基于虚拟JTAG测试方法的研究

随着FPGA复杂度的提高,验证过程成为FPGA设计周期中的关键部分。文章先简介了最新的虚拟JTAG测试方法,然后对用户控制逻辑和Tcl的应用等方面进行了分析,并结合具体实例详细说明了虚拟JTAG的使用方式。实验结果表明运用此种测试方法,可以灵活进行系统级片内调试,节约测试成本,加快设计验证进程。

FPGA的虚拟JTAG技术对并口FLASH快速编程

集成数字电路板上经常有FLASH器件需要编程,在工厂批量生产中往往要占据较多时间。特别是对于挂载在可编程器件(FPGA)的并行接口的FLASH,使用边界扫描的方法靠移位数据来仿真FLASH读写时序,从而完成FLASH器件编程的方法相当低效费时。应用了虚拟JTAG技术后,就不需要进行整个边界引脚的移位处理,可以一次性从JTAG链上加载较大的数据块,再配合并口FLASH的接口逻辑进行编程,有效地提高了效率。

基于SystemVerilog DPI的ARM SoC虚拟调试验证平台的设计

提出和实现了一种基于System Verilog直接编程接口(DPI)的SoC调试系统验证平台.该平台利用DPI将GDB调试器和目标芯片的验证Testbench集成在一起,实现了ARM7 SoC调试系统的RTL级调试验证.验证平台能够在FPGA原型验证之前发现和定位调试系统的错误点,缩短验证周期和提高验证效率.

一种双核SoC调试系统的设计与验证

调试系统的设计和验证是多核SoC设计中的重要环节。基于某双核SoC的设计,提出一个片上硬件调试构架,利用FPGA构建该调试系统的硬件验证平台。双核SoC调试系统验证平台利用System Verilog DPI,将RealView调试器、Keil C51及目标芯片的验证testbench集成在一起,实现了双核SoC调试系统的RTL级调试验证。利用该平台,在RTL仿真验证阶段可方便地对ARM和8051核构成的双核SoC进行调试,解决仿真中出现的问题,从而有效缩短设计周期,并提高验证效率。该双核SoC调试系统验证平台的实现对其他系统芯片设计具有一定的参考价值。