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Thin Film Chip Resistors with High Resistance and Low Temperature Coefficient of Resistance 被引量:5
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作者 王秀宇 张之圣 +1 位作者 白天 刘仲娥 《Transactions of Tianjin University》 EI CAS 2010年第5期348-353,共6页
High resistance thin film chip resistors(0603 type) were studied,and the specifications are as follows:1 k? with tolerance about ±0.1% after laser trimming and temperature coefficient of resistance(TCR) less than... High resistance thin film chip resistors(0603 type) were studied,and the specifications are as follows:1 k? with tolerance about ±0.1% after laser trimming and temperature coefficient of resistance(TCR) less than ±15×10-6/℃.Cr-Si-Ta-Al films were prepared with Ar flow rate and sputtering power fixed at 20 standard-state cubic centimeter per minute(sccm) and 100 W,respectively.The experiment shows that the electrical properties of Cr-SiTa-Al deposition films can meet the specification requirements of 0603 type thin film chip resistors when the deposition time was about 11 min and deposition films were annealed at 500 ℃ for 120 min.The morphologies of Cr-Si-TaAl film surfaces were examined by scanning electron microscopy(SEM).The analysis suggests that Ta and Al may be distributed in CrSi2 film with mixed form of several structures(e.g.,bridge-like,capillary-like or island-like structures),and such a structure distribution is responsible for high film resistance and low TCR of Cr-Si-Ta-Al film. 展开更多
关键词 薄电影薄片电阻器 高抵抗 抵抗的低温度系数 合金目标 磁性的劈啪作响 Cr-si-Ta-Al 电影
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Fabrication of Si-PDMS Low Voltage Capillary Electrophoresis Chip
2
作者 Wenwen GU Zhiyu WEN +3 位作者 Zhongquan WEN Yi XU Fengfei LIANG Xiaoguo HU 《Engineering(科研)》 2009年第2期111-116,共6页
This paper discusses the fabrication of Si-PDMS low voltage capillary electrophoresis chip (CE chip). Arrayed-electrode which is used to apply low separation voltage is fabricated along the sidewalls of the separation... This paper discusses the fabrication of Si-PDMS low voltage capillary electrophoresis chip (CE chip). Arrayed-electrode which is used to apply low separation voltage is fabricated along the sidewalls of the separation channel on the silicon based bottom part. Isolation trenches, which are placed surrounding the arrayed-electrode, insure the insulation between the arrayed-electrode, as well as arrayed-electrode and liquid in the micro channel. Polydimethylsilicone (PDMS) is used as the cover. PDMS and silicon based bottom part are reversible sealed to attain Si-PDMS low voltage CE chip. Experiments have been done to obtain optimum electrophoresis separation condition: separation voltage is 45V, switch time is 2s and the Phe and Lys electrophoresis separation is successful. 展开更多
关键词 Low VOLTAGE Arrayed-Electrode si-PDMS CE chip
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Subsurface damage and bending strength analysis for ultra-thin and flexible silicon chips 被引量:1
3
作者 JIAN Wei WANG ZhaoXian +3 位作者 JIN Peng ZHU Longji CHEN Ying FENG Xue 《Science China(Technological Sciences)》 SCIE EI CAS CSCD 2023年第1期215-222,共8页
Subsurface damage(SSD) is an unavoidable problem in the precision mechanical grinding for preparing ultra-thin and flexible silicon chips. At present, there are relatively few studies on the relationship between SSD a... Subsurface damage(SSD) is an unavoidable problem in the precision mechanical grinding for preparing ultra-thin and flexible silicon chips. At present, there are relatively few studies on the relationship between SSD and the bending strength of ultra-thin chips under different grinding parameters. In this study, SSD including amorphization and dislocation is observed using a transmission electron microscope. Theoretical predictions of the SSD depth induced by different processing parameters are in good agreement with experimental data. The main reasons for SSD depth increase include the increase of grit size, the acceleration of feed rate, and the slowdown of wheel rotation speed. Three-point bending test is adopted to measure the bending strength of ultra-thin chips processed by different grinding conditions. The results show that increasing wheel rotation speed and decreasing grit size and feed rate will improve the bending strength of chips, due to the reduction of SSD depth. Wet etching and chemical mechanical polishing(CMP) are applied respectively to remove the SSD induced by grinding, and both contribute to providing a higher bending strength, but in comparison, CMP works better due to a smooth surface profile. This research aims to provide some guidance for optimizing the grinding process and fabricating ultra-thin chips with higher bending strength. 展开更多
关键词 ultra-thin chip flexible chip subsurface damage bending strength mechanical grinding
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阵列式低功耗Si-PIN个人剂量仪设计
4
作者 胡天宇 曾国强 +3 位作者 葛良全 魏世龙 王涛 张开琪 《核电子学与探测技术》 CAS 北大核心 2016年第8期795-798,803,共5页
采用瑞士TEVISO的阵列式Si-PIN探测器探测X、γ射线;以低功耗PIC单片机为核心,设计了低功耗电源转换电路、一键开关机电路、按键与LCD显示、蜂鸣器等,并采用多种单片机软件设计方法降低功耗。该个人剂量仪具有脉冲计数、剂量当量率实时... 采用瑞士TEVISO的阵列式Si-PIN探测器探测X、γ射线;以低功耗PIC单片机为核心,设计了低功耗电源转换电路、一键开关机电路、按键与LCD显示、蜂鸣器等,并采用多种单片机软件设计方法降低功耗。该个人剂量仪具有脉冲计数、剂量当量率实时显示及存储,可查看测量时间与历史数据,报警阈值设置与报警等功能。 展开更多
关键词 低功耗设计 个人剂量仪 PIC单片机 si—PIN探测器
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SI-PROG编程器的工作原理及其程序设计
5
作者 安郁宽 李宏光 闫鹏 《现代电子技术》 2009年第8期14-16,21,共4页
介绍SI-PROG编程器的工作原理,利用PC机串口UART芯片实现单片机的ISP下载。PC机串口8250芯片中SOUT,DTR,RTS,CTS四个引脚的电平可通过其内部的几个寄存器分别进行控制或读取,利用引脚可实现单片机的ISP下载。介绍了8250与单片机之间通... 介绍SI-PROG编程器的工作原理,利用PC机串口UART芯片实现单片机的ISP下载。PC机串口8250芯片中SOUT,DTR,RTS,CTS四个引脚的电平可通过其内部的几个寄存器分别进行控制或读取,利用引脚可实现单片机的ISP下载。介绍了8250与单片机之间通信信号的逻辑关系以及电平转换,分析了接收器的阈值电压的特点,给出了使用SI-PROG编程器的条件。最后,以AVR单片机为例介绍了下载程序设计。结果表明,利用PC机串口UART芯片可以实现对AVR单片机的ISP下载,其硬件电路和软件设计都很简单。 展开更多
关键词 si—PROG编程器 程序设计 UART AVR单片机
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Si基埋置型GaAs芯片封装技术及其热分析 被引量:3
6
作者 赵敏 周健 +1 位作者 孙浩 伍滨和 《电子器件》 CAS 北大核心 2020年第3期477-481,共5页
传统贴置型芯片封装集成度低、散热效果差,为提高GaAs芯片的封装集成度与散热效果,基于MEMS异质集成技术提出一种毫米波硅埋置型三维封装模型结构,借助COMSOL软件开展热学仿真优化,得到芯片温度与封装基板厚度、底座厚度、涂覆银浆厚度... 传统贴置型芯片封装集成度低、散热效果差,为提高GaAs芯片的封装集成度与散热效果,基于MEMS异质集成技术提出一种毫米波硅埋置型三维封装模型结构,借助COMSOL软件开展热学仿真优化,得到芯片温度与封装基板厚度、底座厚度、涂覆银浆厚度、硅通孔(TSV)距离芯片中心位置及个数的变化规律,获得芯片埋置的热学最优化工艺参数。最终确定的模型集成度高、体积小、散热效果好,封装体积仅为20 mm×10 mm×1 mm,可以实现三维堆叠,芯片工作温度要比传统贴片封装模型降低13.64℃,符合芯片正常工作的温度需求。 展开更多
关键词 封装散热 GaAs芯片 si基埋置型 TSV通孔 热学仿真
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The thermal analysis of the heat dissipation system of the charging module integrated with ultra-thin heat pipes 被引量:1
7
作者 Tingzhen Ming Xiwang Liao +4 位作者 Tianhao Shi Kui Yin Zhiyi Wang Mohammad Hossein Ahmadi Yongjia Wu 《Energy and Built Environment》 2023年第5期506-515,共10页
Electric vehicles(EV)played an important role fighting greenhouse gas emissions that contributed to global warming.The construction of the charging pile,which was called as the"gas station"of EV,developed ra... Electric vehicles(EV)played an important role fighting greenhouse gas emissions that contributed to global warming.The construction of the charging pile,which was called as the"gas station"of EV,developed rapidly.The charging speed of the charging piles was shorted rapidly,which was a challenge for the heat dissipation system of the charging pile.In order to reduce the operation temperature of the charging pile,this paper proposed a fin and ultra-thin heat pipes(UTHPs)hybrid heat dissipation system for the direct-current(DC)charging pile.The L-shaped ultra-thin flattened heat pipe with ultra-high thermal conductivity was adopted to reduce the spreading thermal resistance.ICEPAK software was used to simulate the temperature and flow profiles of the new design.And various factors that affected the heat dissipation performance of the system were explored.Simulation results showed that the system had excellent heat dissipation capacity and achieved good temperature uniformity.Rather than solely relied on the fans,this new design efficiently dissipated heat with a lower fan load and less energy consumption. 展开更多
关键词 ICEPAK simulation Charging pile heat transfer ultra-thin heat pipe chip cooling
原文传递
一种高集成射频接收前端 被引量:4
8
作者 黄贞松 宋艳 +1 位作者 许庆 杨磊 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2015年第4期352-356,共5页
采用氮化铝陶瓷基板、硅外延法制作的PIN二极管芯片、砷化镓工艺单片低噪声放大器、硅集成驱动芯片、多芯片组件工艺技术设计的接收前端,在1-4GHz频带内插入损耗小于0.4dB,可通过连续波功率80 W,噪声系数小于1.0dB,增益大于30dB,1dB压... 采用氮化铝陶瓷基板、硅外延法制作的PIN二极管芯片、砷化镓工艺单片低噪声放大器、硅集成驱动芯片、多芯片组件工艺技术设计的接收前端,在1-4GHz频带内插入损耗小于0.4dB,可通过连续波功率80 W,噪声系数小于1.0dB,增益大于30dB,1dB压缩点输出功率大于10dBm,尺寸为6.0mm×6.0mm×1.2mm的塑料封装。高集成的射频接收前端可广泛应用于TD-SCDMA和TD-LTE系统。 展开更多
关键词 氮化铝陶瓷 砷化镓 多芯片组件工艺 硅集成驱动芯 接收前端
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结构形式对多芯片子系统激光密封质量的影响 被引量:1
9
作者 禹胜林 薛松柏 +2 位作者 严伟 纪宣 朱小军 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2014年第5期79-82,117,共5页
利用激光焊接的优点,采用ANSYS软件对多芯片子系统Al-50Si壳体与盖板(4047铝合金)激光密封的结构进行分析,并进行了实物验证.结果表明,结构形式是影响多芯片子系统激光密封质量的关键因素,方形结构激光焊缝应力比异形结构高出36%以上(根... 利用激光焊接的优点,采用ANSYS软件对多芯片子系统Al-50Si壳体与盖板(4047铝合金)激光密封的结构进行分析,并进行了实物验证.结果表明,结构形式是影响多芯片子系统激光密封质量的关键因素,方形结构激光焊缝应力比异形结构高出36%以上(根据ANSYS分析结果),实物验证的方形结构激光焊缝气密性比异形结构低一个数量级.其原因是激光焊接后,方形结构的焊缝因焊接应力产生了焊接裂纹,影响了焊缝的气密性.采用Al-50%Si复合材料制作的多芯片子系统壳体与4047铝合金盖板异形接头形式,可以有效地降低激光焊缝的应力,从而避免焊接裂纹的产生.结果表明,异形结构的焊缝氦泄漏率可以达到8.9×10-9Pa·m3/s,满足了多芯片子系统壳体气密封装要求. 展开更多
关键词 多芯片 铝硅合金 激光焊接 泄漏率
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双E型硅加速度传感器的研制 被引量:4
10
作者 唐世洪 张克梅 《传感技术学报》 CAS CSCD 2001年第4期340-343,共4页
本文在简要介绍了 ,利用硅的各向异性腐蚀工艺研制的 ,双 E非整体弹性膜式硅芯片结构的同时 ,又较详细地报告了 ,用此芯片封装成的硅加速度敏感元件及硅加速度传感器结构 。
关键词 各向异性腐蚀 双E型硅弹性膜 硅加速度传感器
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应用于裸芯片去污的气相清洗技术 被引量:5
11
作者 林文海 《电子工艺技术》 2014年第2期84-87,共4页
军用和民用微型电子产品的MCM、HIC等复杂混合电路正在越来越多地采用裸芯片,然而,裸芯片由于尺寸小、电路密集、焊盘间距小等原因,在进行组装的过程中一旦有微量的污染物出现,就会对裸芯片的应用造成较大影响。气相清洗通过清洗溶剂蒸... 军用和民用微型电子产品的MCM、HIC等复杂混合电路正在越来越多地采用裸芯片,然而,裸芯片由于尺寸小、电路密集、焊盘间距小等原因,在进行组装的过程中一旦有微量的污染物出现,就会对裸芯片的应用造成较大影响。气相清洗通过清洗溶剂蒸汽在组件表面冷凝,形成液体滴下带走污染物,避免了传统的通过机械力、超声振动等清洗方式对裸芯片造成的不可修复的损伤。对限幅二极管砷化镓裸芯片、硅基裸芯片进行气相清洗,有效除去裸芯片表面的污染物,具有无损高效的特点。 展开更多
关键词 气相清洗 硅裸芯片 砷化镓裸芯片 金丝性能
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类脑芯片:“芯”中的电磁波 被引量:1
12
作者 李尔平 陶拓旻 马涵之 《安全与电磁兼容》 2021年第3期9-11,共3页
人工智能目前处于第三次高速发展期,人工智能算法的发展离不开其物理基础——类脑芯片。类脑芯片特殊的传输信号和电路架构,将引起全新的电磁完整性问题。传统的自动化设计软件无法适用于类脑芯片,针对类脑芯片的新型模拟及设计技术和... 人工智能目前处于第三次高速发展期,人工智能算法的发展离不开其物理基础——类脑芯片。类脑芯片特殊的传输信号和电路架构,将引起全新的电磁完整性问题。传统的自动化设计软件无法适用于类脑芯片,针对类脑芯片的新型模拟及设计技术和方法亟待开发。在类脑芯片发展前期加入电磁完整性的研究具有重要的科学价值和广泛的工业应用前景。 展开更多
关键词 类脑芯片 电磁兼容 信号完整性 人工智能 电子设计自动化
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一个单片机串行数据采集串行数据传输模块的设计 被引量:4
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作者 吴勇军 陈庆光 张永建 《山东科技大学学报(自然科学版)》 CAS 2000年第4期60-62,共3页
以AT89C2051单片机为核心,设计了一个串行数据采集、串行数据传输模块,给出了硬件构成和软件设计。实践表明,该模块采样精度高、可靠性好、使用方便,较好地实现了串行数据的采集和传输。
关键词 串行A/D转换器 串行数据传输 串行数据采集 模块
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硅微尖锥冷阴极微加工及其场发射器件物理
14
作者 陈阳 章易 +1 位作者 黄一峰 佘峻聪 《真空电子技术》 2022年第6期23-28,42,共7页
片上集成驱动控制电极的硅微尖锥是一类重要的场致电子发射阴极(冷阴极),具有驱动电压低、集成度高、加工流程与集成电路工艺兼容的特点,在微型化真空电子器件上具有应用潜力。本文介绍片上集成硅微尖锥冷阴极关键微纳加工方法及原理,... 片上集成驱动控制电极的硅微尖锥是一类重要的场致电子发射阴极(冷阴极),具有驱动电压低、集成度高、加工流程与集成电路工艺兼容的特点,在微型化真空电子器件上具有应用潜力。本文介绍片上集成硅微尖锥冷阴极关键微纳加工方法及原理,分析硅微尖锥冷阴极场发射器件物理,展望硅微尖锥冷阴极的应用前景。 展开更多
关键词 场致电子发射 片上集成硅尖锥 自对准微加工 杂质分凝 产生电流 热助场发射
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硅基77GHz汽车雷达收发芯片研究综述 被引量:2
15
作者 潘东方 陈隆章 孙利国 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2018年第5期667-671,共5页
综合评述了硅基77GHz汽车雷达收发芯片的技术背景、研究现状以及面临的挑战。首先,介绍了毫米波汽车雷达的频谱划分、制作工艺和雷达体制选择。在此基础上,总结分析了近十年汽车雷达收发芯片领域的技术演进和发展趋势,分别介绍了SiGe工... 综合评述了硅基77GHz汽车雷达收发芯片的技术背景、研究现状以及面临的挑战。首先,介绍了毫米波汽车雷达的频谱划分、制作工艺和雷达体制选择。在此基础上,总结分析了近十年汽车雷达收发芯片领域的技术演进和发展趋势,分别介绍了SiGe工艺和CMOS工艺下77GHz雷达收发芯片以及最新毫米波电路技术。最后,提出了毫米波汽车雷达芯片所面临的挑战。 展开更多
关键词 硅基 毫米波 汽车雷达 收发芯片
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硅基自旋量子比特技术研究进展
16
作者 戴永红 赖凡 刘荣贵 《微电子学》 CAS 北大核心 2021年第1期91-95,共5页
量子芯片是运用量子力学基本原理构建实用化计算机的基础。各国研究团队通过近几年的卓越研究工作,将硅基量子比特芯片技术发展成量子计算的核心方向之一。文章重点归纳了Si自旋量子比特的主要类型,分析了可靠量子计算实现所要求的高保... 量子芯片是运用量子力学基本原理构建实用化计算机的基础。各国研究团队通过近几年的卓越研究工作,将硅基量子比特芯片技术发展成量子计算的核心方向之一。文章重点归纳了Si自旋量子比特的主要类型,分析了可靠量子计算实现所要求的高保真度、长程耦合等指标的关键技术。这些技术的研究表明,硅是一个能实现全面量子计算发展的可行平台。 展开更多
关键词 量子计算 自旋量子比特 芯片
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A model for nanogrinding based on direct evidence of ground chips of silicon wafers 被引量:6
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作者 ZHANG ZhenYu HUO YanXia GUO DongMing 《Science China(Technological Sciences)》 SCIE EI CAS 2013年第9期2099-2108,共10页
Nanometer chips were directly fabricated using face nanogrinding carried out by ultrafine diamond grits at room temperature. Direct evidence for ground nanometer chips is cuboid, and the average ratio of width to thic... Nanometer chips were directly fabricated using face nanogrinding carried out by ultrafine diamond grits at room temperature. Direct evidence for ground nanometer chips is cuboid, and the average ratio of width to thickness is 1.49. Chips of 9.0 nm in thickness, 13.3 nm in width, and 16.0 in diagonal were achieved and confirmed using transmission electron microscopy. Based on the nanometer chips observed, a model was proposed according to the mass conservation and fundamental mechanism of face grinding. The surface roughness and thickness of damaged layers measured experimentally are in good agreement with the prediction of the developed model. The feed rate significantly affects the surface roughness and thickness of damaged layers, when keeping the wheel and table speeds constant, respectively. 展开更多
关键词 纳米芯片 模型 证据 地面 透射电子显微镜 表面粗糙度 硅片 超细金刚石
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深孔加工技术在管制造业中的扩展应用 被引量:3
18
作者 张银东 吴伏家 《机械管理开发》 2004年第3期32-34,共3页
介绍了深孔加工SIED技术在管制造业中的应用,提出了和冷拔冷轧等技术相结合的方法来制造各种常规孔加工技术难以加工的超深或微小超长精密管件。
关键词 深孔 冷拔 冷轧 siED
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8098单片机在可控硅功率调节系统中的应用 被引量:1
19
作者 吴朝木 《梧州学院学报》 2007年第3期24-26,共3页
该文介绍了在可控硅功率调节系统中,采用8098单片机HSO端作为控制信号输出通道的硬件和软件设计。
关键词 8098单片机 可控硅 功率调节
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BESⅢ主漂移室内室升级MAPS芯片探针台测试系统设计
20
作者 周传兴 董明义 +2 位作者 鞠旭东 董静 欧阳群 《核电子学与探测技术》 北大核心 2017年第3期225-230,共6页
为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描... 为满足北京谱仪Ⅲ主漂移室内室升级MAPS芯片测试需要,设计了一套用于芯片功能检查的芯片探针台测试系统。该系统实现了批量芯片JTAG通讯、芯片功耗、像素箝位电压、读出数据等芯片的功能检查,并可以进行芯片噪声水平以及甄别器阈值扫描等初步测试。芯片的探针台测试不仅在非邦定的情况下完成了芯片的筛选,同时可为后续芯片在探测器上工作时的阈值等参数配置提供参考。 展开更多
关键词 单片型有源像素芯片 硅像素探测器 探针卡 芯片探针台测试
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