基于V93000 ATE性能测试方法的实现

针对SoC芯片ATE性能测试进行了研究,分析芯片性能测试的关键参数和典型测试类型(内部模块性能测试和接口数据流性能测试)。基于这两种测试类型,以“Date Rate”性能测试为例,分别进行了测试方法的实现。内部模块性能测试的实现,通过指示信号输出性能测试开始和结束波形,采用逆向思维通过“ERCT”获取代表性能运行时间的“Fail Cycle”数,然后对性能时间进行计算来获得性能测试值。接口数据流性能测试的实现,主要通过“Digital Capture”捕获接口数据,然后对接口数据进行处理和计算来获得性能测试值。上述性能测试方法及原理,在ATE测试应用中具有通用性,对于相同或相似的基于时间参数的芯片性能测试具有参考作用。

基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

SoC(System-on-a-Chip)芯片设计中,由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑,通常有一些端口不能进行测试复用的IP(Intellectual Property)核将不可避免地被集成在SoC芯片当中.对于端口非测试复用IP核,由于其端口不能被直接连接到ATE(Automatic Test Equipment)设备的测试通道上,由此,对端口非测试复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战.在本文当中,我们分别提出了一种基于V93000测试仪对端口非测试复用ADC(Analog-to-Digital Converter)以及DAC(Digita-l to-Analog Converter)IP核的性能参数测试方法.对于端口非测试复用ADC和DAC IP核,首先分别为他们开发测试程序并利用V93000通过SoC芯片的EMIF(External Memory Interface)总线对其进行配置.在对ADC和DAC IP核进行配置以后,就可以通过V93000捕获ADC IP核采样得到的数字代码以及通过V93000采样DAC IP核转换得到的模拟电压值,并由此计算ADC以及DAC IP核的性能参数.实验结果表明,本文分别提出的针对端口非测试复用ADC以及DAC IP核测试方案非常有效.

基于V93000测试系统的反熔丝FPGA向量压缩方法研究

V93000测试系统是一个集成电路测试设备,用来进行IC测试。对于复杂的集成电路,其测试向量数据庞大,由于V93000测试系统自身向量空间的限制,因此压缩测试向量具有十分重要的意义。该文主要从测试向量生成角度出发,提出一种自编向量重复脚本压缩与V93000的4X配置和Multiport方式相结合的办法来进行测试向量的压缩。该文以反熔丝FPGA测试为例子,通过此方法将测试向量压缩了20倍。

基于V93000的异步双端口静态存储器测试研究

随着计算机应用领域的不断发展,处理的信息量越来越多,对存储器的工作速度和容量要求也越来越高,异步双端口静态存储器在高速多处理系统中广泛应用。因此,研究异步双端口静态存储器测试具有十分重要意义。该文以IDT公司的IDT70V631S高速256K*18异步双端口静态存储器器件为例,介绍了异步双端口静态存储器的基本工作原理,阐述了基于V93000测试系统的MTP软件生成测试向量的方法,从而更高效、简便地对异步双端口静态存储器进行评价。

爱德万测试AVI64扩充V93000平台对智能器件的测试能力

全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试自1972年跨足半导体测试领域,目前已成为全球电子产业晶圆测试与分类解决方案领导者。爱德万测试一直以创新的实力领导业界发展,并坚持品质与可靠性至上的原则。为更好的服务全球客户,爱德万测试分别在日本、美国、德国设置研发中心,同时,在欧洲、新加坡、韩国、台湾地区及中国大陆均设有分公司,爱德万测试也非常看好并重视中国大陆半导体市场，

基于V93000 ATE的随机数采集检测方法

随机数器件是一种广泛应用于信息安全领域的重要半导体器件,随机数测试是判定随机数器件质量好坏的重要手段,随机数测试通常是基于板级的随机数采集和检测。本文实现了一种基于V93000测试仪的随机数采集检测方法,文中对ATE的随机数采集检测原理和具体方法进行了介绍,同时还提供了ATE随机数采集检测实例,进一步介绍该了方法的实现过程。

一种基于V93000的高速缓冲器测试方法

普通的缓冲器芯片频率大多只有1~20MHz,但是随着科学技术的不断发展,缓冲器芯片都朝着高速方向发展。这样对于保障芯片质量的集成电路测试而言也提出了新的要求。该文以TI公司的SN74LVC 2T45为例,该芯片最大频率可达210MHz,针对功能测试、部分直流测试、交流测试三个方向,介绍了一种基于V93000测试机台的高速缓冲器测试方法。

V93000自动化测试技术研究

随着集成电路芯片的快速发展,相应的测试技术也在不断地提高,随之而来测试机功能也越来越高端复杂。V93000是一种高端的ATE测试机,近年来产量需求不断增加,但是目前常规的人工测试已无法完全满足需求,因此需一种新型的测试方式来扩大产量。提出了一种V93000自动化测试的方式,首先,对该自动测试方法的硬件部分包括插座选型、PCB板设计和KIT的制作等进行了介绍;然后,阐述了测试程序开发的内容;最后,展示了自动化测试的具体实现过程,对于提高V93000测试效率和准确性具有重要的意义。

提升高端产能“硬实力”,广东利扬大规模采购爱德万V93000测试设备

日前,在于上海举办的SEMICON China 2019期间,广东利扬芯片测试股份有限公司(利扬芯片)与爱德万测试(中国)管理有限公司(爱德万)正式签署了大规模设备采购意向,利扬芯片将向爱德万购买大批量的V93000测试设备。

Advantest推出V93000 Wave Scale Millimeter解决方案新产品

日本Advantest公司是半导体彳了业自动测试设备(ATE)的领先制造商,也是电子仪器和系统设计与生产的测量仪器的主要制造商。该公司的领先系统和产品被集成地运用于世界上最先进的半导体生产线。公司的另一项重点工作是针对得益于纳米技术和太赫技术进步的新兴市场进行研发,并已经推出了光掩模制造所必需的多视觉计量扫描电子显微镜,以及开创性的三维成像和分析工具。2019 年5月7日,Advantest扩展了其V93000系统,通过单一可扩展平台(平台架构针对多频带频率提供高并行度和多点测试功能),以具有成本效益的方式测试新一代5G-NR (最高达7OGHz)射频装置及模块。

基于Cortex主控芯片的MCU测试验证方法研究

随着国家在芯片技术方面投入的加大,越来越多的国产化芯片实现量产,测试验证成为确保芯片设计与工艺质量可靠性的关键环节,可以提前判定器件功能和参数的可靠性。基于Cortex-M3内核的微处理器(MCU)芯片和V93000自动测试设备研究了一种MCU测试验证方法及流程。通过测试母版原理设计和测试向量生成,测试分析了芯片功能和关键直流参数,形成了一套芯片测试验证流程及方法,对于MCU芯片国产化测试验证具有一定的借鉴意义。

基于集成电路测试程序移植开发技术研究

主要介绍了将V93000 Pin Scale系列SmarTest 6版开发环境中已完成的测试程序,移植开发至Smart Scale系列SmarTest 7版的实现方法。进一步地探讨了测试程序移植过程中普遍存在的技术问题及对应解决方法,通过对该项技术的研究可以让企业根据生产测试需求优化不同型号V93000设备的机时,缩短生产周期,节约生产成本,提升企业产值。

一种半并行多芯片测试方法

为降低射频收发芯片测试成本,在量产测试时需要尽可能提高芯片并行测试的数量。但是由于测试系统硬件限制,当并行测试的芯片数量>4时,测试系统通常实现不了完全意义上的并行测试。通过测试电路板的设计、测试程序的开发和测试程序的调试与优化,对射频测试技术进行了深入研究,提出了一种兼顾板级元件和V93000测试系统软/硬件特点的方法,使测试系统实现近乎全并行状态,采用此方法进行RF射频收发芯片测试,可有效地提高测试效率MSE并降低测试成本。

用于测试FPGA的Multi-Port下载方式

研究利用V93000测试平台对FPGA芯片实现下载,该测试平台通过自身通道存储空间来存储测试向量,以Multi-Port方式进行下载。并以Xilinx的Virtex-Ⅱ Pro系列XC2VP30芯片进行了实例验证,实验表明此种方式在实际应用中解决了测试平台向量许可有限的弊端,也可用于其他FPGA芯片的测试、研究与验证。

基于STILLink平台的测试向量转换研究

STILLink平台是以STIL语言为核心的测试向量转换平台,支持多种格式的相互转换方案。STILLink平台的多种转换方案,大大缩短了从设计、流片到测试的全过程。STIL语言提供了一种数字测试生成工具与测试系统之间的接口,宗旨为寻求一种数字测试信息从测试生成工具到测试系统的转换方案。在论文中,将以电平转换器SY100ELT24为例,重点介绍WGL格式文件转换成STIL格式文件的方法,以及STIL格式文件向V93000测试程序的转换过程。

一种异步FIFO的Read/Write DataFlow Through功能测试方法

论文提出了一种异步FIFO(First Input First Output)特殊功能测试方法,该方法通过功能测试与交流参数测试相结合的方式完成了对Read Data Flow Through和Write Data Flow Through的功能测试,从而填补了对此类器件该项测试上的空白,提高了测试覆盖率,提高了异步FIFO测试能力。且在执行测试过程中,采用Spec Search方法测试交流参数t WEF和tRFF来验证两种模式的功能,有效地提高了测试效率。

芯片ATE连通性系统检测法的研究与实现

随着芯片集成度的增加及芯片管脚的增多,芯片封装及测试系统的复杂性也随之提升,传统单一的通断检测已经不能快速定位芯片封装键合和测试系统连接性等故障。为解决上述问题,基于通用的V93000 ATE测试平台,研究和实现了一种ATE连通性系统检测法,该方法包括了三个步骤:PPMU参数测试、Walking Z功能测试和Power-Short电源测试,通过此种系统的连通性检测方法,实现对被测芯片Opens-Shorts故障和测试系统本身故障的快速定位及问题分析。

爱德万2014年目标:实现销售额30亿美元

爱德万测试（Advantest）是一家日本测试公司，2011年7月开始并购专注于电子测量设备及半导体测试系统的自动化测试设备（ATE）供应商惠瑞捷（Verigy），并于今年4月1日正式完成并购，自此爱德万测试成为全球最大的半导体测试设备厂商之一。

全新可升级ATE保障未来三代器件需求

存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案。