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MFS结构钛酸铋薄膜的C-V特性研究 被引量:3
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作者 郭冬云 王耘波 +3 位作者 于军 王雨田 王宝义 魏龙 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第2期180-182,共3页
 利用sol gel方法在p Si(111)基底上制备钛酸铋薄膜。测量不同退火温度下得到的In/BTO/p Si结构的C V曲线,测量结果表明制备的MFS结构钛酸铋薄膜在合适的制备工艺下可望实现极化型存储。
关键词 MFS结构 钛酸铋薄膜 c-v特性 制备 铁电材料 FFET 信息存储
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SiC隐埋沟道MOS结构夹断模式下的C-V特性畸变 被引量:3
2
作者 郜锦侠 张义门 张玉明 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第7期1259-1263,共5页
用数值和解析的方法研究了SiC隐埋沟道MOS结构夹断模式下C-V特性的畸变.隐埋沟道MOSFET中存在一个pn结,在沟道夹断以后,半导体表面耗尽区和pn结耗尽区连在一起,这时总的表面电容是半导体表面耗尽区电容和pn结电容的串联,使埋沟MOS结构的... 用数值和解析的方法研究了SiC隐埋沟道MOS结构夹断模式下C-V特性的畸变.隐埋沟道MOSFET中存在一个pn结,在沟道夹断以后,半导体表面耗尽区和pn结耗尽区连在一起,这时总的表面电容是半导体表面耗尽区电容和pn结电容的串联,使埋沟MOS结构的C-V特性发生畸变.文中通过求解泊松方程,用解析的方法分析了这种畸变发生的物理机理,并对栅电容进行了计算,计算结果与实验结果符合得很好. 展开更多
关键词 埋沟MOS结构 夹断模式 c-v特性 SIc 畸变
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GaN基MFS结构C-V特性研究 被引量:2
3
作者 胡辉勇 张鹤鸣 +2 位作者 崔敏 戴显英 宋建军 《电子器件》 CAS 2010年第6期684-686,共3页
采用溶胶-凝胶法(Sol-Gel)在n型GaN衬底上制备了PZT铁电薄膜及其相应的金属-铁电体-半导体(MFS)结构,测量了该MFS结构的C-V特性,从理论上分析了所制备的MFS结构的阈值特性。阈值电压的实验与理论分析结果吻合较好。采用PZT铁电薄膜作为... 采用溶胶-凝胶法(Sol-Gel)在n型GaN衬底上制备了PZT铁电薄膜及其相应的金属-铁电体-半导体(MFS)结构,测量了该MFS结构的C-V特性,从理论上分析了所制备的MFS结构的阈值特性。阈值电压的实验与理论分析结果吻合较好。采用PZT铁电薄膜作为GaN基MFS结构的栅介质,利用其高介电常数和较强的极化电场可以显著降低GaN基MFS器件的工作电压。 展开更多
关键词 PZT铁电薄膜 溶胶—凝胶法 MFS结构 c-v特性 阈值电压
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难熔固体MX(M=Sc,Ti,V;X=C,N,O)电子结构和力学性质的密度泛函研究 被引量:1
4
作者 李俊篯 章永凡 《高等学校化学学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第3期460-464,共5页
采用密度泛函方法对 MX( M=Sc,Ti,V;X=C,N,O)固体的体相电子结构和力学性质进行了系统研究 .计算结果表明 ,对于金属原子相同的同一系列化合物 ,氮化物具有最大的体模量 ;进一步的研究可知 ,随着外界压力的增大 ,化合物由 Na Cl构型向 C... 采用密度泛函方法对 MX( M=Sc,Ti,V;X=C,N,O)固体的体相电子结构和力学性质进行了系统研究 .计算结果表明 ,对于金属原子相同的同一系列化合物 ,氮化物具有最大的体模量 ;进一步的研究可知 ,随着外界压力的增大 ,化合物由 Na Cl构型向 Cs Cl构型转变由易到难的顺序依次是氧化物、氮化物和碳化物 .本文还首次用密度泛函方法系统地计算了各化合物的能带结构和态密度 ,并对该类型化合物的导电性能进行了探讨 . 展开更多
关键词 过渡金属碳化物 密度泛函理论 能带结构 态密度 体模量 力学性质 过渡金属氮化物 过渡金属氧化物
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溶胶-凝胶法制备Bi_2O_3-ZnO-Nb_2O_5薄膜及GaN MIS结构C-V特性
5
作者 舒斌 张鹤鸣 +2 位作者 王青 黄大鹏 宣荣喜 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第9期1406-1410,共5页
采用溶胶-凝胶法制备出高介电常数的Bi2O3-ZnO-Nb2O5(BZN)薄膜.总结出适合作为GaN金属-绝缘层-半导体场效应晶体管(MISFET)栅介质的BZN薄膜的原料配比、烧结温度和保温时间等工艺参数,解决了原料溶解、粘稠度、浸润度等工艺问题.同时,... 采用溶胶-凝胶法制备出高介电常数的Bi2O3-ZnO-Nb2O5(BZN)薄膜.总结出适合作为GaN金属-绝缘层-半导体场效应晶体管(MISFET)栅介质的BZN薄膜的原料配比、烧结温度和保温时间等工艺参数,解决了原料溶解、粘稠度、浸润度等工艺问题.同时,结合半导体工艺制造出以BZN薄膜为绝缘介质的GaNMIS结构,通过测量到的高频C-V特性曲线,得到薄膜的相对介电常数为91,MIS结构的强反型电压为-3.4V,平带电压为-1.9V. 展开更多
关键词 溶胶-凝胶 铋锌铌薄膜 金属-绝缘层-半导体结构 电容-电压曲线
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熔凝玻璃薄膜的形成及其C-V特性
6
作者 戴国瑞 孙颖 +2 位作者 童茂松 王宗昌 张英兰 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第3期187-190,共4页
报道了在成功地研制彩色电视机用的高反压大功率晶体管钝化玻璃粉的基础上 ,摸索了采用电泳涂覆技术以形成一定厚度的高质量熔凝玻璃薄膜的方法 ,用差热分析 (DTA)技术确定了玻璃粉的软化温度、烧结温度分别为 5 90和 6 80℃。用X射线衍... 报道了在成功地研制彩色电视机用的高反压大功率晶体管钝化玻璃粉的基础上 ,摸索了采用电泳涂覆技术以形成一定厚度的高质量熔凝玻璃薄膜的方法 ,用差热分析 (DTA)技术确定了玻璃粉的软化温度、烧结温度分别为 5 90和 6 80℃。用X射线衍射 (XRD)和光电子能谱 (XPS)对薄膜的物相和组份进行了分析 ,同时 ,将熔凝玻璃薄膜做成金属 绝缘体 半导体 (MIS)结构 ,对样品进行了C V特性测量 ,固定电荷密度为 1 4× 10 10 cm-2 ,可动离子数为 1 2× 10 11cm-2 。 展开更多
关键词 玻璃薄膜 电泳涂覆 结构分析 c-v特性
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HCV结构基因腺病毒表达载体骨架质粒pAd.HCV-S的构建、鉴定及表达
7
作者 郝春秋 周永兴 +3 位作者 冯志华 李谨革 贾战生 王平忠 《医学研究生学报》 CAS 2001年第5期377-381,共5页
目的:构建能表达HCV结构基因(C+E1+E2)的腺病毒表达载体的重组骨架质粒,为进一步包装能高效表达HCV结构基因的腺病毒载体做准备. 方法:用分别含有BglⅡ及HindⅢ酶切位点的HCV结构基因上、下游引物,以含有HCV H株基因序列的质... 目的:构建能表达HCV结构基因(C+E1+E2)的腺病毒表达载体的重组骨架质粒,为进一步包装能高效表达HCV结构基因的腺病毒载体做准备. 方法:用分别含有BglⅡ及HindⅢ酶切位点的HCV结构基因上、下游引物,以含有HCV H株基因序列的质粒pBRTM/HCV1-3011为模板,通过PCR扩增获得HCV结构基因片段,基因片段回收后,以BglⅡ及HindⅢ双酶切,定向插入到腺病毒骨架质粒pAd.CMV-Link.1中CMV启动子下游BglⅡ与HindⅢ位点之间,获得重组表达质粒pAd.HCV-S.通过Bgl Ⅱ/HindⅢ双酶切、PCR及插入片段序列测定对质粒进行了鉴定.以抗HCV C单克隆抗体为一抗,利用间接免疫荧光法检测了pAd.HCV-S在人肝癌细胞7721中的瞬时表达. 结果:酶切、PCR及测序鉴定证实,pAd.HCV-S插入片段为HCV C+E1+E2区基因片段,免疫荧光法检测表明其可以在7721细胞中瞬时表达. 结论:构建的质粒pAd.HCV-S可以表达HCV结构基因,为包装表达HCV结构基因的腺病毒载体奠定了基础. 展开更多
关键词 丙型肝炎病毒 结构基因 腺病毒 表达载体 Hcv
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SiO_2-Si_3N_4栅介质膜陷阱特性的高频C-V分析
8
作者 黄君凯 易清明 +2 位作者 刘伟平 钟雨乐 张坤 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2003年第2期236-240,共5页
采用高频 C-V特性测试技术 ,研究由热氧化生成的超薄 Si O2 膜和低压化学汽相淀积法制备的非均匀结构 Si3N4膜 ,两者组成的栅介质膜的陷阱特性 (包括陷阱密度、能量和空间分布深度等参数 )。结果表明 :在栅复合膜陷阱电荷非稳态释放模... 采用高频 C-V特性测试技术 ,研究由热氧化生成的超薄 Si O2 膜和低压化学汽相淀积法制备的非均匀结构 Si3N4膜 ,两者组成的栅介质膜的陷阱特性 (包括陷阱密度、能量和空间分布深度等参数 )。结果表明 :在栅复合膜陷阱电荷非稳态释放模型下建立的高频 C-V理论及其分析方法 ,可以很好地表征实验曲线 。 展开更多
关键词 金属—氮化硅—二氧化硅—硅结构 存储陷阱分布 高频容—压特性 SiO2—Si3N4栅介质膜 陷阱特性 非挥发性存储器
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MFS和MFOS结构的C-V特性研究
9
作者 于军 周文利 +1 位作者 曹广军 谢基凡 《华中理工大学学报》 CSCD 北大核心 1996年第1期79-81,共3页
采用SOL-GEL方法分别在Si和含有SiO2的衬底上制备出PZT铁电薄膜,并获得了MFS和MFOS结构.利用MOS结构常用的C-V特性分析方法,对MFS和MFOS结构进行了高频C-V特性测试分析,研究了F/(O)S... 采用SOL-GEL方法分别在Si和含有SiO2的衬底上制备出PZT铁电薄膜,并获得了MFS和MFOS结构.利用MOS结构常用的C-V特性分析方法,对MFS和MFOS结构进行了高频C-V特性测试分析,研究了F/(O)S的界面特性,结果表明,金属/PZT/SiO2/Si的MFOS结构具有较低的界面态,可实现极化存储,并可望制成铁电场效应晶体管. 展开更多
关键词 场效应晶体管 MFOS结构 c-v特性 铁电薄膜
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An/C_(60)-Polymer/P-Si结构C-V特性
10
作者 管玉国 戴国瑞 《吉林大学自然科学学报》 CSCD 1996年第3期56-58,共3页
报道了利用PECVD技术在P-Si衬底抛光面上淀积含C60聚合物薄膜及在薄膜表面蒸金形成An/C60-Polymer/P-Si结构.通过常温及温偏处理后的不同C-V特性,推算了聚合物薄膜中的几种电荷密度和介电常数,并... 报道了利用PECVD技术在P-Si衬底抛光面上淀积含C60聚合物薄膜及在薄膜表面蒸金形成An/C60-Polymer/P-Si结构.通过常温及温偏处理后的不同C-V特性,推算了聚合物薄膜中的几种电荷密度和介电常数,并对经过温偏处理后C-V曲线的畸变做了讨论. 展开更多
关键词 薄膜 c-v特性 碳60 高聚物 有机半导体
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胶体金量子点浮置栅MOS结构的制备及其C-V特性
11
作者 李卫 《南京邮电大学学报(自然科学版)》 2010年第5期55-58,共4页
通过单相相转移法合成了胶体金纳米粒子,利用异种电荷之间的静电相互吸引作用,采用自组装技术制备了二维有序纳米金阵列。在此基础上,制备了在氧化层中内嵌纳米金颗粒的金属-氧化层-半导体(MOS)结构,并研究了其C-V特性。扫描电镜显示... 通过单相相转移法合成了胶体金纳米粒子,利用异种电荷之间的静电相互吸引作用,采用自组装技术制备了二维有序纳米金阵列。在此基础上,制备了在氧化层中内嵌纳米金颗粒的金属-氧化层-半导体(MOS)结构,并研究了其C-V特性。扫描电镜显示金粒子的直径在6~7 nm左右,C-V测量结果显示胶体金量子点浮置栅MOS结构存在3V左右的平带电压偏移。通过这种方法制备的胶体金量子点浮置栅MOS结构可以在非挥发性存储器研究方面展现巨大的应用前景。 展开更多
关键词 金属-氧化层-半导体(MOS)结构 电容-电压(c-v) 纳米金颗粒 自组装
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YG8硬质合金表面的C+V双离子注入研究 被引量:2
12
作者 王世兴 熊碧军 +2 位作者 李聪 田修波 杨士勤 《哈尔滨工业大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2011年第7期102-106,共5页
为了增强YG8硬质合金的性能,应用金属蒸汽真空弧离子源在其表面进行了几种不同剂量的C+V双离子注入处理.通过金相显微镜、X射线衍射以及拉曼光谱等方法,对注入试样表面进行了结构表征和分析.实验结果表明:注入后硬质合金表面有C、VC和V... 为了增强YG8硬质合金的性能,应用金属蒸汽真空弧离子源在其表面进行了几种不同剂量的C+V双离子注入处理.通过金相显微镜、X射线衍射以及拉曼光谱等方法,对注入试样表面进行了结构表征和分析.实验结果表明:注入后硬质合金表面有C、VC和V7O3等新相生成,且C+V双离子注入对形成类金刚石结构有积极地促进作用;此外,还发现了样品表面的硬度、摩擦系数以及防腐蚀能力等性能均得到明显的改善.分析认为,硬质合金表面的C+V双离子注入改性,不仅受到了新相生成的的影响,而且与注入本身的机制相关. 展开更多
关键词 YG8硬质合金 表面改性 c+v双离子注入 类金刚石结构
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MOS结构准静态测试中的异常C-V曲线
13
作者 刘可辛 罗升旭 +2 位作者 郑中山 王继春 王子建 《微电子学》 CAS CSCD 1989年第3期16-18,7,共4页
本文报导了MOS结构在准静态测试中的异常电容-电压曲线。讨论了它们产生的原因。
关键词 MOS结构 准静态 c-v测量 c-v曲线
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MOS结构界面性质的变频C-V研究
14
作者 王永生 郑有炓 张荣 《南京大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 1990年第2期211-222,共12页
本文提出了一种用于MOS界面测量的方法,能够测量半导体/氧化层界面的界面态密度、时间常数、俘获截面在禁带中的能量分布,还能够用于研究界面深能级及氧化层电荷陷阱态。此方法对样品漏电及测量环境要求较低,具有较大的实用意义。
关键词 MOS 结构 界面 测量 c-v 变频
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用L-B膜实现MIS结构的C-V特性研究
15
作者 沈潮 张学敏 +3 位作者 冀文芝 宫明宣 张亮 李铁津 《佳木斯工学院学报》 CAS 1997年第2期109-114,共6页
测定了多种具有金属/L-B膜绝缘层/半导体(Si)结构的纳米厚度有机功能膜的C-V特性.研究发现C-V特性受到L-B膜的分子组分和氧化膜厚度的影响.
关键词 L-B膜 MIS结构 c-v特性 半导体器件
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对《L-B膜绝缘层》在常温下的CV特性研究
16
作者 孙飞 王艳博 翼文芝 《中国医学物理学杂志》 CSCD 1998年第4期202-204,共3页
测定了多种具有金属/L-B膜绝缘层/半导体(Si)结构的纳米厚度有机功能膜的C-V特性。
关键词 L-B膜 c-v特性 分子组分 氧化膜
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能性式“VO不C”的结构来源:重新分析 被引量:1
17
作者 刘丽媛 《语言科学》 CSSCI 北大核心 2022年第3期225-239,共15页
“VO不C”(推之不动)形式由表结果到表能力,其句法结构的演变机制在历时句法研究中仍属未解之谜。文章基于生成语法理论的“重新分析致变论”,发现能性式“VO不C”是由述补型连动式重新分析而来,重新分析的过程是在历时传递中下一代人... “VO不C”(推之不动)形式由表结果到表能力,其句法结构的演变机制在历时句法研究中仍属未解之谜。文章基于生成语法理论的“重新分析致变论”,发现能性式“VO不C”是由述补型连动式重新分析而来,重新分析的过程是在历时传递中下一代人将上一代人的连动式错误地理解为能性式,重新分析的关键是句法上的“时空要素”在两代人的历时传递中发生重新组合,由实然的连动式重新分析为非实然的能性式,语义上原来按照时序依次呈现的因果两个事件变成“断言”之下时空折叠中的单一事件。这一分析,既可以解释“VO不C”能性式的句法生成机制,也可以推演解释不能发生重新分析的各类现象,以及连动式不可句法内嵌、能性式可内嵌的现象等。 展开更多
关键词 能性式 “vO不c” 重新分析 历时句法 时空要素
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“V-得-C”结构中“得”字的省略
18
作者 马乐 《钦州学院学报》 2013年第10期27-30,共4页
"V-得-C"结构中"得"字一般被学术界认为是结构助词,此助词主要用于连接述补结构中的述语和宾语。"V-得-C"结构中"C"有多种分类,"得"字其中一类是可以省略的包括两种情况:省略后意思... "V-得-C"结构中"得"字一般被学术界认为是结构助词,此助词主要用于连接述补结构中的述语和宾语。"V-得-C"结构中"C"有多种分类,"得"字其中一类是可以省略的包括两种情况:省略后意思不变;省略后意思发生变化;另一类是不能省略,各种出现情况均有条件和规律。 展开更多
关键词 “v-得-c”结构 分类 省略 变化
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构式化理论视域下述补结构“V得C”的来源考察
19
作者 王世琪 《萍乡学院学报》 2023年第5期72-76,共5页
现代汉语中,常见的述补结构可分为两种:粘合式述补结构和组合式述补结构。其中,组合式述补结构“V得C”源于古汉语中动词与“得”相结合形成的“V得O”结构。“V得O”结构形成之后经历了一系列构式演变。从与获得义动词结合到与非获得... 现代汉语中,常见的述补结构可分为两种:粘合式述补结构和组合式述补结构。其中,组合式述补结构“V得C”源于古汉语中动词与“得”相结合形成的“V得O”结构。“V得O”结构形成之后经历了一系列构式演变。从与获得义动词结合到与非获得义动词结合,从开放其宾语位置纳入带有补充作用的体词性成分再到纳入动词、主谓短语、形容词等谓词性成分,“V得O”结构最终得以构式化为述补结构“V得C”,其演变机制背后有着复杂的演变动因,包括语义背景、句法环境以及“V得C”结构与致使图式的错配。从构式化角度,我们仍然可以认为,述补结构“V得C”萌芽于南北朝时期,在唐代正式产生。 展开更多
关键词 述补结构“v得c 构式化 演变机制 演变动因
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N对V-微合金化钢15MnVq的组织和性能的影响
20
作者 高彩茹 刘海泉 +1 位作者 韩菲 杜林秀 《特殊钢》 北大核心 2009年第4期68-70,共3页
通过100kg真空感应炉,分别添加V-N合金和V-Fe合金熔炼成15MnVNq钢(%:0.15C、1.71Mn、0.11V、0.019 ON)和15MnVq钢(%:0.15C、1.72Mn、0.11V、0.003 3N),并轧制成14 mm钢板。试验结果表明,15MnVq钢中加入0.019%的N促进V(C,N)析出和明显细... 通过100kg真空感应炉,分别添加V-N合金和V-Fe合金熔炼成15MnVNq钢(%:0.15C、1.71Mn、0.11V、0.019 ON)和15MnVq钢(%:0.15C、1.72Mn、0.11V、0.003 3N),并轧制成14 mm钢板。试验结果表明,15MnVq钢中加入0.019%的N促进V(C,N)析出和明显细化钢的组织,钢的屈服和抗拉强度分别由393 MPa和578 MPa提高至510 MPa和660 MPa,-20℃冲击功A_(KV)由21.9 J提高到101.8J;同时加N后明显降低了15MnVq钢的时效敏感性。 展开更多
关键词 v-微合金化钢 N v(c N) 组织 力学性能
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