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Ar等离子体清洗Cu箔靶的实验研究
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作者 陆晓曼 吴卫东 +3 位作者 孙卫国 张继成 郭强 唐永建 《四川大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2008年第2期367-370,共4页
极薄的铜箔是惯性约束聚变中常用的靶材之一,要求密度达到晶体理论密度、表面洁净、粗糙度低、润湿性好,用常规方法清洗厚度在2μm及以下的铜箔,难以达到要求、本实验采用Ar等离子体清洗2μm厚的铜箔,比较研究了Ar等离子清洗和常规... 极薄的铜箔是惯性约束聚变中常用的靶材之一,要求密度达到晶体理论密度、表面洁净、粗糙度低、润湿性好,用常规方法清洗厚度在2μm及以下的铜箔,难以达到要求、本实验采用Ar等离子体清洗2μm厚的铜箔,比较研究了Ar等离子清洗和常规清洗的不同,且对不同条件下清洗铜箔的表面性质进行研究.实验结果表明,常规有机溶剂清洗的铜箔,表面有微量的油污残留,暴露在空气中易氧化,经Ar等离子体清洗的铜箔,表面洁净、暴露在空气中不易氧化,Ar等离子体清洗10~20min,表面性质最佳,清洗彻底,润湿角明显减小(减小近20°),表面自由能增大(增大18.5%)、表面光洁度满足制靶要求. 展开更多
关键词 表面处理 Ar等离子体清洗 接触角 去油污
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