梨表面色泽的可见／近红外漫反射光谱无损检测研究

应用可见／近红外漫反射光谱对梨表面色泽进行无损检测研究．在350～1800nm光谱区间，结合梨的原始吸收光谱和标准化光谱，采用多元线性回归（MLR）、主成分回归（PCR）和偏最小二乘回归（PLSR）三种数学校正算法进行了定量对比分析．原始吸收光谱应用偏最小S-乘回归建立的定标模型对24个未知样品的预测结果是：L^＊、a^＊、b^＊预测均方差分别为1．4251，0．4569和0．9497；相对预测偏差分别为3．7404％，3．3571％和2．5877％．实验结果表明：可见／近红外光谱技术对梨表面色泽的无损检测具有可行性．