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Si热敏电阻的R-T特性与其结构间关系的研究
1
作者
李国正
刘润民
《传感技术学报》
CAS
CSCD
1995年第2期24-27,共4页
通过对Si热敏电阻的R-T特性的测试和分析,得到了R-T特性与元件结构之间的一些有益的关系.
关键词
热敏电阻
正温度系数
硅
R-T特性
元件结构
下载PDF
职称材料
题名
Si热敏电阻的R-T特性与其结构间关系的研究
1
作者
李国正
刘润民
机构
西安交通大学电子工程系
出处
《传感技术学报》
CAS
CSCD
1995年第2期24-27,共4页
文摘
通过对Si热敏电阻的R-T特性的测试和分析,得到了R-T特性与元件结构之间的一些有益的关系.
关键词
热敏电阻
正温度系数
硅
R-T特性
元件结构
Keywords
thermal resistor ptc silicon
分类号
TN373 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
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1
Si热敏电阻的R-T特性与其结构间关系的研究
李国正
刘润民
《传感技术学报》
CAS
CSCD
1995
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