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题名亚65nm及以下节点的光刻技术
被引量:1
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作者
徐晓东
汪辉
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机构
上海交通大学微电子学院
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第11期921-925,共5页
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基金
上海市浦江人才计划项目(05PJ14068)
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文摘
由于193 nm浸入式光刻技术的迅速发展,它被业界广泛认为是65 nm和45 nm节点首选光刻技术。配合双重曝光技术,193 nm浸入式光刻技术还可能扩展到32 nm节点,但是光刻成本会成倍增长,成品率会下降。随着ASML在2006年推出全球第一款EUV曝光设备,人们纷纷看好EUV技术应用到32 nm及以下节点,但是它仍需克服很多技术和经济上的挑战。对于22 nm节点,电子束直写是最可行,成本最低的候选方案,业界将在它与EUV技术之间做出抉择。
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关键词
亚65nm
浸入式光刻
极紫外线
电子束直写
分辨率增强技术
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Keywords
sub-65 nm
immersion lithography
EUV
E-beam direct writing
RET ( resolution enhancement technology)
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分类号
TN305.7
[电子电信—物理电子学]
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