期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展
被引量:
1
1
作者
邱峰
梁松海
《测控技术》
CSCD
1999年第1期28-30,共3页
在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上,讨论了研究与发展IEEE1149.1可测试性设计技术的重要意义,以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。
关键词
可测试性设计
边界扫描测试
VLSI
超大规模
下载PDF
职称材料
题名
IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展
被引量:
1
1
作者
邱峰
梁松海
机构
中国航天工业总公司测控公司测控系统部
清华大学微电子所
出处
《测控技术》
CSCD
1999年第1期28-30,共3页
文摘
在分析VLSI可测试性设计技术的发展情况和设计准则的基础上,讨论了研究与发展IEEE1149.1可测试性设计技术的重要意义,以及该技术在我国民用和军用工业应用的前景。
关键词
可测试性设计
边界扫描测试
VLSI
超大规模
Keywords
testability
,
testability design
,
boundary-scan test
,
ieee 1149. 1 standard
分类号
TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
IEEE1149.1可测试性设计技术的研究与发展
邱峰
梁松海
《测控技术》
CSCD
1999
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部