多次全反射X射线荧光分析装置研制

文章报道了自行研制的多次全反射X射线荧光分析装置，着重介绍了分析装置光路系统的设计、组件、调试以及能谱分析系统，并对装置的性能测试结果进行了分析。实验结果表明，该装置的探测下限可达0．1 ng，样品分析的RSD为5％～16％，利用该装置对某核设施周边的大气样品进行了分析，结果令人满意。

高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制

报道了由地矿部全反射Ｘ射线荧光光谱技术组研制的全反射Ｘ射线荧光（ＴＸＲＦ）分析仪。着重介绍了样机的全反射装置、分析特点、技术参数和应用验证，与国内外同类仪器主要技术指标进行对比表明，该样机主要技术指标基本上达到国际同类仪器水平。列出了２３个元素的检出限范围（００８～０９２ｎｇ），测定Ｓｒ的线性动态范围在３个数量级，对地气样品的分析结果与原子吸收光谱法相符。方法精密度好，水样测定中各元素的ＲＳＤ（ｎ＝５）小于１０％。