微凸体分布计算方法对曲面接触预测的影响

为借助Greenwood-Williamson(GW)接触模型开展粗糙表面接触分析,基于微凸体识别的参数定义法和基于随机过程理论的谱矩法都被广泛用于微凸体分布参数计算。为厘清应用不同计算方法产生的接触求解差异,针对粗糙曲面接触,利用快速傅里叶变换重构获得不同统计分布下的粗糙表面随机样本,由三点定义法和谱矩法分别计算仿真样本的微凸体峰点分布参数,对样本开展GW接触分析,得到两种计算方法下接触预测结果,对结果进行了对比讨论,分析了样本表面统计分布参数、高通滤波常数、曲率半径和载荷的影响。最后,通过试验数据对谱矩法的计算偏差进行了检验,对微凸体分布参数计算给出了建议。

频率选择表面电磁仿真

文中采用谱域法对频率选择表面(FrequencySelectiveSurfaces)进行仿真,谱域法是与矩量法结合在一起的。谱域法与国内常用的模式匹配法相比能仿真具有更复杂形状的FSS单元,且在计算多个介质夹层中的FSS计算量小,并能得出非常理想的仿真结果并用于设计。本文采用这种方法得到的结果与实测结果相吻合。

低RCS的双层缝隙阵FSS雷达天线罩的设计与分析

文章采用谱域法并结合互阻抗法,对低RCS双层FSS天线罩进行了仿真设计,并就多层介质衬底影响下的频率特性进行了分析。与其他方法相比,谱域法能仿真更复杂的FSS单元,求解模型简单,计算量小,能得出非常理想的仿真结果。文章采用这种方法得到的分析结果与实测结果相符合。