇聚合度的增加而变好.
关键词 表面活性剂 硅表面 无电沉积 Ag膜 光滑作用 开路电位-时间谱技术 原子力显微镜 银膜
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