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适用于原子力显微镜先进扫描模式的学习控制系统 被引量:9
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作者 方勇纯 张玉东 贾宁 《控制理论与应用》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第5期557-562,共6页
原子力显微镜(AFM)是进行纳米测量和操作的一种重要工具.针对原子力显微镜系统,论文提出了一种基于学习控制的先进扫描模式.具体而言,首先构造了一种适用于AFM的学习控制系统,它由对于扫描管动态特性的最优逆补偿环节和对于样品表面特... 原子力显微镜(AFM)是进行纳米测量和操作的一种重要工具.针对原子力显微镜系统,论文提出了一种基于学习控制的先进扫描模式.具体而言,首先构造了一种适用于AFM的学习控制系统,它由对于扫描管动态特性的最优逆补偿环节和对于样品表面特性的学习算法两部分组成.然后,针对测量过程中扫描线之间的偏移,通过将常见的比例-积分控制算法与这种学习控制相结合,实现了一种基于学习算法的先进扫描模式.论文将这种模式应用于周期性样品来测试其性能,仿真和实验结果表明它可以显著提高测量的速度和精度,同时将样品与探针针尖的距离控制在一个合理的范围之内,以避免损坏样品或探针.这种先进扫描模式可以应用于对快速生物过程的实时监测,同时也可以用来完成重复刻写等纳米操作. 展开更多
关键词 原子力显微镜 快速扫描模式 最优逆控制 学习控制
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振动模式扫描极化力显微镜及其应用 被引量:1
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作者 李晓军 孙洁林 +3 位作者 何品刚 方禹之 李民乾 胡钧 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第4期344-351,共8页
振动模式扫描极化力显微镜采用一种新的扫描探针显微成像方式 ,它可以在极化力介导的非接触方式和轻敲方式之间自由切换。在极化力介导的非接触方式中 ,极化力叠加在范德华力上 ,克服了一般的原子力显微镜(AFM)非接触模式中因成像力程... 振动模式扫描极化力显微镜采用一种新的扫描探针显微成像方式 ,它可以在极化力介导的非接触方式和轻敲方式之间自由切换。在极化力介导的非接触方式中 ,极化力叠加在范德华力上 ,克服了一般的原子力显微镜(AFM)非接触模式中因成像力程太短而不容易稳定的缺点 ;通过调节针尖的高度 ,从极化力介导的非接触方式进入到极化力介导的轻敲方式 ,又能部分消除AFM轻敲模式中毛细力的干扰 ,还可以用比AFM轻敲模式中最小稳定成像力更小的力进行成像。针尖的高度可以通过调节Asp(Amplitudesetpoint)或插入扫描高度参数 (liftscanheight)来控制 ,这一方法简单易行。利用这一模式对胶体金颗粒和DNA的高度进行测量 ,在一定程度上证明了轻敲模式中针尖压力的确会造成柔软生物样品的变形。 展开更多
关键词 振动模式扫描极化力显微镜 插入扫描 肢体金 驱动频率 偏置电压 图像对比度 DNA测试
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间歇模原子力显微镜扫描探针的受迫振动解 被引量:1
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作者 邵继红 吴昆裕 《淮南工业学院学报》 2002年第1期59-61,共3页
提出了一个间隙模原子力显微镜全动态工作的模型 ,用参数变换和模式展开方法 ,得到了具有粘滞阻尼和分段线性相互作用力的扫描探针的受迫弯曲振动微分方程的分析解 ,间歇模原子力显微镜扫描探针的受迫振动解 。
关键词 间歇模 原子力显微镜 扫描探针 受迫振动解
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间歇模原子力显微镜扫描探针的非线性振动(英文)
4
作者 邵继红 吴昆裕 《中国科学技术大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第2期247-253,共7页
提出了一个用于描述间歇模原子力显微镜扫描探针全动态工作的非线性受迫弯曲振动模型 ,这个模型考虑了一个附加于扫描探针上的质量和任意类型的探针 样品表面间的非线性相互作用力 .用参数变换和模式展开方法求得了间歇模原子力显微镜... 提出了一个用于描述间歇模原子力显微镜扫描探针全动态工作的非线性受迫弯曲振动模型 ,这个模型考虑了一个附加于扫描探针上的质量和任意类型的探针 样品表面间的非线性相互作用力 .用参数变换和模式展开方法求得了间歇模原子力显微镜扫描探针非线性受迫弯曲振动的解 。 展开更多
关键词 间歇模 原子力显微镜 扫描探针 非线性振动 非线性受迫弯曲振动模型 数值模拟
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淀粉颗粒形貌表征研究进展 被引量:4
5
作者 闫溢哲 周亚萍 +2 位作者 刘华玲 史苗苗 刘延奇 《食品工业科技》 CAS CSCD 北大核心 2018年第8期318-323,共6页
淀粉是一种非常重要的营养物质,同时也是重要的工业原料。在淀粉应用研究中,淀粉的加工及改性一直是研究的热点。近些年,人们对淀粉改性后结构及性能进行了深入的研究,发现淀粉改性对其颗粒形貌有明显影响,导致其性能有一定程度改变。因... 淀粉是一种非常重要的营养物质,同时也是重要的工业原料。在淀粉应用研究中,淀粉的加工及改性一直是研究的热点。近些年,人们对淀粉改性后结构及性能进行了深入的研究,发现淀粉改性对其颗粒形貌有明显影响,导致其性能有一定程度改变。因此,对淀粉改性前后颗粒形貌的表征尤为关键。本文概述了目前淀粉颗粒形貌的表征方法,并对其进行了比较,有助于大家正确选择合适的表征方法。 展开更多
关键词 淀粉 颗粒形貌 扫描电子显微镜 透射电子显微镜 偏振光显微镜 激光扫描共聚焦显微镜 原子力显微镜
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表/界面水的扫描探针技术研究进展 被引量:2
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作者 尤思凡 孙鲁晔 +2 位作者 郭静 裘晓辉 江颖 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2019年第1期123-144,共22页
表面和界面水在自然界、人们的日常生活以及现代科技中无处不在.它在物理、化学、环境学、材料学、生物学、地质学等诸多基础学科和应用领域起到至关重要的作用.因此,表面和界面水的功能与特性的研究,是水基础科学的一项核心任务.然而,... 表面和界面水在自然界、人们的日常生活以及现代科技中无处不在.它在物理、化学、环境学、材料学、生物学、地质学等诸多基础学科和应用领域起到至关重要的作用.因此,表面和界面水的功能与特性的研究,是水基础科学的一项核心任务.然而,由于水分子之间氢键相互作用的复杂性,及其与水-固界面相互作用的竞争,使得表(界)面水对于局域环境的影响非常敏感,往往需要深入到分子层次研究其微观结构和动力学过程.近年来,新型扫描探针技术的发展使得人们可以在单分子甚至亚分子尺度上对表(界)面水展开细致的实空间研究.本文着重介绍几种代表性的扫描探针技术及其在表(界)面水体系中的应用,包括:超高真空扫描隧道显微术、单分子振动谱技术、电化学扫描隧道显微术和非接触式原子力显微术.此外,本文还将对表(界)面水扫描探针技术研究面临的挑战和未来发展方向进行了展望. 展开更多
关键词 表/界面水 扫描隧道显微镜 非接触式原子力显微镜 单分子振动谱
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扫描近场光学显微镜中探针样品间距控制方法 被引量:1
7
作者 王昭 吴世法 《微纳电子技术》 CAS 2008年第11期662-667,共6页
在动态原子力与近场光学扫描显微镜中,探针与样品的间距关系到分辨率以及扫描速度这两个最重要参数的性能。在对几种主要的动态原子力/扫描近场光学组合显微镜的探针/样品间距控制模式分析的基础上,认为提高探针Q值是提高扫描显微镜分... 在动态原子力与近场光学扫描显微镜中,探针与样品的间距关系到分辨率以及扫描速度这两个最重要参数的性能。在对几种主要的动态原子力/扫描近场光学组合显微镜的探针/样品间距控制模式分析的基础上,认为提高探针Q值是提高扫描显微镜分辨率的有效方法。但是,对采用检测控制探针振幅模式,期望在提高分辨率的同时加快扫描成像速度是不可实现的,因而限制了其发展的空间。而在检测控制探针频率模式下,提高探针Q值,可有效提高扫描探针显微镜的分辨率,且不会制约扫描成像速度的提高。该结论为将来的纳米操作和纳米超高密度光存储的实用化提供了可能,对大连理工大学近场光学与纳米技术研究所研制的原子力与光子扫描隧道组合显微镜(AF/PSTM)的改进和产业化具有积极意义。 展开更多
关键词 动态原子力显微镜 近场扫描光学显微镜 间距控制 控制模式 扫描速度 分辨率
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激光检测原子力显微镜的改进——振荡工作模式
8
作者 徐海 韩宝善 +2 位作者 戴长春 黄桂珍 王培森 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 1999年第1期1-5,共5页
针对一些特殊材料表面形貌的检测需要 ,在原有国产商用激光检测原子力显微镜的基础上 ,设计研制了适用性更广、功能更强的原子显微镜。在不提高驱动电压的前提下 ,采用改进的扫描管 ,将扫描范围从 15μm× 15μm提高到了 50 μm... 针对一些特殊材料表面形貌的检测需要 ,在原有国产商用激光检测原子力显微镜的基础上 ,设计研制了适用性更广、功能更强的原子显微镜。在不提高驱动电压的前提下 ,采用改进的扫描管 ,将扫描范围从 15μm× 15μm提高到了 50 μm× 50 μm ;改进了原有的微探针扫描模式 ,在探针上施加一驱动的简谐振荡信号 ,使探针发生振荡。由于存在着表面的力梯度 ,当样品与探针距离发生振荡变化时 ,针尖振荡的振幅、频率和位相都会随之改变。用电子信号反馈电路探测此变化 。 展开更多
关键词 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 振荡模式 激光
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振动模式扫描极化力显微镜对氧化石墨烯热还原过程的实时原位监控
9
作者 申月 张益 胡钧 《电子显微学报》 CAS CSCD 2013年第2期95-100,共6页
通过调控GO(graphene oxide,GO)的还原程度可以得到电学性质不同的石墨烯,能更广泛地应用于纳米电子器件的构造中。本文利用振动模式扫描极化力显微镜(vibrating scanning polarization force microscopy,VSPFM)实时监控了氧化石墨烯的... 通过调控GO(graphene oxide,GO)的还原程度可以得到电学性质不同的石墨烯,能更广泛地应用于纳米电子器件的构造中。本文利用振动模式扫描极化力显微镜(vibrating scanning polarization force microscopy,VSPFM)实时监控了氧化石墨烯的热还原反应过程。实验中发现GO的热还原启动逐点发生,在同一片中间还原态GO上的局域介电常数分布不均匀,而不同片的GO还原反应的进程也有差别。发现GO和还原的GO(reduced grapheneoxide,rGO)在VSPFM中呈现出不同的表观高度,由此可以在云母和玻璃以及同一片GO上直接辨别GO和rGO。这种实时原位监控单片层GO的各个还原状态的方法将推动它在纳米电子学领域的多种应用。 展开更多
关键词 振动模式扫描极化力显微镜 氧化石墨烯 局域介电常数 纳米结构图案
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原子力显微镜在DNA研究中的应用 被引量:1
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作者 郭云昌 蔡颖谦 中岛秀郎 《现代科学仪器》 2005年第3期71-72,共2页
原子力显微镜作为一种新型的表面表征手段已经得到了各个方面的应用,本文探索了AFM在DNA表面结构中的研究方法,讨论了AFM在研究DNA中优势。
关键词 原子力显微镜 DNA 动态模式 扫描电镜
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散射型近场扫描光学显微镜的探针振动参数优化研究 被引量:1
11
作者 彭涛 朱亦鸣 游冠军 《光学仪器》 2019年第2期60-65,共6页
基于原子力显微镜平台设计了可见.近红外波段的散射型近场扫描光学显微镜,通过理论模型计算和实验测量,分析了散射探针振动的调制振幅和扫描反馈幅值对近场信号的影响。研究表明:与探针针尖尺寸相近的调制振幅有利于抑制背景散射噪声及... 基于原子力显微镜平台设计了可见.近红外波段的散射型近场扫描光学显微镜,通过理论模型计算和实验测量,分析了散射探针振动的调制振幅和扫描反馈幅值对近场信号的影响。研究表明:与探针针尖尺寸相近的调制振幅有利于抑制背景散射噪声及优化近场信号的信噪比;当探针扫描反馈幅值与自由空间调制振幅之比大于90%时,可基本消除探针扫描过程中非简谐振动对近场成像测量的影响。 展开更多
关键词 散射型近场扫描光学显微镜 原子力显微镜 振动振幅 反馈幅值
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基于原子力显微镜动力学模型的新型接触式扫描成像策略(英文)
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作者 刘存桓 方勇纯 +2 位作者 樊志 王超 武毅男 《控制理论与应用》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第11期1920-1928,共9页
面向高速高精度原子力显微镜(AFM)的扫描成像策略是当今微纳米控制领域的热点问题.本文设计了一种新型的原子力显微镜接触式扫描算法,该算法充分挖掘了AFM压电陶瓷运动平台和微悬臂的动力学特性,通过对微悬臂偏转角进行跟踪控制以达到AF... 面向高速高精度原子力显微镜(AFM)的扫描成像策略是当今微纳米控制领域的热点问题.本文设计了一种新型的原子力显微镜接触式扫描算法,该算法充分挖掘了AFM压电陶瓷运动平台和微悬臂的动力学特性,通过对微悬臂偏转角进行跟踪控制以达到AFM高速高精度成像的目的.在动力学建模方面,本文提出了一种新颖的基于AFM压电陶瓷运动平台动态方程及微悬臂动态特性的复合动力学模型,该模型所构建的动力学系统可以通过压电陶瓷的输入电压对微悬臂偏转角进行精确控制.在此基础上,本文设计了一种新型的图像融合算法,利用AFM正反向扫描得到的两幅图像进行融合匹配,能够较好地消除AFM控制周期暂态特性所带来的图像畸变,提高AFM扫描成像准确度.本文所提出扫描成像策略的有效性在AFM实验平台上进行了验证,实验结果表明此成像策略能够在较高扫描频率下得到较为理想的成像效果.最后通过对比实验将这种方法与传统接触式扫描算法的成像效果进行了比较,结果表明对比传统方法本文所提出的AFM成像策略可以更好地保证成像速度和精确度. 展开更多
关键词 原子力显微镜 接触式扫描 动力学建模 压电陶瓷 非线性控制
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Contrast Reversal of Topography Artifacts in a Transmission SNOM
13
作者 李智 王树峰 +1 位作者 张家森 龚旗煌 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2005年第9期2186-2189,共4页
We demonstrate the contrast reversal behaviour of topography artifacts by changing the diameter of the collection diaphragm in a transmission scanning near-field optical microscopy (SNOM). This originates from the c... We demonstrate the contrast reversal behaviour of topography artifacts by changing the diameter of the collection diaphragm in a transmission scanning near-field optical microscopy (SNOM). This originates from the change of the approach curves. Such contrast reversal phenomenon is used to distinguish the artifact signal from the true optical signal of the SNOM image. We also show that continuously changing the diaphragm to a proper diameter can greatly reduce topography artifacts. 展开更多
关键词 scanning OPTICAL microscopy mode RESOLUTION force REFLECTION
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Observation of atomic steps on CaCO_3 crystal surface
14
作者 Sun Jie-Lin Hu Jun +2 位作者 Zhang Yi Chen Sheng-Fu Ouyang Zhen-Qian and Li Min-Qian (Shanghai Institute of Nuclear Research, the Chinese Academy of Sciences, Shanghai 201800 ) 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 1998年第2期90-91,共2页
By using scanning polarization force microscopy,the deliquescence process and the atomic steps on the cleavage surface of CaCO3 in air were studied in situ.Under an exposure to medium umidity(-57%),the sloiw step move... By using scanning polarization force microscopy,the deliquescence process and the atomic steps on the cleavage surface of CaCO3 in air were studied in situ.Under an exposure to medium umidity(-57%),the sloiw step movement has been observed. 展开更多
关键词 CaCO3晶体表面 原子阶跃 观测
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扫描隧道显微术中的微分谱学及其应用 被引量:2
15
作者 王炜华 王兵 侯建国 《物理》 CAS 北大核心 2006年第1期27-33,共7页
文章介绍了扫描隧道显微术中微分谱学的原理及其在实验中的诸多应用.微分谱(dI/dV谱)和dI/dV成像可用来研究电子局域态密度在能量和空间的分布,即微分谱固定空间一点,反映电子态密度以能量为变量的分布;而dI/dV图像则反映某给定能量的... 文章介绍了扫描隧道显微术中微分谱学的原理及其在实验中的诸多应用.微分谱(dI/dV谱)和dI/dV成像可用来研究电子局域态密度在能量和空间的分布,即微分谱固定空间一点,反映电子态密度以能量为变量的分布;而dI/dV图像则反映某给定能量的电子局域态密度以空间为变量的分布.二次微分谱(d2I/dV2谱)和二次微分成像可以用来反映分子的非弹性隧穿过程,从而研究分子的振动态. 展开更多
关键词 扫描隧道显微术 微分谱学 表面及纳米结构的电子态 电子非弹性隧穿 分子振动模
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Review: Tip-based vibrational spectroscopy for nanoscale analysis of emerging energy materials 被引量:1
16
作者 Amun JARZEMBSKI Cedric SHASKEY Keunhan PARK 《Frontiers in Energy》 SCIE CSCD 2018年第1期43-71,共29页
Vibrational spectroscopy is one of the key instrumentations that provide non-invasive investigation of structural and chemical composition for both organic and inorganic materials. However, diffraction of light funda-... Vibrational spectroscopy is one of the key instrumentations that provide non-invasive investigation of structural and chemical composition for both organic and inorganic materials. However, diffraction of light funda- mentally limits the spatial resolution of far-field vibrational spectroscopy to roughly half the wavelength. In this article, we thoroughly review the integration of atomic force microscopy (AFM) with vibrational spectroscopy to enable the nanoscale characterization of emerging energy materials, which has not been possible with far-field optical techniques. The discussed methods utilize the AFM tip as a nanoscopic tool to extract spatially resolved electronic or molecular vibrational resonance spectra of a sample illuminated by a visible or infrared (IR) light source. The absorption of light by electrons or individual functional groups within molecules leads to changes in the sample's thermal response, optical scattering, and atomic force interactions, all of which can be readily probed by an AFM tip. For example, photothermal induced resonance (PTIR) spectroscopy methods measure a sample's local thermal expansion or temperature rise. Therefore, they use the AFM tip as a thermal detector to directly relate absorbed IR light to the thermal response of a sample. Optical scattering methods based on scanning near-field optical microscopy (SNOM) correlate the spectrum of scattered near-field light with molecular vibrational modes. More recently, photo-induced force microscopy (PiFM) has been developed to measure the change of the optical force gradient due to the light absorption by molecular vibrational resonances using AFM's superb sensitivity in detecting tip-sample force interactions. Such recent efforts successfully breech the diffraction limit of light to provide nanoscale spatial resolution of vibrational spectroscopy,which will become a critical technique for characterizing novel energy materials. 展开更多
关键词 vibrational spectroscopy atomic force micro-scopy photo-thermal induced resonance scanning near-field optical microscopy tip-enhanced Raman spectro-scopy photo-induced force microscopy molecular reso-nances surface phonon polaritons energy materials
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