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Random Networks and Aligned Arrays of Single-Walled Carbon Nanotubes for Electronic Device Applications 被引量:6
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作者 Qing Cao John A.Rogers 《Nano Research》 SCIE EI CSCD 2008年第4期259-272,共14页
Singled-walled carbon nanotubes(SWNTs),in the form of ultrathin fi lms of random networks,aligned arrays,or anything in between,provide an unusual type of electronic material that can be integrated into circuits in a ... Singled-walled carbon nanotubes(SWNTs),in the form of ultrathin fi lms of random networks,aligned arrays,or anything in between,provide an unusual type of electronic material that can be integrated into circuits in a conventional,scalable fashion.The electrical,mechanical,and optical properties of such fi lms can,in certain cases,approach the remarkable characteristics of the individual SWNTs,thereby making them attractive for applications in electronics,sensors,and other systems.This review discusses the synthesis and assembly of SWNTs into thin film architectures of various types and provides examples of their use in digital electronic circuits with levels of integration approaching 100 transistors and in analog radio frequency(RF)systems with operating frequencies up to several gigahertz,including transistor radios in which SWNT transistors provide all of the active functionality.The results represent important steps in the development of an SWNT-based electronics technology that could fi nd utility in areas such as fl exible electronics,RF analog devices and others that might complement the capabilities of established systems. 展开更多
关键词 Carbon nanotubes electronic devices thin-film transistors
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薄膜应力测量方法及影响因素研究进展 被引量:7
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作者 马一博 陈牧 +4 位作者 颜悦 刘伟明 韦友秀 张晓锋 李佳明 《航空材料学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2018年第1期17-25,共9页
随着薄膜电子器件的尺寸不断减小,薄膜应力成为薄膜器件失效的重要原因。薄膜应力不仅影响薄膜结构而且与薄膜光学、电学、力学等性质相关,因此,薄膜应力逐渐成为薄膜材料研究领域的热点之一。本文综述了薄膜应力的最新研究进展,对比分... 随着薄膜电子器件的尺寸不断减小,薄膜应力成为薄膜器件失效的重要原因。薄膜应力不仅影响薄膜结构而且与薄膜光学、电学、力学等性质相关,因此,薄膜应力逐渐成为薄膜材料研究领域的热点之一。本文综述了薄膜应力的最新研究进展,对比分析了基底曲率法、X射线衍射法、拉曼光谱法等常见的薄膜应力检测方法,概括了薄膜成分比例、基底类型、磁控溅射工艺参数(溅射功率、工作压力、基底温度)和退火等影响薄膜应力的因素。发现基底曲率法适合测量绝大部分薄膜材料,而X射线衍射法、拉曼光谱法只适合测量具有特征峰的材料,纳米压痕法需与无应力样品作对比实验。在薄膜制备和退火过程中,薄膜应力一般发生压应力和张应力的转化,且多个工艺参数共同影响薄膜应力,适当调节参数可使薄膜应力达到最小值甚至无应力状态。最后,结合薄膜应力当前的研究现状提出了未来可能的研究方向,即寻找不同材料体系薄膜应力的精确测量方法以及薄膜应力检测过程中面临的检测范围问题。 展开更多
关键词 薄膜应力 应力测量 应力控制 基底曲率法
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水下振源体内电子设备减振的优化设计
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作者 束理 《机械工程与自动化》 2005年第5期55-57,共3页
按非刚体隔振理论设计水下振源体内电子设备的减振装置,并依据其主要能量分布的频率范围进行减振装置结构的优化,改进了电子设备减振装置的动态特性,增强了其刚性。
关键词 振源体 频率 减振装置 电子设备 设计
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