基于MTM总线的边界扫描控制器设计与实现

超大规模集成电路和组装工艺快速发展,电路板结构和功能日趋复杂,将边界扫描技术应用于系统级测试,对提高系统的可靠性和可维护性具有重要的实用意义;在深入研究IEEE1149.5和IEEE1149.1标准的基础上,对基于MTM总线的边界扫描控制器结构进行了研究,解决了IEEE1149.5与IEEE1149.1协议转换中的关键技术,设计实现了内嵌边界扫描功能的MTM总线从模块,使用SpartanⅡ器件实现了基于MTM总线的边界扫描控制器;仿真和实验结果表明,IEEE1149.5总线接口、IEEE1149.1端口和TAP控制器功能正确,符合系统层次化测试的实际要求。