大规模数字集成电路标准矩阵功能测试新方法

本文提出了一种对 VLSI电路功能测试的方法,可以同时检测和定位 VLSI电路输入和输出端上的固定故障和桥接故障,而不需要知道它们的内部逻辑结构。因而,对于简化测试过程、降低测试成本, 具有十分重要的实际意义。